Measurement of the electron structure function F 2 e at LEP energies

Adam, W. ; Allmendinger, T. ; Amaldi, U. ; Amapane, N. ; Amato, S. ; Bambade, P. ; Barker, G.J. ; Baroncelli, A. ; Benekos, N. ; Borisov, G. ; Boyko, I. ; Bracko, M. ; Brodet, E. ; Castro, N. ; Cavallo, F. ; Charpentier, Ph ; Chierici, R. ; Chliapnikov, P. ; Chudoba, J. ; Cosme, G. ; Cuevas, J. ; da Silva, T. ; De Lotto, B. ; de Paula, L. ; Di Simone, A. ; Fassouliotis, D. ; Fernandez, J. ; Foeth, H. ; Gandelman, M. ; Garcia, C. ; Gavillet, Ph ; Gazis, E. ; Gonçalves, P. ; Grosdidier, G. ; Guy, J. ; Hennecke, M. ; Jackson, J.N. ; Jonsson, P. ; Joram, C. ; Kernel, G. ; King, B.T. ; Kjaer, N.J. ; Kluit, P. ; Kouznetsov, O. ; Krumstein, Z. ; Leder, G. ; Leinonen, L. ; Liebig, W. ; Lopes, J.H. ; Lopez, J.M. ; Malek, A. ; Mandl, F. ; Marco, R. ; Margoni, M. ; Marin, J-C. ; Markou, A. ; Martinez-Rivero, C. ; Masik, J. ; Matteuzzi, C. ; Moch, M. ; Mulders, M. ; Murray, W. ; Nicolaidou, R. ; Olshevski, A. ; Onofre, A. ; Paiano, S. ; Parkes, C. ; Parzefall, U. ; Passeri, A. ; Passon, O. ; Perepelitsa, V. ; Petrolini, A. ; Pieri, L. ; Podobnik, T. ; Polok, G. ; Pullia, A. ; Rehn, J. ; Reid, D. ; Sadovsky, A. ; Salt, J. ; Savoy-Navarro, A. ; Sekulin, R. ; Sopczak, A. ; Spassov, T. ; Stocchi, A. ; Szeptycka, M. ; Szumlak, T. ; Tkatchev, L. ; Todorovova, S. ; Tonazzo, A. ; Treille, D. ; Tyapkin, I.A. ; Van Vulpen, I. ; Vegni, G. ; Venus, W. ; Wahlen, H. ; Wilkinson, G. ; Zalewska, A. ; Zalewski, P. ; Zupan, M.

Netherlands: Elsevier

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Measurement of the electron structure function F2e at LEP energies

Abreu, P. ; Amato, S. ; Anashkin, E. ; Andreazza, A. ; Andringa, S. ; Antilogus, P. ; Ask, S. ; Asman, B. ; Baillon, P. ; Barbier, R. ; Baubillier, M. ; Besancon, M. ; Bluj, M. ; Botner, O. ; Bouquet, B. ; Buschmann, P. ; Chliapnikov, P. ; Collins, P. ; Contri, R. ; Della Ricca, G. ; De Boer, W. ; Di Ciaccio, L. ; Eigen, G. ; Fernandez, J. ; Foeth, H. ; Fokitis, E. ; Fuster, J. ; Golob, B. ; Grosdidier, G. ; Haag, C. ; Hallgren, A. ; Hamacher, K. ; Hedberg, V. ; Jackson, J.N. ; Jarlskog, G. ; Jarry, P. ; Johansson, E.K. ; Jungermann, L. ; Katsanevas, S. ; Katsoufis, E. ; Kjaer, N.J. ; Krumstein, Z. ; Leinonen, L. ; Malek, A. ; Maltezos, S. ; Mandl, F. ; Marco, J. ; Marin, J-C. ; Markou, A. ; Masik, J. ; Matorras, F. ; Mazzucato, F. ; Mc Nulty, R. ; Montenegro, J. ; Moraes, D. ; Morettini, P. ; Muenich, K. ; Mulders, M. ; Myklebust, T. ; Nassiakou, M. ; Obraztsov, V. ; Olshevski, A. ; Onofre, A. ; Ouraou, A. ; Oyanguren, A. ; Paiano, S. ; Palacios, J.P. ; Pape, L. ; Peralta, L. ; Pozdniakov, V. ; Pullia, A. ; Rehn, J. ; Rodriguez, D. ; Ronchese, P. ; Roudeau, P. ; Rovelli, T. ; Ruhlmann-Kleider, V. ; Ryabtchikov, D. ; Sadovsky, A. ; Sander, C. ; Schwickerath, U. ; Slominski, W. ; Stanitzki, M. ; Stocchi, A. ; Szczekowski, M. ; Tegenfeldt, F. ; Tonazzo, A. ; Treille, D. ; Troncon, C. ; Turluer, M-L. ; Tyapkin, I.A. ; Valenti, G. ; Vegni, G. ; Venus, W. ; Vitale, L. ; Weiser, C. ; Wicke, D. ; Wickens, J. ; Witek, M. ; Zupan, M.

Elsevier B.V

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Measurement of the electron structure function F-2(e) at LEP energies

Åsman, Barbro ; Holmgren, Sven-Olof ; Johansson, Erik K. ; Leinonen, Lena ; Moa, Torbjörn

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Search for single top production via FCNC at LEP at √s = 189-208 GeV

Adam, W. ; Amapane, N. ; Amato, S. ; Andringa, S. ; Anjos, N. ; Asman, B. ; Bambade, P. ; Bardin, D. ; Baroncelli, A. ; Becks, K.-H. ; Ben-Haim, E. ; Benekos, N. ; Bertrand, D. ; Boonekamp, M. ; Botner, O. ; Boyko, I. ; Bracko, M. ; Bruckman, P. ; Calvi, M. ; Canale, V. ; Castro, N. ; Chapkin, M. ; Checchia, P. ; Cieslik, K. ; Contri, R. ; Da Silva, W. ; Della Ricca, G. ; De Angelis, A. ; De Maria, N. ; De Min, A. ; Dris, M. ; Ekelof, T. ; Ellert, M. ; Elsing, M. ; Fanourakis, G. ; Fokitis, E. ; Gandelman, M. ; Golob, B. ; Gomez-Ceballos, G. ; Grzelak, K. ; Hallgren, A. ; Hauler, F. ; Herr, H. ; Jackson, J.N. ; Jungermann, L. ; Kapusta, F. ; Kersevan, B.P. ; Kerzel, U. ; Kiiskinen, A. ; Kjaer, N.J. ; Kucharczyk, M. ; Lepeltier, V. ; Lesiak, T. ; Lipniacka, A. ; Loukas, D. ; Lutz, P. ; Lyons, L. ; Maltezos, S. ; Marechal, B. ; Mariotti, C. ; Mazzucato, F. ; Mazzucato, M. ; McNulty, R. ; Meroni, C. ; Migliore, E. ; Mjoernmark, U. ; Moenig, K. ; Montenegro, J. ; Mueller, U. ; Nicolaidou, R. ; Nikolenko, M. ; Palka, H. ; Papadopoulou, Th.D. ; Parodi, F. ; Pimenta, M. ; Poireau, V. ; Pukhaeva, N. ; Rames, J. ; Reid, D. ; Renton, P. ; Richard, F. ; Rivero, M. ; Rodriguez, D. ; Romero, A. ; Rovelli, T. ; Ryabtchikov, D. ; Sadovsky, A. ; Smirnova, O. ; Stanitzki, M. ; Szumlak, T. ; Tabarelli, T. ; Tobin, M. ; Troncon, C. ; Tzamarias, S. ; Valenti, G. ; Van Lysebetten, A. ; Vegni, G. ; Venus, W. ; Witek, M. ; Zalewski, P.

Amsterdam: Elsevier Science

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Measurement of the $\Lambda^0_b$ decay form factor

Abdallah, J. ; Abreu, P. ; Adam, W. ; Adzic, P. ; Albrecht, T. ; Alderweireld, T. ; Alemany-Fernandez, R. ; Allmendinger, T. ; Allport, P.P. ; Amaldi, U. ; Amapane, N. ; Amato, S. ; Arnoud, Y. ; Ask, S. ; Asman, B. ; Augustin, J.-E. ; Augustinus, A. ; Baillon, P. ; Ballestrero, A. ; Bambade, P. ; Barbier, R. ; Bardin, D. ; Barker, G. ; Baroncelli, A. ; Battaglia, M. ; Baubillier, M. ; Becks, K.-H. ; Begalli, M. ; Behrmann, A. ; Ben-Haim, E. ; Benekos, N. ; Benvenuti, A. ; Berat, C. ; Berggren, M. ; Berntzon, L. ; Bertrand, D. ; Besancon, M. ; Besson, N. ; Bloch, D. ; Blom, M. ; Bluj, M. ; Bonesini, M. ; Boonekamp, M. ; Booth, P.S.L. ; Borisov, G. ; Botner, O. ; Bouquet, B. ; Bowcock, T.J.V. ; Boyko, I. ; Bracko, M. ; Brenner, R. ; Brodet, E. ; Bruckman, P. ; Brunet, J.M. ; Bugge, L. ; Buschmann, P. ; Calvi, M. ; Camporesi, T. ; Canale, V. ; Carena, F. ; Castro, N. ; Cavallo, F. ; Chapkin, M. ; Charpentier, Ph ; Checchia, P. ; Chierici, R. ; Chliapnikov, P. ; Chudoba, J. ; Chung, S.U. ; Cieslik, K. ; Collins, P. ; Contri, R. ; Cosme, G. ; Cossutti, F. ; Costa, M.J. ; Crawley, B. ; Crennell, D. ; Cuevas, J. ; d'Hondt, J. ; Dalmau, J. ; da Silva, T. ; da Silva, W. ; Della Ricca, G. ; de Angelis, A. ; de Boer, W. ; de Clercq, C. ; de Lotto, B. ; de Maria, N. ; de Min, A. ; de Paula, L. ; Di Ciaccio, L. ; Di Simone, A. ; Doroba, K. ; Drees, J. ; Dris, M. ; Eigen, G. ; Ekelof, T. ; Ellert, M. ; Elsing, M. ; Espirito Santo, M.C.

Elsevier

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