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Quantification of soil erosion using 7Be in a steep watershed used for natural grazing in Brazil
Quantification of soil erosion using 7Be in a steep watershed used for natural grazing in Brazil
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Quantification of soil erosion using 7Be in a steep watershed used for natural grazing in Brazil

Esquivel, Alexander Dario ; Moreira, Rubens Martins ; Monteiro, Roberto Pellacani G. ; Rochido Dos Santos, Anômora Ariadne ; Valladares, Diego Leonardo ; Juri Ayub, Jimena

Isotopes in environmental and health studies, 2021-06, Vol.57 (3), p.316-331 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Taylor & Francis

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Multilayer thin-films with chevron-like microstructure
Multilayer thin-films with chevron-like microstructure
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Multilayer thin-films with chevron-like microstructure

Monteiro, O R ; Vizir, A ; Brown, I G

Journal of physics. D, Applied physics, 1998-11, Vol.31 (22), p.3188-3196 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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3
Properties and structural characteristics of Ti-Nb-Al alloys
Properties and structural characteristics of Ti-Nb-Al alloys
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Properties and structural characteristics of Ti-Nb-Al alloys

MATLAKHOVA, L. A ; MATLAKHOV, A. N ; MONTEIRO, S. N ; FEDOTOV, S. G ; GONCHARENKO, B. A

Materials science & engineering. A, Structural materials : properties, microstructure and processing, 2005, Vol.393 (1-2), p.320-326 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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4
High-dose ion implantation using a high-current plasma lens
High-dose ion implantation using a high-current plasma lens
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

High-dose ion implantation using a high-current plasma lens

GONCHAROV, A. A ; PROTSENKO, I. M ; YUSHKOV, G. Yu ; MONTEIRO, O. R ; BROWN, I. G

Surface & coatings technology, 2000, Vol.128-29, p.15-20 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier

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5
Metal ion mixing in diamond
Metal ion mixing in diamond
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Metal ion mixing in diamond

SALVADORI, M. C ; CATTANI, M ; VIZIR, A ; MONTEIRO, O. R ; YU, K. M ; BROWN, I. G

Surface & coatings technology, 2000, Vol.128-29, p.375-380 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier

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