Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Tese de Doutorado
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Modelo de otimização para o controle de plantas daninhas usando programação não linear inteira mistaStiegelmeier, Elenice WeberBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola de Engenharia de São Carlos 2012-03-08Acesso online |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Herbicide dosage optimization model for weed control using the resistance dynamicsLuiz Henrique Barchi Bertolucci Eduardo Fontoura Costa; Vilma Alves de Oliveira; Fernando L Pereira; Decio Karam; EUROSIM Congress on Modelling and Simulation (2013 : Cardiff, United Kingdom)Proceedings Piscataway, NJ, USA : IEEE, 2013Piscataway, NJ, USA IEEE 2013Localização: EESC - Esc. Engenharia de São Carlos (PROD-026615 )(Acessar) |
3 |
Material Type: Dissertação de Mestrado
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Modelo de análise de populações de plantas daninhas resistentes a herbicidasKajino, Henrique SadaoBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola de Engenharia de São Carlos 2011-09-30Acesso online |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Aplicação de herbicidas a taxas variáveis utilizando controle preditivoOlivi, Leonardo RochaBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola de Engenharia de São Carlos 2009-12-14Acesso online |
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Material Type: Artigo
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Optimal weed population control using nonlinear programmingElenice Weber Stiegelmeier Vilma Alves de Oliveira; Geraldo Nunes Silva; Décio KaramComputational and Applied Mathematics Heidelberg, Germany : Springer, 2017 v. 36, n. 2, p. 1043-1065, Jun. 2017Heidelberg, Germany 2015Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Risk prediction for weed infestation using classification rulesGlaucia Maria Bressan Vilma Alves de Oliveira; Maurilio Boaventura; IEEE Multi-Conference on Systems and Control (3. 2009 Saint Petersburg); IEEE International Symposium on Intelligent Control (2009 Saint Petersburg)Saint Petersburg : IEEE, 2009Saint Petersburg IEEE 2009Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |