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Refinado por: assunto: Applied Sciences remover assunto: Technology remover
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1
Short-time failure of metal interconnect caused by current pulses
Short-time failure of metal interconnect caused by current pulses
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Short-time failure of metal interconnect caused by current pulses

Murguia, J.E. ; Bernstein, J.B.

IEEE electron device letters, 1993-10, Vol.14 (10), p.481-483 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Novel focal plane array integration technology for use in eye-safe imaging ladar receivers
Novel focal plane array integration technology for use in eye-safe imaging ladar receivers
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Novel focal plane array integration technology for use in eye-safe imaging ladar receivers

Vaccaro, Kenneth ; Spaziani, Stephen M ; Dauplaise, Helen M ; Schwall, Darlene ; Roland, Mark ; Murguia, James E ; Lorenzo, Joseph P

SPIE proceedings series, 2001, Vol.4377, p.118-125

Bellingham WA: SPIE

Texto completo disponível

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3
Schottky base edge leakage in Si permeable-base transistors
Schottky base edge leakage in Si permeable-base transistors
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Schottky base edge leakage in Si permeable-base transistors

Murguia, J.E.

IEEE transactions on electron devices, 1987-10, Vol.34 (10), p.2153-2155 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

Texto completo disponível

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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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