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LTE Advanced Relaying Standard: A Survey
LTE Advanced Relaying Standard: A Survey
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LTE Advanced Relaying Standard: A Survey

Zhioua, Ghayet El Mouna ; Labiod, Houda ; Tabbane, Nabil ; Tabbane, Sami

Wireless personal communications, 2013-10, Vol.72 (4), p.2445-2463 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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2
Optimal algorithms for parallel Givens factorization on a coarse-grained PRAM
Optimal algorithms for parallel Givens factorization on a coarse-grained PRAM
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimal algorithms for parallel Givens factorization on a coarse-grained PRAM

Cosnard, Michel ; Daoudi, El Mostafa

Journal of the ACM, 1994-03, Vol.41 (2), p.399-421 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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3
Limit Set Dichotomy and Multistability for a Class of Cooperative Neural Networks With Delays
Limit Set Dichotomy and Multistability for a Class of Cooperative Neural Networks With Delays
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Limit Set Dichotomy and Multistability for a Class of Cooperative Neural Networks With Delays

Di Marco, M. ; Forti, M. ; Grazzini, M. ; Pancioni, L.

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2012-09, Vol.23 (9), p.1473-1485

New York, NY: IEEE

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4
Reasoning about temporal relations: a maximal tractable subclass of Allen's interval algebra
Reasoning about temporal relations: a maximal tractable subclass of Allen's interval algebra
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Reasoning about temporal relations: a maximal tractable subclass of Allen's interval algebra

Nebel, Bernhard ; Bürckert, Hans-Jürgen

Journal of the ACM, 1995-01, Vol.42 (1), p.43-66 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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5
On multi-cycle test cubes
On multi-cycle test cubes
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

On multi-cycle test cubes

Pomeranz, Irith

IET computers & digital techniques, 2013-07, Vol.7 (4), p.182-189 [Periódico revisado por pares]

Stevenage: The Institution of Engineering and Technology

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6
On the generation of scan-based test sets with reachable states for testing under functional operation conditions
On the generation of scan-based test sets with reachable states for testing under functional operation conditions
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

On the generation of scan-based test sets with reachable states for testing under functional operation conditions

Pomeranz, Irith

Proceedings of the 41st annual Design Automation Conference, 2004, p.928-933

Piscataway NJ: ACM

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7
Facies architecture of a Triassic rift-related Silicic Volcano-Sedimentary succession in the Tethyan realm, Peonias subzone, Vardar (Axios) Zone, northern Greece; Regional implications
Facies architecture of a Triassic rift-related Silicic Volcano-Sedimentary succession in the Tethyan realm, Peonias subzone, Vardar (Axios) Zone, northern Greece; Regional implications
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Facies architecture of a Triassic rift-related Silicic Volcano-Sedimentary succession in the Tethyan realm, Peonias subzone, Vardar (Axios) Zone, northern Greece; Regional implications

Asvesta, Argyro ; Dimitriadis, Sarantis

Journal of volcanology and geothermal research, 2010-06, Vol.193 (3), p.245-269 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier B.V

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8
Holographically formed polymer dispersed liquid crystal displays
Holographically formed polymer dispersed liquid crystal displays
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Holographically formed polymer dispersed liquid crystal displays

Qi, Jun ; Crawford, Gregory P.

Displays, 2004-12, Vol.25 (5), p.177-186 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier B.V

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9
Online geometric reconstruction
Online geometric reconstruction
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Online geometric reconstruction

Chazelle, Bernard ; Seshadhri, C

Journal of the ACM, 2011-07, Vol.58 (4), p.1-32 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: ACM

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10
Undetectable transition faults under broadside tests with constant primary input vectors
Undetectable transition faults under broadside tests with constant primary input vectors
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Undetectable transition faults under broadside tests with constant primary input vectors

POMERANZ, I

IET computers & digital techniques, 2012-03, Vol.6 (2), p.78-85 [Periódico revisado por pares]

Stevenage: Institution of Engineering and Technology

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