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Energy-Optimal Mobile Cloud Computing under Stochastic Wireless Channel
Energy-Optimal Mobile Cloud Computing under Stochastic Wireless Channel
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Energy-Optimal Mobile Cloud Computing under Stochastic Wireless Channel

Weiwen Zhang ; Yonggang Wen ; Guan, Kyle ; Kilper, Dan ; Haiyun Luo ; Wu, Dapeng Oliver

IEEE transactions on wireless communications, 2013-09, Vol.12 (9), p.4569-4581 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
An Introduction to Parallel Control and Management for High-Speed Railway Systems
An Introduction to Parallel Control and Management for High-Speed Railway Systems
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An Introduction to Parallel Control and Management for High-Speed Railway Systems

Ning, Bin ; Tang, Tao ; Dong, Hairong ; Wen, Ding ; Liu, Derong ; Gao, Shigen ; Wang, Jing

IEEE transactions on intelligent transportation systems, 2011-12, Vol.12 (4), p.1473-1483 [Periódico revisado por pares]

Piscataway, NJ: IEEE

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3
Proactive policies for the stochastic resource-constrained project scheduling problem
Proactive policies for the stochastic resource-constrained project scheduling problem
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Proactive policies for the stochastic resource-constrained project scheduling problem

Deblaere, Filip ; Demeulemeester, Erik ; Herroelen, Willy

European journal of operational research, 2011-10, Vol.214 (2), p.308-316 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
PathCrawler: Automatic Generation of Path Tests by Combining Static and Dynamic Analysis
PathCrawler: Automatic Generation of Path Tests by Combining Static and Dynamic Analysis
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

PathCrawler: Automatic Generation of Path Tests by Combining Static and Dynamic Analysis

Williams, Nicky ; Marre, Bruno ; Mouy, Patricia ; Roger, Muriel

Dependable Computing - EDCC 5, 2005, p.281-292 [Periódico revisado por pares]

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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5
Secure multidimensional range queries over outsourced data
Secure multidimensional range queries over outsourced data
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Secure multidimensional range queries over outsourced data

Hore, Bijit ; Mehrotra, Sharad ; Canim, Mustafa ; Kantarcioglu, Murat

The VLDB journal, 2012-06, Vol.21 (3), p.333-358

Berlin/Heidelberg: Springer-Verlag

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6
Zyzzyva: Speculative Byzantine Fault Tolerance
Zyzzyva: Speculative Byzantine Fault Tolerance
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Zyzzyva: Speculative Byzantine Fault Tolerance

KOTLA, Ramakrishna ; ALVISI, Lorenzo ; DAHLIN, Mike ; CLEMENT, Allen ; WONG, Edmund

ACM transactions on computer systems, 2009-12, Vol.27 (4), p.1-39 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Association for Computing Machinery

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7
Assessing the impact of inventory inaccuracies within a Newsvendor framework
Assessing the impact of inventory inaccuracies within a Newsvendor framework
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Assessing the impact of inventory inaccuracies within a Newsvendor framework

Sahin, Evren ; Dallery, Yves

European journal of operational research, 2009-09, Vol.197 (3), p.1108-1118 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
Inventory Record Inaccuracy: An Empirical Analysis
Inventory Record Inaccuracy: An Empirical Analysis
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Inventory Record Inaccuracy: An Empirical Analysis

DeHoratius, Nicole ; Raman, Ananth

Management science, 2008-04, Vol.54 (4), p.627-641 [Periódico revisado por pares]

Linthicum, MD: INFORMS

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9
Flicker : An Execution Infrastructure for TCB Minimization
Flicker : An Execution Infrastructure for TCB Minimization
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Flicker : An Execution Infrastructure for TCB Minimization

MCCUNE, Jonathan M ; PARNO, Bryan ; PERRIG, Adrian ; REITER, Michael K ; ISOZAKI, Hiroshi

Operating systems review, 2008, Vol.42 (4), p.315-328

New York, NY: Association for Computing Machinery

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10
Evolutionary Improvement of Programs
Evolutionary Improvement of Programs
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Evolutionary Improvement of Programs

White, D. R. ; Arcuri, A. ; Clark, J. A.

IEEE transactions on evolutionary computation, 2011-08, Vol.15 (4), p.515-538 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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