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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications

Servin, Manuel ; Quiroga, J. Antonio ; Padilla, Moises

Newark: John Wiley & Sons, Incorporated 2014

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2
Idealized powder diffraction patterns for cellulose polymorphs
Idealized powder diffraction patterns for cellulose polymorphs
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Idealized powder diffraction patterns for cellulose polymorphs

French, Alfred D

Cellulose (London), 2014-04, Vol.21 (2), p.885-896 [Periódico revisado por pares]

Dordrecht: Springer-Verlag

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3
Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Part 3. Pseudosymmetry
Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Part 3. Pseudosymmetry
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Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Part 3. Pseudosymmetry

Nolze, Gert ; Tokarski, Tomasz ; Rychłowski, Łukasz

Journal of applied crystallography, 2023-04, Vol.56 (2), p.367-380 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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4
Multiple-Level Green Noise Mask Design for Practical Fourier Phase Retrieval
Multiple-Level Green Noise Mask Design for Practical Fourier Phase Retrieval
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Multiple-Level Green Noise Mask Design for Practical Fourier Phase Retrieval

Ye, Qiuliang ; Ling, Bingo Wing-Kuen ; Wang, Li-Wen ; Lun, Daniel Pak-Kong

IEEE transactions on signal processing, 2024, Vol.72, p.2607-2621 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Automated crystal system identification from electron diffraction patterns using multiview opinion fusion machine learning
Automated crystal system identification from electron diffraction patterns using multiview opinion fusion machine learning
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Automated crystal system identification from electron diffraction patterns using multiview opinion fusion machine learning

Chen, Jie ; Zhang, Hengrui ; Wahl, Carolin B ; Liu, Wei ; Mirkin, Chad A ; Dravid, Vinayak P ; Apley, Daniel W ; Chen, Wei

Proceedings of the National Academy of Sciences - PNAS, 2023-11, Vol.120 (46), p.e2309240120-e2309240120 [Periódico revisado por pares]

United States: National Academy of Sciences

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6
UnwarpCalculator: a utility to estimate intensity distribution in reciprocal space for an arbitrary 3D set of atoms
UnwarpCalculator: a utility to estimate intensity distribution in reciprocal space for an arbitrary 3D set of atoms
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UnwarpCalculator: a utility to estimate intensity distribution in reciprocal space for an arbitrary 3D set of atoms

Zakharov, Boris A.

Journal of applied crystallography, 2023-12, Vol.56 (6), p.1874-1878 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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7
EDP2PDF: a computer program for extracting a pair distribution function from an electron diffraction pattern for the structural analysis of materials
EDP2PDF: a computer program for extracting a pair distribution function from an electron diffraction pattern for the structural analysis of materials
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EDP2PDF: a computer program for extracting a pair distribution function from an electron diffraction pattern for the structural analysis of materials

Liu, Hongwei ; Nomoto, Keita ; Ceguerra, Anna V. ; Kruzic, Jamie J. ; Cairney, Julie ; Ringer, Simon P.

Journal of applied crystallography, 2023-06, Vol.56 (3), p.889-902 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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8
Direct derivation (DD) of weight fractions of individual crystalline phases from observed intensities and chemical composition data: incorporation of the DD method into the whole‐powder‐pattern fitting procedure
Direct derivation (DD) of weight fractions of individual crystalline phases from observed intensities and chemical composition data: incorporation of the DD method into the whole‐powder‐pattern fitting procedure
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Direct derivation (DD) of weight fractions of individual crystalline phases from observed intensities and chemical composition data: incorporation of the DD method into the whole‐powder‐pattern fitting procedure

Toraya, Hideo

Journal of applied crystallography, 2018-04, Vol.51 (2), p.446-455 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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9
Super-Resolution Phase Retrieval From Designed Coded Diffraction Patterns
Super-Resolution Phase Retrieval From Designed Coded Diffraction Patterns
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Super-Resolution Phase Retrieval From Designed Coded Diffraction Patterns

Bacca, Jorge ; Pinilla, Samuel ; Arguello, Henry

IEEE transactions on image processing, 2020-01, Vol.29, p.2598-2609 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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10
EDP2XRD: a computer program for converting electron diffraction patterns into X-ray diffraction patterns
EDP2XRD: a computer program for converting electron diffraction patterns into X-ray diffraction patterns
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EDP2XRD: a computer program for converting electron diffraction patterns into X-ray diffraction patterns

Liu, Hongwei ; Foley, Matthew ; Lin, Qingyun ; Liu, Jiangwen

Journal of applied crystallography, 2016-04, Vol.49 (2), p.636-641 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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