skip to main content
Idioma:
Você quis dizer: rahimi m?
previous page 1 Resultados 2 3 4 5 next page
Mostrar Somente
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
11
The Bi-mode Insulated Gate Transistor (BIGT) a potential technology for higher power applications
The Bi-mode Insulated Gate Transistor (BIGT) a potential technology for higher power applications
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

The Bi-mode Insulated Gate Transistor (BIGT) a potential technology for higher power applications

Rahimo, M. ; Kopta, A. ; Schlapbach, U. ; Vobecky, J. ; Schnell, R. ; Klaka, S.

2009 21st International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's, 2009, p.283-286

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
12
The field charge extraction (FCE) diode: a novel technology for soft recovery high voltage diodes
The field charge extraction (FCE) diode: a novel technology for soft recovery high voltage diodes
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

The field charge extraction (FCE) diode: a novel technology for soft recovery high voltage diodes

Kopta, A. ; Rahimo, M.

Proceedings. ISPSD '05. The 17th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs, 2005, 2005, p.83-86

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
13
The radial layout design concept for the Bi-mode insulated gate transistor
The radial layout design concept for the Bi-mode insulated gate transistor
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

The radial layout design concept for the Bi-mode insulated gate transistor

Storasta, L. ; Rahimo, M. ; Bellini, M. ; Kopta, A. ; Vemulapati, U. R. ; Kaminski, N.

2011 IEEE 23rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs, 2011, p.56-59

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
14
Limitation of the short-circuit ruggedness of high-voltage IGBTs
Limitation of the short-circuit ruggedness of high-voltage IGBTs
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Limitation of the short-circuit ruggedness of high-voltage IGBTs

Kopta, A. ; Rahimo, M. ; Schlapbach, U. ; Kaminski, N. ; Silber, D.

2009 21st International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's, 2009, p.33-36

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
15
Characterization of 6.5 kV IGBTs for High-Power Medium-Frequency Soft-Switched Applications
Characterization of 6.5 kV IGBTs for High-Power Medium-Frequency Soft-Switched Applications
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Characterization of 6.5 kV IGBTs for High-Power Medium-Frequency Soft-Switched Applications

Dujic, Drazen ; Steinke, Gina K. ; Bellini, Marco ; Rahimo, Munaf ; Storasta, Liutauras ; Steinke, Juergen K.

IEEE transactions on power electronics, 2014-02, Vol.29 (2), p.906-919 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
16
Extraction of dynamic avalanche during IGBT turn off
Extraction of dynamic avalanche during IGBT turn off
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Extraction of dynamic avalanche during IGBT turn off

Geissmann, Silvan ; Michielis, L. De ; Corvasce, Ch ; Rahimo, M. ; Andenna, M.

Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.495-499 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

Texto completo disponível

Citações Citado por
17
Capacitive effects in IGBTs limiting their reliability under short circuit
Capacitive effects in IGBTs limiting their reliability under short circuit
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Capacitive effects in IGBTs limiting their reliability under short circuit

Reigosa, P.D. ; Iannuzzo, F. ; Rahimo, M. ; Blaabjerg, F.

Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.485-489 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

Texto completo disponível

Citações Citado por
18
4.5kV press pack IGBT designed for ruggedness and reliability
4.5kV press pack IGBT designed for ruggedness and reliability
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

4.5kV press pack IGBT designed for ruggedness and reliability

Eicher, S. ; Rahimo, M. ; Tsyplakov, E. ; Schneider, D. ; Kopta, A. ; Schlapbach, U. ; Carroll, E.

Conference Record of the 2004 IEEE Industry Applications Conference, 2004. 39th IAS Annual Meeting, 2004, Vol.3, p.1534-1539 vol.3

Piscataway NJ: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
19
Characterization of a n+3C/n-4H SiC heterojunction diode
Characterization of a n+3C/n-4H SiC heterojunction diode
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Characterization of a n+3C/n-4H SiC heterojunction diode

Minamisawa, R.A ; Mihaila, A ; Farkas, I ; Teodorescu, V.S ; Afanas'ev, V.V ; Hsu, C.-W ; Janzen, E ; Rahimo, M

Applied Physics Letters, 2016, Vol.108 (14), p.143502-1 [Periódico revisado por pares]

MELVILLE: American Institute of Physics

Texto completo disponível

Citações Citado por
20
Formation of Insulated-Gate Bipolar Transistor Highly Activated Anodes via Nickel Silicidation With Dopant Segregation
Formation of Insulated-Gate Bipolar Transistor Highly Activated Anodes via Nickel Silicidation With Dopant Segregation
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Formation of Insulated-Gate Bipolar Transistor Highly Activated Anodes via Nickel Silicidation With Dopant Segregation

Minamisawa, R. A. ; Papadopoulos, C. ; Jabrany, R. ; Knoll, L. ; Corvasce, C. ; Rahimo, M.

IEEE electron device letters, 2015-05, Vol.36 (5), p.487-489 [Periódico revisado por pares]

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
previous page 1 Resultados 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Revistas revisadas por pares (16)

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Anais de Congresso  (38)
  2. Artigos  (19)
  3. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de2001  (10)
  2. 2001Até2005  (9)
  3. 2006Até2009  (12)
  4. 2010Até2014  (9)
  5. Após 2014  (19)
  6. Mais opções open sub menu

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.