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Atom-probe field ion microscopy and its applications
Atom-probe field ion microscopy and its applications
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Atom-probe field ion microscopy and its applications

Toshio Sakurai A Sakai; H. W Pickering

Boston Academic Press c1989

Localização: IF - Instituto de Física    (MS AEEPS Supp.20 )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Sakai, A
  2. Pickering, H
  3. Sakurai, T

Neste Assunto:

  1. Microscopia
  2. Atom-Probe Field Ion Microscopy

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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