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Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
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Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis

Alvin Warren Czanderna 1930-; Theodore E Madey; Cedric J Powell

New York Plenum Press c1998

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  1. Powell, C
  2. Czanderna, A
  3. Madey, T
  4. Powell, C

Neste Assunto:

  1. Materials
  2. Engenharia
  3. Surfaces (Technology)
  4. Surfaces (Technology)–Analysis
  5. Surfaces (Technology)

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