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1
Cathodoluminescence of Ge- Clusters in Silica Layers
Cathodoluminescence of Ge- Clusters in Silica Layers
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Cathodoluminescence of Ge- Clusters in Silica Layers

Salh, R ; Fitting, L ; Fitting, H-J

Microscopy and microanalysis, 2006-08, Vol.12 (S02), p.1532-1533 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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2
Low Energy Electron Scattering and Electrical Charging in Non-conductive Specimen
Low Energy Electron Scattering and Electrical Charging in Non-conductive Specimen
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Low Energy Electron Scattering and Electrical Charging in Non-conductive Specimen

Fitting, H.-J.

Microscopy and microanalysis, 2003-09, Vol.9 (S03), p.102-103 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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3
Monte Carlo Modeling of Electron Scattering in Nonconductive Specimens
Monte Carlo Modeling of Electron Scattering in Nonconductive Specimens
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Monte Carlo Modeling of Electron Scattering in Nonconductive Specimens

Fitting, H.-J. ; Schreiber, E. ; Glavatskikh, I.A.

Microscopy and microanalysis, 2004-12, Vol.10 (6), p.764-770 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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4
EFTEM, EELS, and Cathodoluminescence in Si-implanted SiO2 Layers
EFTEM, EELS, and Cathodoluminescence in Si-implanted SiO2 Layers
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

EFTEM, EELS, and Cathodoluminescence in Si-implanted SiO2 Layers

Fitting, H-J ; Kourkoutis, L Fitting ; Salh, R ; Schmidt, B

Microscopy and microanalysis, 2009-07, Vol.15 (S2), p.1104-1105 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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5
SEM Contrast of Semi-insulating Compound Materials
SEM Contrast of Semi-insulating Compound Materials
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

SEM Contrast of Semi-insulating Compound Materials

Fitting, H-J ; Kovacs, JZ

Microscopy and microanalysis, 2009-07, Vol.15 (S2), p.1106-1107 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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6
Electron Beam Induced Defects in SiO2
Electron Beam Induced Defects in SiO2
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Electron Beam Induced Defects in SiO2

Fitting, H.-J. ; Barfels, T. ; von Czarnowski, A. ; Ziems, T.

Microscopy and microanalysis, 2003-09, Vol.9 (S03), p.360-361 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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7
Cathodoluminescence of Defects, Interstitial Molecules, and Clusters in Silica
Cathodoluminescence of Defects, Interstitial Molecules, and Clusters in Silica
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Cathodoluminescence of Defects, Interstitial Molecules, and Clusters in Silica

Fitting, H-J ; Salh, R ; Kourkoutis, L Fitting

Microscopy and microanalysis, 2007-08, Vol.13 (S02), p.1378-1379 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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8
Cathodoluminescence of Ion-Implanted Silica Layers
Cathodoluminescence of Ion-Implanted Silica Layers
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Cathodoluminescence of Ion-Implanted Silica Layers

Salh, R ; Fitting, H-J ; Kourkoutis, L Fitting ; Schmidt, B

Microscopy and microanalysis, 2007-09, Vol.13 (S03), p.328-329 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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9
Selfconsistent Electron Beam Charging of Non-Conductive Specimen in SEM and ESEM
Selfconsistent Electron Beam Charging of Non-Conductive Specimen in SEM and ESEM
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Selfconsistent Electron Beam Charging of Non-Conductive Specimen in SEM and ESEM

Fitting, H-J ; Touzin, M

Microscopy and microanalysis, 2006-08, Vol.12 (S02), p.1450-1451 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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10
EDX and Cathodoluminecence Depth Analysis in Ion-implanted SiO2 Layers
EDX and Cathodoluminecence Depth Analysis in Ion-implanted SiO2 Layers
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

EDX and Cathodoluminecence Depth Analysis in Ion-implanted SiO2 Layers

Fitting, H.-J. ; Gaber, M. ; Barfels, T.

Microscopy and microanalysis, 2003-09, Vol.9 (S03), p.104-105 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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