Caracterização óptica e estrutural de filmes GaAs e GaAs:Er crescidos pelo método de evaporação resistiva
E A Morais Lígia de Oliveira Ruggiero; Máximo Siu Li; Luis Vicente de Andrade Scalvi; Seminario Latinoamericano de Análises por Técnicas de Raios X (7. 2000 São Pedro)
Seminario Latinoamericano de Análises por Técnicas de Raios X, 7 São Pedro, 2000
São Pedro 2000
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