A statistical approach of temperature calculation in electrical machines

Chauveau, E. ; Zaim, E.H. ; Trichet, D. ; Fouladgar, J.

New York, NY: IEEE

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Asymptotic calculation of equivalent electromagnetic and thermal properties for composite materials

Trichet, D. ; Chauveau, E. ; Fouladgar, J.

New York, NY: IEEE

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The BiPo-3 detector for the measurement of ultra low natural radioactivities of thin materials

Barabash, A.S. ; Basharina-Freshville, A. ; Birdsall, E. ; Blondel, S. ; Blot, S. ; Bongrand, M. ; Boursette, D. ; Brudanin, V. ; Busto, J. ; Caffrey, A.J. ; Calvez, S. ; Cascella, M. ; Cebrián, S. ; Cerna, C. ; Cesar, J.P ; Chauveau, E. ; Chopra, A. ; Dafní, T. ; Capua, S. De ; Duchesneau, D. ; Durand, D. ; Egorov, V. ; Eurin, G. ; Evans, J.J. ; Fajt, L. ; Filosofov, D. ; Flack, R. ; Garrido, X. ; Gómez, H. ; Guillon, B. ; Guzowski, P. ; Holý, K. ; Hodák, R. ; Huber, A. ; Hugon, C. ; Iguaz, F.J. ; Irastorza, I.G. ; Jeremie, A. ; Jullian, S. ; Kauer, M. ; Klimenko, A. ; Kochetov, O. ; Konovalov, S.I. ; Kovalenko, V. ; Lang, K. ; Lemière, Y. ; Noblet, T. Le ; Liptak, Z. ; Liu, X.R. ; Loaiza, P. ; Lutter, G. ; Luzón, G. ; Macko, M. ; Mamedov, F. ; Marquet, C. ; Mauger, F. ; Morgan, B. ; Mott, J. ; Nemchenok, I. ; Nomachi, M. ; Nova, F. ; Ohsumi, H. ; Oliviéro, G. ; de Solórzano, A. Ortiz ; Pahlka, R.B. ; Pater, J. ; Perrot, F. ; Piquemal, F. ; Povinec, P. ; Přidal, P. ; Ramachers, Y.A. ; Remoto, A. ; Richards, B. ; Riddle, C.L. ; Rukhadze, E. ; Saakyan, R. ; Salazar, R. ; Sarazin, X. ; Shitov, Yu ; Simard, L. ; Šimkovic, F. ; Smetana, A. ; Smolek, K. ; Smolnikov, A. ; Söldner-Rembold, S. ; Soulé, B. ; Štekl, I. ; Thomas, J. ; Timkin, V. ; Torre, S. ; Tretyak, Vl.I. ; Tretyak, V.I. ; Umatov, V.I. ; Vilela, C. ; Vorobel, V. ; Waters, D. ; Žukauskas, A.

Bristol: IOP Publishing

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Precision muon reconstruction in Double Chooz

dos Anjos, J.C. ; Barriere, J.C. ; Baussan, E. ; Bergevin, M. ; Blucher, E. ; Busenitz, J. ; Carr, R. ; Cerrada, M. ; Chauveau, E. ; Chimenti, P. ; Collin, A.P. ; Crespo-Anadón, J.I. ; Crum, K. ; Cucoanes, A. ; Damon, E. ; Dawson, J.V. ; Dhooghe, J. ; Elnimr, M. ; Etenko, A. ; Fallot, M. ; von Feilitzsch, F. ; Felde, J. ; Franke, M. ; Furuta, H. ; Gil-Botella, I. ; Göger-Neff, M. ; Goodman, M.C. ; Grant, C. ; Haag, N. ; Haser, J. ; Hofmann, M. ; Ishitsuka, M. ; Jollet, C. ; Kaether, F. ; Kalousis, L.N. ; Kaplan, D.M. ; Kawasaki, T. ; Kemp, E. ; Kryn, D. ; Kuze, M. ; Lane, C.E. ; Lasserre, T. ; Letourneau, A. ; Lhuillier, D. ; Lima, H.P. ; LoSecco, J.M. ; Lubsandorzhiev, B. ; Lucht, S. ; Maeda, J. ; Mariani, C. ; Martino, J. ; Matsubara, T. ; Mention, G. ; Meregaglia, A. ; Miletic, T. ; Milincic, R. ; Minotti, A. ; Nagasaka, Y. ; Nikitenko, Y. ; Novella, P. ; Oberauer, L. ; Onillon, A. ; Osborn, A. ; Palomares, C. ; Pfahler, P. ; Pronost, G. ; Reichenbacher, J. ; Reinhold, B. ; Röhling, M. ; Roncin, R. ; Schilithz, A.C. ; Schönert, S. ; Shaevitz, M.H. ; Sharankova, R. ; Shimojima, S. ; Shrestha, D. ; Sinev, V. ; Skorokhvatov, M. ; Smith, E. ; Spitz, J. ; Stahl, A. ; Stancu, I. ; Strait, M. ; Stüken, A. ; Suekane, F. ; Sukhotin, S. ; Sumiyoshi, T. ; Sun, Y. ; Svoboda, R. ; Terao, K. ; Tonazzo, A. ; Trinh Thi, H.H. ; Vivier, M. ; Wagner, S. ; Walsh, N. ; Watanabe, H. ; Wiebusch, C. ; Winslow, L. ; Yang, G. ; Yermia, F.

Netherlands: Elsevier

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Structure of zinc-nickel alloyelectrodeposits

BRUET-HOTELLAZ ; BONINO, J. P ; ROUSSET, A ; MAROLLEAU ; CHAUVEAU, E

Heidelberg: Springer

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Measurement of the background in the NEMO 3 double beta decay experiment

Argyriades, J. ; Arnold, R. ; Augier, C. ; Baker, J. ; Barabash, A.S. ; Bongrand, M. ; Broudin-Bay, G. ; Brudanin, V.B. ; Caffrey, A.J. ; Chapon, A. ; Chauveau, E. ; Daraktchieva, Z. ; Durand, D. ; Egorov, V.G. ; Fatemi-Ghomi, N. ; Flack, R. ; Freshville, A. ; Guillon, B. ; Hubert, Ph ; Jullian, S. ; Kauer, M. ; King, S. ; Kochetov, O.I. ; Konovalov, S.I. ; Kovalenko, V.E. ; Lalanne, D. ; Lang, K. ; Lemière, Y. ; Lutter, G. ; Mamedov, F. ; Marquet, Ch ; Martin-Albo, J. ; Mauger, F. ; Nachab, A. ; Nasteva, I. ; Nemchenok, I.B. ; Nguyen, C.H. ; Nova, F. ; Novella, P. ; Ohsumi, H. ; Pahlka, R.B. ; Perrot, F. ; Piquemal, F. ; Reyss, J.L. ; Ricol, J.S. ; Saakyan, R. ; Sarazin, X. ; Simard, L. ; Shitov, Yu.A. ; Smolnikov, A.A. ; Snow, S. ; Söldner-Rembold, S. ; Štekl, I. ; Sutton, C.S. ; Szklarz, G. ; Thomas, J. ; Timkin, V.V. ; Tretyak, V.I. ; Tretyak, Vl.I. ; Umatov, V.I. ; Vála, L. ; Vanyushin, I.A. ; Vasiliev, V.A. ; Vorobel, V. ; Vylov, Ts

Elsevier B.V

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The BiPo-3 detector

Loaiza, P. ; Barabash, A.S. ; Basharina-Freshville, A. ; Birdsall, E. ; Blondel, S. ; Blot, S. ; Bongrand, M. ; Boursette, D. ; Brudanin, V. ; Busto, J. ; Caffrey, A.J. ; Calvez, S. ; Cascella, M. ; Cerna, C. ; Chauveau, E. ; Chopra, A. ; Capua, S. De ; Duchesneau, D. ; Durand, D. ; Egorov, V. ; Eurin, G. ; Evans, J.J. ; Fajt, L. ; Filosofov, D. ; Flack, R. ; Garrido, X. ; Gómez, H. ; Guillon, B. ; Guzowski, P. ; Holý, K. ; Hodák, R. ; Huber, A. ; Hugon, C. ; Jeremie, A. ; Jullian, S. ; Kauer, M. ; Klimenko, A. ; Kochetov, O. ; Konovalov, S.I. ; Kovalenko, V. ; Lang, K. ; Lemière, Y. ; Noblet, T. Le ; Liptak, Z. ; Liu, X.R. ; Lutter, G. ; Macko, M. ; Mamedov, F. ; Marquet, C. ; Mauger, F. ; Morgan, B. ; Mott, J. ; Nemchenok, I. ; Nomachi, M. ; Nova, F. ; Ohsumi, H. ; Oliviéro, G. ; Pahlka, R.B. ; Pater, J. ; Perrot, F. ; Piquemal, F. ; Povinec, P. ; Přidal, P. ; Ramachers, Y.A. ; Remoto, A. ; Richards, B. ; Riddle, C.L. ; Rukhadze, E. ; Saakyan, R. ; Sarazin, X. ; Shitov, Yu ; Simard, L. ; Šimkovic, F. ; Smetana, A. ; Smolek, K. ; Smolnikov, A. ; Söldner-Rembold, S. ; Soulé, B. ; Štekl, I. ; Thomas, J. ; Timkin, V. ; Torre, S. ; Tretyak, Vl.I. ; Tretyak, V.I. ; Umatov, V.I. ; Vilela, C. ; Vorobel, V. ; Waters, D. ; Žukauskas, A.

England: Elsevier Ltd

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High energy resolution electron beam spectrometer in the MeV range

Marquet, C. ; Cerna, C. ; Chauveau, E. ; Chiron, H. ; Claverie, G. ; Daudin, L. ; Delalee, F. ; Huber, A. ; Hugon, C. ; Leblanc, S. ; List, S. ; Lutter, G. ; Moreau, I. ; Perrot, F. ; Piquemal, F. ; Rebii, A. ; Ricol, J.-S. ; Tizon, A.

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Novel event classification based on spectral analysis of scintillation waveforms in Double Chooz

Abrahão, T. ; Almazan, H. ; Anjos, J.C. dos ; Appel, S. ; Bekman, I. ; Bezerra, T.J.C. ; Bezrukov, L. ; Blucher, E. ; Brugière, T. ; Buck, C. ; Busenitz, J. ; Cabrera, A. ; Camilleri, L. ; Cerrada, M. ; Chauveau, E. ; Chimenti, P. ; Corpace, O. ; Crespo-Anadón, J.I. ; Dawson, J.V. ; Djurcic, Z. ; Etenko, A. ; Fallot, M. ; Franco, D. ; Furuta, H. ; Gil-Botella, I. ; Givaudan, A. ; Gómez, H. ; Gonzalez, L.F.G. ; Goodman, M. ; Hara, T. ; Haser, J. ; Hellwig, D. ; Hourlier, A. ; Ishitsuka, M. ; Jochum, J. ; Jollet, C. ; Kale, K. ; Kampmann, P. ; Kaneda, M. ; Kawasaki, T. ; Kemp, E. ; de Kerret, H. ; Kryn, D. ; Kuze, M. ; Lachenmaier, T. ; Lane, C. ; Lasserre, T. ; Lastoria, C. ; Lhuillier, D. ; Lima, H. ; Lindner, M. ; López-Castaño, J.M. ; LoSecco, J.M. ; Lubsandorzhiev, B. ; Maeda, J. ; Mariani, C. ; Maricic, J. ; Matsubara, T. ; Mention, G. ; Meregaglia, A. ; Miletic, T. ; Milincic, R. ; Minotti, A. ; Navas-Nicolás, D. ; Novella, P. ; Oberauer, L. ; Obolensky, M. ; Onillon, A. ; Oralbaev, A. ; Palomares, C. ; Pepe, I. ; Pronost, G. ; Reinhold, B. ; Santorelli, R. ; Schönert, S. ; Schoppmann, S. ; Settimo, M. ; Sharankova, R. ; Sibille, V. ; Sinev, V. ; Skorokhvatov, M. ; Soldin, P. ; Stahl, A. ; Stancu, I. ; Stokes, L.F.F. ; Suekane, F. ; Sukhotin, S. ; Sumiyoshi, T. ; Sun, Y. ; Tonazzo, A. ; Veyssiere, C. ; Viaud, B. ; Vivier, M. ; Wagner, S. ; Wiebusch, C. ; Yang, G. ; Yermia, F.

Bristol: IOP Publishing

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Spectral modeling of scintillator for the NEMO-3 and SuperNEMO detectors

Argyriades, J. ; Arnold, R. ; Augier, C. ; Baker, J. ; Barabash, A.S. ; Bongrand, M. ; Broudin-Bay, G. ; Brudanin, V.B. ; Caffrey, A.J. ; Cebrián, S. ; Chapon, A. ; Chauveau, E. ; Dafni, Th ; Daraktchieva, Z. ; Díaz, J. ; Durand, D. ; Egorov, V.G. ; Evans, J.J. ; Fatemi-Ghomi, N. ; Flack, R. ; Basharina-Freshville, A. ; Fushimi, K.-I. ; Garrido, X. ; Gómez, H. ; Guillon, B. ; Holin, A. ; Holý, K. ; Horkley, J.J. ; Hubert, Ph ; Hugon, C. ; Iguaz, F.J. ; Irastorza, I.G. ; Ishihara, N. ; Jackson, C.M. ; Jullian, S. ; Kanamaru, S. ; Kauer, M. ; Kochetov, O.I. ; Konovalov, S.I. ; Kovalenko, V.E. ; Lalanne, D. ; Lang, K. ; Lemière, Y. ; Lutter, G. ; Luzón, G. ; Mamedov, F. ; Marquet, Ch ; Martin-Albo, J. ; Mauger, F. ; Monrabal, F. ; Nachab, A. ; Nasteva, I. ; Nemchenok, I.B. ; Nguyen, C.H. ; Nova, F. ; Novella, P. ; Ohsumi, H. ; Pahlka, R.B. ; Perrot, F. ; Piquemal, F. ; Povinec, P.P. ; Richards, B. ; Ricol, J.S. ; Riddle, C.L. ; Rodriguez, A. ; Saakyan, R. ; Sarazin, X. ; Sedgbeer, J.K. ; Serra, L. ; Simard, L. ; Šimkovic, F. ; Shitov, Yu.A. ; Smolnikov, A.A. ; Söldner-Rembold, S. ; Štekl, I. ; Sugaya, Y. ; Sutton, C.S. ; Szklarz, G. ; Tamagawa, Y. ; Thomas, J. ; Thompson, R. ; Timkin, V.V. ; Tretyak, V.I. ; Tretyak, Vl.I. ; Umatov, V.I. ; Vála, L. ; Vanyushin, I.A. ; Vasiliev, R. ; Vorobel, V. ; Vylov, Ts ; Waters, D. ; Yahlali, N. ; Žukauskas, A.

United States: Elsevier B.V

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