skip to main content
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Development of a real-time tritium-in-water monitor
Material Type:
Article
Add to e-Shelf

Development of a real-time tritium-in-water monitor

Azevedo, C.D.R. ; Baeza, A. ; Chauveau, E. ; Corbacho, J.A. ; Díaz, J. ; Domange, J. ; Marquet, C. ; Martínez-Roig, M. ; Piquemal, F. ; Prado, D. ; Veloso, J.F.C.A. ; Yahlali, N.

Journal of instrumentation, 2023-12, Vol.18 (12), p.T12008 [Peer Reviewed Journal]

Bristol: IOP Publishing

Full text available

2
The BiPo-3 detector for the measurement of ultra low natural radioactivities of thin materials
Material Type:
Article
Add to e-Shelf

The BiPo-3 detector for the measurement of ultra low natural radioactivities of thin materials

Barabash, A.S. ; Basharina-Freshville, A. ; Birdsall, E. ; Blondel, S. ; Blot, S. ; Bongrand, M. ; Boursette, D. ; Brudanin, V. ; Busto, J. ; Caffrey, A.J. ; Calvez, S. ; Cascella, M. ; Cebrián, S. ; Cerna, C. ; Cesar, J.P ; Chauveau, E. ; Chopra, A. ; Dafní, T. ; Capua, S. De ; Duchesneau, D. ; Durand, D. ; Egorov, V. ; Eurin, G. ; Evans, J.J. ; Fajt, L. ; Filosofov, D. ; Flack, R. ; Garrido, X. ; Gómez, H. ; Guillon, B. ; Guzowski, P. ; Holý, K. ; Hodák, R. ; Huber, A. ; Hugon, C. ; Iguaz, F.J. ; Irastorza, I.G. ; Jeremie, A. ; Jullian, S. ; Kauer, M. ; Klimenko, A. ; Kochetov, O. ; Konovalov, S.I. ; Kovalenko, V. ; Lang, K. ; Lemière, Y. ; Noblet, T. Le ; Liptak, Z. ; Liu, X.R. ; Loaiza, P. ; Lutter, G. ; Luzón, G. ; Macko, M. ; Mamedov, F. ; Marquet, C. ; Mauger, F. ; Morgan, B. ; Mott, J. ; Nemchenok, I. ; Nomachi, M. ; Nova, F. ; Ohsumi, H. ; Oliviéro, G. ; de Solórzano, A. Ortiz ; Pahlka, R.B. ; Pater, J. ; Perrot, F. ; Piquemal, F. ; Povinec, P. ; Přidal, P. ; Ramachers, Y.A. ; Remoto, A. ; Richards, B. ; Riddle, C.L. ; Rukhadze, E. ; Saakyan, R. ; Salazar, R. ; Sarazin, X. ; Shitov, Yu ; Simard, L. ; Šimkovic, F. ; Smetana, A. ; Smolek, K. ; Smolnikov, A. ; Söldner-Rembold, S. ; Soulé, B. ; Štekl, I. ; Thomas, J. ; Timkin, V. ; Torre, S. ; Tretyak, Vl.I. ; Tretyak, V.I. ; Umatov, V.I. ; Vilela, C. ; Vorobel, V. ; Waters, D. ; Žukauskas, A.

Journal of instrumentation, 2017-06, Vol.12 (6), p.P06002-P06002 [Peer Reviewed Journal]

Bristol: IOP Publishing

Full text available

3
High energy resolution electron beam spectrometer in the MeV range
Material Type:
Article
Add to e-Shelf

High energy resolution electron beam spectrometer in the MeV range

Marquet, C. ; Cerna, C. ; Chauveau, E. ; Chiron, H. ; Claverie, G. ; Daudin, L. ; Delalee, F. ; Huber, A. ; Hugon, C. ; Leblanc, S. ; List, S. ; Lutter, G. ; Moreau, I. ; Perrot, F. ; Piquemal, F. ; Rebii, A. ; Ricol, J.-S. ; Tizon, A.

Journal of instrumentation, 2015-09, Vol.10 (9), p.P09008-P09008 [Peer Reviewed Journal]

Full text available

4
Novel event classification based on spectral analysis of scintillation waveforms in Double Chooz
Material Type:
Article
Add to e-Shelf

Novel event classification based on spectral analysis of scintillation waveforms in Double Chooz

Abrahão, T. ; Almazan, H. ; Anjos, J.C. dos ; Appel, S. ; Bekman, I. ; Bezerra, T.J.C. ; Bezrukov, L. ; Blucher, E. ; Brugière, T. ; Buck, C. ; Busenitz, J. ; Cabrera, A. ; Camilleri, L. ; Cerrada, M. ; Chauveau, E. ; Chimenti, P. ; Corpace, O. ; Crespo-Anadón, J.I. ; Dawson, J.V. ; Djurcic, Z. ; Etenko, A. ; Fallot, M. ; Franco, D. ; Furuta, H. ; Gil-Botella, I. ; Givaudan, A. ; Gómez, H. ; Gonzalez, L.F.G. ; Goodman, M. ; Hara, T. ; Haser, J. ; Hellwig, D. ; Hourlier, A. ; Ishitsuka, M. ; Jochum, J. ; Jollet, C. ; Kale, K. ; Kampmann, P. ; Kaneda, M. ; Kawasaki, T. ; Kemp, E. ; de Kerret, H. ; Kryn, D. ; Kuze, M. ; Lachenmaier, T. ; Lane, C. ; Lasserre, T. ; Lastoria, C. ; Lhuillier, D. ; Lima, H. ; Lindner, M. ; López-Castaño, J.M. ; LoSecco, J.M. ; Lubsandorzhiev, B. ; Maeda, J. ; Mariani, C. ; Maricic, J. ; Matsubara, T. ; Mention, G. ; Meregaglia, A. ; Miletic, T. ; Milincic, R. ; Minotti, A. ; Navas-Nicolás, D. ; Novella, P. ; Oberauer, L. ; Obolensky, M. ; Onillon, A. ; Oralbaev, A. ; Palomares, C. ; Pepe, I. ; Pronost, G. ; Reinhold, B. ; Santorelli, R. ; Schönert, S. ; Schoppmann, S. ; Settimo, M. ; Sharankova, R. ; Sibille, V. ; Sinev, V. ; Skorokhvatov, M. ; Soldin, P. ; Stahl, A. ; Stancu, I. ; Stokes, L.F.F. ; Suekane, F. ; Sukhotin, S. ; Sumiyoshi, T. ; Sun, Y. ; Tonazzo, A. ; Veyssiere, C. ; Viaud, B. ; Vivier, M. ; Wagner, S. ; Wiebusch, C. ; Yang, G. ; Yermia, F.

JINST, 2018-01, Vol.13 (1), p.P01031-P01031, Article P01031 [Peer Reviewed Journal]

Bristol: IOP Publishing

Full text available

5
The active muon shield in the SHiP experiment
Material Type:
Article
Add to e-Shelf

The active muon shield in the SHiP experiment

Anokhina, A. ; Atkin, E. ; Back, J.J. ; Bagulya, A. ; Baranov, A. ; Bayliss, V. ; Berdnikov, A.Y. ; Berdnikov, Y.A. ; Bertani, M. ; Bezshyiko, I. ; Bezshyyko, O. ; Bick, D. ; Bieschke, S. ; Breton, D. ; Büscher, V. ; Buonaura, A. ; Cadeddu, S. ; Chernyavsky, M. ; Choi, K.-Y. ; Chumakov, A. ; D'Ambrosio, N. ; D'Appollonio, G. ; Dedenko, L. ; Crescenzo, A. Di ; Marco, N. Di ; Dmitrenko, V. ; Domenici, D. ; Donskov, S. ; Enik, T. ; Ferro-Luzzi, M. ; Fonte, P. ; Franco, C. ; Fukuda, T. ; Galati, G. ; Gavrilov, G. ; Golubkov, D. ; Golutvin, A. ; Gorbunov, S. ; Gorkavenko, V. ; Gornushkin, Y. ; Grachev, V. ; Grichine, V. ; Guz, Yu ; Hagner, C. ; Hakobyan, H. ; Iuliano, A. ; Jacobsson, R. ; Jonker, M. ; Kadenko, I. ; Kamiscioglu, C. ; Kamiscioglu, M. ; Kim, V. ; Kim, Y.G. ; Kolesnikov, A. ; Kolev, D.I. ; Kolosov, V. ; Korol, I. ; Krasilnikova, I. ; Lauria, A. ; Lyubovitskij, V. ; Maalmi, J. ; Magnan, A. ; Mineev, O. ; Montanari, A. ; Movchan, S. ; Novikov, A. ; Ogawa, S. ; Owen, P.H. ; Paparella, L. ; Pereyma, D. ; Petrenko, D. ; Polukhina, N. ; Prokudin, M. ; Prota, A. ; Ratnikov, F. ; Razeti, M. ; Rosa, G. ; Samoylenko, V. ; Serra, N. ; Shaposhnikov, M. ; Shchedrina, T. ; Shustov, A. ; Simone, S. ; Skorokhvatov, M. ; Smirnov, S. ; Sokolenko, A. ; Starkov, N. ; Storaci, B. ; Takahashi, S. ; Tosi, N. ; Treille, D. ; Ulin, S. ; Ustyuzhanin, A. ; Uteshev, Z. ; Venkova, P. ; Vlasik, K. ; Volkov, A. ; Voronkov, R. ; Woo, J.-K. ; Yoon, C.S.

Journal of instrumentation, 2017-05, Vol.12 (5), p.P05011-P05011 [Peer Reviewed Journal]

Bristol: IOP Publishing

Full text available

6
Correlation between quantum well morphology, carrier localization and the optoelectronic properties of GaInNAs/GaAs light emitting diodes
Material Type:
Article
Add to e-Shelf

Correlation between quantum well morphology, carrier localization and the optoelectronic properties of GaInNAs/GaAs light emitting diodes

Ulloa, J M ; Hierro, A ; Miguel-Sánchez, J ; Guzmán, A ; Chauveau, J M ; Trampert, A ; Tournié, E ; Calleja, E

Semiconductor science and technology, 2006-08, Vol.21 (8), p.1047-1052 [Peer Reviewed Journal]

Bristol: IOP Publishing

Full text available

Searching Remote Databases, Please Wait

  • Searching for
  • inscope:(USP_VIDEOS),scope:("PRIMO"),scope:(USP_FISICO),scope:(USP_EREVISTAS),scope:(USP),scope:(USP_EBOOKS),scope:(USP_PRODUCAO),primo_central_multiple_fe
  • Show me what you have so far