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1	$ID15A at the ESRF – a beamline for high speed operando X‐ray diffraction, diffraction tomography and total scattering$ $ID15A at the ESRF – a beamline for high speed operando X‐ray diffraction, diffraction tomography and total scattering$ Material Type: Artigo		ID15A at the ESRF – a beamline for high speed operando X‐ray diffraction, diffraction tomography and total scattering Vaughan, Gavin B. M. ; Baker, Robert ; Barret, Raymond ; Bonnefoy, Julien ; Buslaps, Thomas ; Checchia, Stefano ; Duran, Denis ; Fihman, Francois ; Got, Pierrick ; Kieffer, Jerôme ; Kimber, Simon A. J. ; Martel, Keith ; Morawe, Christian ; Mottin, Denis ; Papillon, Emanuel ; Petitdemange, Sébastien ; Vamvakeros, Antonios ; Vieux, Jean-Phillipe ; Di Michiel, Marco Journal of synchrotron radiation, 2020-03, Vol.27 (2), p.515-528 [Periódico revisado por pares] 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Dissertação de Mestrado		O material da cultura : análises arqueométricas da cerâmica arqueológica da T. I. Koatinemo, Pará Mota, Duane Paola Cardoso Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Museu de Arqueologia e Etnologia 2017-09-22 Acesso online Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções
3	$Structure Investigation by Neutron Diffraction and X‐Ray Diffraction of Graphene Nanocomposite CuO–rGO Prepared by Low‐Cost Method$ $Structure Investigation by Neutron Diffraction and X‐Ray Diffraction of Graphene Nanocomposite CuO–rGO Prepared by Low‐Cost Method$ Material Type: Artigo		Structure Investigation by Neutron Diffraction and X‐Ray Diffraction of Graphene Nanocomposite CuO–rGO Prepared by Low‐Cost Method Abdel-Aal, Seham K. ; Beskrovnyi, Anatolii I. ; Ionov, Andrey M. ; Mozhchil, Rais N. ; Abdel-Rahman, Ahmed S. Physica status solidi. A, Applications and materials science, 2021-06, Vol.218 (12), p.n/a [Periódico revisado por pares] Weinheim: Wiley Subscription Services, Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	$Experimental methods in chemical engineering: X‐ray diffraction spectroscopy—XRD$ $Experimental methods in chemical engineering: X‐ray diffraction spectroscopy—XRD$ Material Type: Artigo		Experimental methods in chemical engineering: X‐ray diffraction spectroscopy—XRD Khan, Hayat ; Yerramilli, Aditya S. ; D'Oliveira, Adrien ; Alford, Terry L. ; Boffito, Daria C. ; Patience, Gregory S. Canadian journal of chemical engineering, 2020-06, Vol.98 (6), p.1255-1266 [Periódico revisado por pares] Hoboken, USA: John Wiley & Sons, Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	$Diffraction-limited storage rings - a window to the science of tomorrow$ $Diffraction-limited storage rings - a window to the science of tomorrow$ Material Type: Artigo		Diffraction-limited storage rings - a window to the science of tomorrow Eriksson, Mikael ; van der Veen, J. Friso ; Quitmann, Christoph Journal of synchrotron radiation, 2014-09, Vol.21 (5), p.837-842 [Periódico revisado por pares] 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	$Low f‐Number Diffraction‐Limited Pancharatnam–Berry Microlenses Enabled by Plasmonic Photopatterning of Liquid Crystal Polymers$ $Low f‐Number Diffraction‐Limited Pancharatnam–Berry Microlenses Enabled by Plasmonic Photopatterning of Liquid Crystal Polymers$ Material Type: Artigo		Low f‐Number Diffraction‐Limited Pancharatnam–Berry Microlenses Enabled by Plasmonic Photopatterning of Liquid Crystal Polymers Jiang, Miao ; Guo, Yubing ; Yu, Hao ; Zhou, Ziyuan ; Turiv, Taras ; Lavrentovich, Oleg D. ; Wei, Qi‐Huo Advanced materials (Weinheim), 2019-05, Vol.31 (18), p.e1808028-n/a [Periódico revisado por pares] Germany: Wiley Subscription Services, Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	$“Ab initio” structure solution from electron diffraction data obtained by a combination of automated diffraction tomography and precession technique$ $“Ab initio” structure solution from electron diffraction data obtained by a combination of automated diffraction tomography and precession technique$ Material Type: Artigo		“Ab initio” structure solution from electron diffraction data obtained by a combination of automated diffraction tomography and precession technique Mugnaioli, E. ; Gorelik, T. ; Kolb, U. Ultramicroscopy, 2009-05, Vol.109 (6), p.758-765 [Periódico revisado por pares] Netherlands: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	$Chemical analysis by diffraction: the Powder Diffraction File$ $Chemical analysis by diffraction: the Powder Diffraction File$ Material Type: Artigo		Chemical analysis by diffraction: the Powder Diffraction File Fawcett, T. G. ; Kabekkodu, S. N. ; Blanton, J. R. ; Blanton, T. N. Powder diffraction, 2017-06, Vol.32 (2), p.63-71 [Periódico revisado por pares] New York, USA: Cambridge University Press Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	$ID22 - the high-resolution powder-diffraction beamline at ESRF$ $ID22 - the high-resolution powder-diffraction beamline at ESRF$ Material Type: Artigo		ID22 - the high-resolution powder-diffraction beamline at ESRF Fitch, Andrew ; Dejoie, Catherine ; Covacci, Ezio ; Confalonieri, Giorgia ; Grendal, Ola ; Claustre, Laurent ; Guillou, Perceval ; Kieffer, Jérôme ; de Nolf, Wout ; Petitdemange, Sébastien ; Ruat, Marie ; Watier, Yves Journal of synchrotron radiation, 2023-09, Vol.30 (5), p.1003-1012 [Periódico revisado por pares] United States: John Wiley & Sons, Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	$Tutorial on Powder X‑ray Diffraction for Characterizing Nanoscale Materials$ $Tutorial on Powder X‑ray Diffraction for Characterizing Nanoscale Materials$ Material Type: Artigo		Tutorial on Powder X‑ray Diffraction for Characterizing Nanoscale Materials Holder, Cameron F ; Schaak, Raymond E ACS nano, 2019-07, Vol.13 (7), p.7359-7365 [Periódico revisado por pares] United States: American Chemical Society Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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