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1
Estudo das etapas de fabricação de dispositivos eletro-termo-ópticos utilizando o interferômetro Mach-Zehnder.
Estudo das etapas de fabricação de dispositivos eletro-termo-ópticos utilizando o interferômetro Mach-Zehnder.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo das etapas de fabricação de dispositivos eletro-termo-ópticos utilizando o interferômetro Mach-Zehnder.

Mina, Alexandre Martin

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2008-07-29

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Estudo e desenvolvimento de guias de onda ARROW, com camadas anti-ressonantes de a-SiC:H e TiOx, para aplicação em dispositivos de óptica integrada.
Estudo e desenvolvimento de guias de onda ARROW, com camadas anti-ressonantes de a-SiC:H e TiOx, para aplicação em dispositivos de óptica integrada.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo e desenvolvimento de guias de onda ARROW, com camadas anti-ressonantes de a-SiC:H e TiOx, para aplicação em dispositivos de óptica integrada.

Carvalho, Daniel Orquiza De

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2008-04-30

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

3
TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides
TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides

Daniel Orquiza de Carvalho Katia Franklin Albertin; Marco Isaías Alayo Chávez 1971-

Physica Status Solidi (c) Warsaw v. 7, n. 3-4, p. 960-963, 2010

Warsaw 2010

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4
Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer
Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer

Daniel Orquiza de Carvalho Katia Franklin Albertin; Marco Isaías Alayo Chávez 1971-

Physica Status Solidi (c) Warsaw v. 7, n. 3-4, p. 719-719, 2010

Warsaw 2010

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5
TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides
TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides

Daniel Orquiza de Carvalho Katia Franklin Albertin; Marco Isaías Alayo Chávez 1971-

Physica Status Solidi (c) Warsaw v. 7, n. 3-4, p. 960-963, 2010

Warsaw 2010

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6
Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer
Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer

Daniel Orquiza de Carvalho Katia Franklin Albertin; Marco Isaías Alayo Chávez 1971-

Physica Status Solidi (c) Warsaw v. 7, n. 3-4, p. 719-719, 2010

Warsaw 2010

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7
Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures
Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures

Alexandre Henrique Gollub Daniel Orquiza de Carvalho; Thiago Costa de Paiva; Marco Isaías Alayo Chávez 1971-

Physica Status Solidi C Weinheim v. 7, n. 3/4, p. 964-967, 2010

Weinheim 2010

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Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures
Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures

Alexandre Henrique Gollub Daniel Orquiza de Carvalho; Thiago Costa de Paiva; Marco Isaías Alayo Chávez 1971-

Physica Status Solidi C Weinheim v. 7, n. 3/4, p. 964-967, 2010

Weinheim 2010

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Neste Assunto:

  1. Filmes Finos
  2. Óptica
  3. Integrated Optic
  4. Pecvd
  5. Mach-Zehnder

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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