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An Implementation of Hardware-Accelerated Serial Interface of IoT Gateway for Enabling Machine-Type Communication: A Case Study of Networking IR Controllable Home Appliances
An Implementation of Hardware-Accelerated Serial Interface of IoT Gateway for Enabling Machine-Type Communication: A Case Study of Networking IR Controllable Home Appliances
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An Implementation of Hardware-Accelerated Serial Interface of IoT Gateway for Enabling Machine-Type Communication: A Case Study of Networking IR Controllable Home Appliances

Tsai, Wen-Chung ; Zhu, Shi-Xiang ; Huang, Nien-Ting ; Chiang, Mao-Lun Pau, Giovanni ; Giovanni Pau

Journal of Computer Networks and Communications, 2019-01, Vol.2019, p.1-13 [Periódico revisado por pares]

New York: Hindawi

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Counterfeit Integrated Circuits: A Rising Threat in the Global Semiconductor Supply Chain
Counterfeit Integrated Circuits: A Rising Threat in the Global Semiconductor Supply Chain
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Counterfeit Integrated Circuits: A Rising Threat in the Global Semiconductor Supply Chain

Guin, Ujjwal ; Huang, Ke ; DiMase, Daniel ; Carulli, John M. ; Tehranipoor, Mohammad ; Makris, Yiorgos

Proceedings of the IEEE, 2014-08, Vol.102 (8), p.1207-1228 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
A Review and Analysis of Automatic Optical Inspection and Quality Monitoring Methods in Electronics Industry
A Review and Analysis of Automatic Optical Inspection and Quality Monitoring Methods in Electronics Industry
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A Review and Analysis of Automatic Optical Inspection and Quality Monitoring Methods in Electronics Industry

Ebayyeh, Abd Al Rahman M. Abu ; Mousavi, Alireza

IEEE access, 2020, Vol.8, p.183192-183271 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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4
TPAD: Hardware Trojan Prevention and Detection for Trusted Integrated Circuits
TPAD: Hardware Trojan Prevention and Detection for Trusted Integrated Circuits
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TPAD: Hardware Trojan Prevention and Detection for Trusted Integrated Circuits

Wu, Tony F. ; Ganesan, Karthik ; Hu, Yunqing Alexander ; Wong, H.-S. Philip ; Wong, Simon ; Mitra, Subhasish

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2016-04, Vol.35 (4), p.521-534 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Features, Design Tools, and Application Domains of FPGAs
Features, Design Tools, and Application Domains of FPGAs
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Features, Design Tools, and Application Domains of FPGAs

Rodriguez-Andina, J.J. ; Moure, M.J. ; Valdes, M.D.

IEEE transactions on industrial electronics (1982), 2007-08, Vol.54 (4), p.1810-1823 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Multicast-Based Testing and Thermal-Aware Test Scheduling for 3D ICs with a Stacked Network-on-Chip
Multicast-Based Testing and Thermal-Aware Test Scheduling for 3D ICs with a Stacked Network-on-Chip
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Multicast-Based Testing and Thermal-Aware Test Scheduling for 3D ICs with a Stacked Network-on-Chip

Dong Xiang ; Chakrabarty, Krishnendu ; Fujiwara, Hideo

IEEE transactions on computers, 2016-09, Vol.65 (9), p.2767-2779 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Security-Aware 2.5D Integrated Circuit Design Flow Against Hardware IP Piracy
Security-Aware 2.5D Integrated Circuit Design Flow Against Hardware IP Piracy
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Security-Aware 2.5D Integrated Circuit Design Flow Against Hardware IP Piracy

Xie, Yang ; Bao, Chongxi ; Srivastava, Ankur

Computer (Long Beach, Calif.), 2017-05, Vol.50 (5), p.62-71 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Low-Cost High-Performance VLSI Architecture for Montgomery Modular Multiplication
Low-Cost High-Performance VLSI Architecture for Montgomery Modular Multiplication
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Low-Cost High-Performance VLSI Architecture for Montgomery Modular Multiplication

Kuang, Shiann-Rong ; Wu, Kun-Yi ; Lu, Ren-Yao

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2016-02, Vol.24 (2), p.434-443 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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An Efficient O( N ) Comparison-Free Sorting Algorithm
An Efficient O( N ) Comparison-Free Sorting Algorithm
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An Efficient O( N ) Comparison-Free Sorting Algorithm

Abdel-Hafeez, Saleh ; Gordon-Ross, Ann

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2017-06, Vol.25 (6), p.1930-1942 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Data-Driven Technology in Event-Based Vision
Data-Driven Technology in Event-Based Vision
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Data-Driven Technology in Event-Based Vision

Sun, Ruolin ; Shi, Dianxi ; Zhang, Yongjun ; Li, Ruihao ; Li, Ruoxiang Volchenkov, Dimitri ; Dimitri Volchenkov

Complexity (New York, N.Y.), 2021, Vol.2021, p.1-19 [Periódico revisado por pares]

Hoboken: Hindawi

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