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Refinado por: Nome da Publicação: Journal Of Instrumentation

Result Number	Material Type	Record Details and Options
1	Material Type: Artigo	Reflectivity and PDE of VUV4 Hamamatsu SiPMs in liquid xenon Nakarmi, P. ; Soma, A.K. ; Retière, F. ; Kharusi, S. Al ; Anton, G. ; Badhrees, I. ; Barbeau, P.S. ; Beck, D. ; Belov, V. ; Bhatta, T. ; Blatchford, J. ; Breur, P.A. ; Brodsky, J.P. ; Brown, E. ; Mamahit, S. Byrne ; Caden, E. ; Cao, G.F. ; Chana, B. ; Charlebois, S.A. ; Cleveland, B. ; Coon, M. ; Craycraft, A. ; Darroch, L. ; Croix, A. De St ; Mesrobian-Kabakian, A. Der ; Vacri, M.L. Di ; Dragone, A. ; Echevers, J. ; Edaltafar, F. ; Elbeltagi, M. ; Fairbank, D. ; Fairbank, W. ; Farine, J. ; Ferrara, S. ; Fontaine, R. ; Fucarino, A. ; Gautam, P. ; Giacomini, G. ; Goeldi, D. ; Gratta, G. ; Hansen, E.V. ; Heffner, M. ; Hoppe, E.W. ; Hößl, J. ; House, A. ; Jamil, A. ; Jiang, X.S. ; Karelin, A. ; Kaufman, L.J. ; Koffas, T. ; Krücken, R. ; Kuchenkov, A. ; Lan, Y. ; Larson, A. ; Leach, K.G. ; Lenardo, B.G. ; Leonard, D.S. ; Li, G. ; Licciardi, C. ; Lv, P. ; Massacret, N. ; Medina-Peregrina, M. ; Mong, B. ; Murray, K. ; Natzke, C.R. ; Newby, R.J. ; Ning, Z. ; Nusair, O. ; Orrell, J.L. ; Ortega, G.S. ; Overman, C.T. ; Piepke, A. ; Radeka, V. ; Raguzin, E. ; Richman, M. ; Runge, J. ; Saldanha, R. ; Sangiorgio, S. ; Stiegler, T. ; Tarka, M. ; Todd, J. ; Totev, T.I. ; Tsang, R. ; Vachon, F. ; Vivo-Vilches, C. ; Vuilleumier, J.-L. ; Wager, T. ; Walent, M. ; Wang, Q. ; Ward, M. ; Watkins, J. ; Weber, M. ; Wu, S.X. ; Wu, W.H. ; Wu, X. ; Xia, Q. ; Yang, H. ; Zeldovich, O. ; Zhao, J. ; Ziegler, T. Journal of instrumentation, 2020-01, Vol.15 (1), p.P01019-P01019 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo	Characterization of an Ionization Readout Tile for nEXO Jewell, M. ; Schubert, A. ; Cen, W.R. ; Dalmasson, J. ; DeVoe, R. ; Gratta, G. ; Jamil, A. ; Li, G. ; Odian, A. ; Patel, M. ; Qiu, D. ; Albert, J.B. ; Anton, G. ; Badhrees, I. ; Beck, D. ; Belov, V. ; Bourque, F. ; Brodsky, J. P. ; Burenkov, A. ; Cao, G.F. ; Cao, L. ; Chambers, C. ; Charlebois, S.A. ; Coon, M. ; Craycraft, A. ; Cree, W. ; Côté, M. ; Daniels, T. ; Daugherty, S.J. ; Daughhetee, J. ; Delaquis, S. ; Dilling, J. ; Ding, Y.Y. ; Dolinski, M.J. ; Dragone, A. ; Fairbank, W. ; Feyzbakhsh, S. ; Fontaine, R. ; Fudenberg, D. ; Hansen, E.V. ; Harris, D. ; Hasan, M. ; Heffner, M. ; House, A. ; Ito, Y. ; Iverson, A. ; Jiang, X.S. ; Johnston, S. ; Karelin, A. ; Kaufman, L.J. ; Koffas, T. ; Kravitz, S. ; Krücken, R. ; Kuchenkov, A. ; Lan, Y. ; Li, S. ; Li, Z. ; Licciardi, C. ; Lin, Y.H. ; MacLellan, R. ; Michel, T. ; Moore, D. ; Newby, R.J. ; Ning, Z. ; Njoya, O. ; Nolet, F. ; Odgers, K. ; Oriunno, M. ; Ostrovskiy, I. ; Overman, C.T. ; Ortega, G. S. ; Parent, S. ; Piepke, A. ; Pratte, J.-F. ; Radeka, V. ; Raguzin, E. ; Rao, T. ; Retiere, F. ; Rossignol, T. ; Rowson, P.C. ; Saldanha, R. ; Sangiorgio, S. ; Schmidt, S. ; Schneider, J. ; Sinclair, D. ; Skarpaas, K. ; Stekhanov, V. ; Stiegler, T. ; Tarka, M. ; Tsang, T. ; Visser, G. ; Wrede, G. ; Wu, S.X. ; Wu, W.H. ; Yang, L. ; Yen, Y.-R. ; Zeldovich, O. ; Zhao, J. ; Zhou, Y. ; Ziegler, T. Journal of instrumentation, 2018-01, Vol.13 (1), p.P01006-P01006 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo	Simulation of charge readout with segmented tiles in nEXO Li, Z. ; Moore, D.C. ; Wen, L.J. ; Odian, A. ; Kharusi, S. Al ; Anton, G. ; Arnquist, I.J. ; Bhatta, T. ; Brown, E. ; Brunner, T. ; Cao, G.F. ; Chambers, C. ; Charlebois, S.A. ; Cleveland, B. ; Coon, M. ; Craycraft, A. ; Dalmasson, J. ; Daniels, T. ; Darroch, L. ; Daugherty, S.J. ; Mesrobian-Kabakian, A. Der ; DeVoe, R. ; Vacri, M.L. Di ; Dilling, J. ; Ding, Y.Y. ; Elbeltagi, M. ; Fairbank, D. ; Fairbank, W. ; Farine, J. ; Ferrara, S. ; Fontaine, R. ; Gautam, P. ; Giacomini, G. ; Goeldi, D. ; Hansen, E.V. ; Heffner, M. ; Hößl, J. ; Hughes, M. ; Iverson, A. ; Jamil, A. ; Jewell, M.J. ; Jiang, X.S. ; Karelin, A. ; Kaufman, L.J. ; Kodroff, D. ; Koffas, T. ; Krücken, R. ; Lan, Y. ; Larson, A. ; Leach, K.G. ; Lenardo, B.G. ; Leonard, D.S. ; Li, G. ; Li, S. ; Licciardi, C. ; Lv, P. ; MacLellan, R. ; Michel, T. ; Mong, B. ; Nakarmi, P. ; Natzke, C.R. ; Newby, R.J. ; Ning, Z. ; Nolet, F. ; Oriunno, M. ; Orrell, J.L. ; Ortega, G.S. ; Ostrovskiy, I. ; Raguzin, E. ; Retière, F. ; Rossignol, T. ; Rowson, P.C. ; Runge, J. ; Saldanha, R. ; VIII, K. Skarpaas ; Soma, A.K. ; St-Hilaire, G. ; Stiegler, T. ; Sun, X.L. ; Tarka, M. ; Todd, J. ; Tolba, T. ; Totev, T.I. ; Tsang, T. ; Vachon, F. ; Veeraraghavan, V. ; Viel, S. ; Visser, G. ; Vivo-Vilches, C. ; Vuilleumier, J.-L. ; Wagenpfeil, M. ; Walent, M. ; Ward, M. ; Watkins, J. ; Weber, M. ; Wu, S.X. ; Wu, X. ; Yang, H. ; Yen, Y.-R. ; Zhao, J. Journal of instrumentation, 2019-09, Vol.14 (9), p.P09020-P09020 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por