skip to main content
Idioma:
Refinado por: Nome da Publicação: Ieee Trans. On Computers remover Nome da Publicação: Ieee Transactions On Computers remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Enhanced cluster k-ary n-cube, a fault-tolerant multiprocessor
Enhanced cluster k-ary n-cube, a fault-tolerant multiprocessor
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Enhanced cluster k-ary n-cube, a fault-tolerant multiprocessor

Izadi, B.A. ; Ozguner, F.

IEEE transactions on computers, 2003-11, Vol.52 (11), p.1443-1453 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
Test Generation for Microprocessors
Test Generation for Microprocessors
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Test Generation for Microprocessors

Thatte ; Abraham

IEEE transactions on computers, 1980-01, Vol.C-29 (6), p.429-441 [Periódico revisado por pares]

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
A design of Reed-Solomon decoder with systolic-array structure
A design of Reed-Solomon decoder with systolic-array structure
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A design of Reed-Solomon decoder with systolic-array structure

Iwamura, K. ; Dohi, Y. ; Imai, H.

IEEE transactions on computers, 1995-01, Vol.44 (1), p.118-122 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
On the VLSI design of a pipeline Reed-Solomon decoder using systolic arrays
On the VLSI design of a pipeline Reed-Solomon decoder using systolic arrays
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

On the VLSI design of a pipeline Reed-Solomon decoder using systolic arrays

Shao, H.M. ; Reed, I.S.

IEEE transactions on computers, 1988-10, Vol.37 (10), p.1273-1280 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
On redundant path delay faults in synchronous sequential circuits
On redundant path delay faults in synchronous sequential circuits
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

On redundant path delay faults in synchronous sequential circuits

Tekumalla, R.C. ; Menon, P.R.

IEEE transactions on computers, 2000-03, Vol.49 (3), p.277-282 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
An improved min-cut algorithm for partitioning VLSI networks
An improved min-cut algorithm for partitioning VLSI networks
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An improved min-cut algorithm for partitioning VLSI networks

BALAKRISHNAN KRISHNAMURTHY

IEEE transactions on computers, 1984, Vol.33 (5), p.438-446 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
Functional Testing of Microprocessors
Functional Testing of Microprocessors
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Functional Testing of Microprocessors

Brahme, D ; Abraham, J A

IEEE transactions on computers, 1984-06, Vol.C-33 (6), p.475-485 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
Parallel high-radix nonrestoring division
Parallel high-radix nonrestoring division
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Parallel high-radix nonrestoring division

Schwarz, E.M. ; Flynn, M.J.

IEEE transactions on computers, 1993-10, Vol.42 (10), p.1234-1246 [Periódico revisado por pares]

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
A 40-ns 17-Bit by 17-Bit Array Multiplier
A 40-ns 17-Bit by 17-Bit Array Multiplier
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 40-ns 17-Bit by 17-Bit Array Multiplier

Pezaris, S.D.

IEEE transactions on computers, 1971-01, Vol.C-20 (4), p.442-447 [Periódico revisado por pares]

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
A Means for Achieving a High Degree of Compaction on Scan-Digitized Printed Text
A Means for Achieving a High Degree of Compaction on Scan-Digitized Printed Text
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Means for Achieving a High Degree of Compaction on Scan-Digitized Printed Text

Ascher, R.N. ; Nagy, G.

IEEE transactions on computers, 1974-01, Vol.C-23 (11), p.1174-1179 [Periódico revisado por pares]

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.