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1
Mechanism of copper action on pitting phenomena observed on stainless steels in chloride media
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Mechanism of copper action on pitting phenomena observed on stainless steels in chloride media

Sourisseau, T. ; Chauveau, E. ; Baroux, B.

Corrosion science, 2005-05, Vol.47 (5), p.1097-1117 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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2
The influence of the harmonics on the temperature of electrical Machines
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The influence of the harmonics on the temperature of electrical Machines

Fouladgar, J. ; Chauveau, E.

IEEE transactions on magnetics, 2005-05, Vol.41 (5), p.1644-1647

New York, NY: IEEE

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3
Dissolution of chromium-enriched inclusions and pitting corrosion of resulfurized stainless steels
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Dissolution of chromium-enriched inclusions and pitting corrosion of resulfurized stainless steels

KRAWIEC, H ; VIGNAL, V ; HEINTZ, O ; OLTRA, R ; CHAUVEAU, E

Metallurgical Transactions A, 2006-05, Vol.37 (5), p.1541-1549 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Springer

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4
Lean duplex stainless steels—The role of molybdenum in pitting corrosion of concrete reinforcement studied with industrial and laboratory castings
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Lean duplex stainless steels—The role of molybdenum in pitting corrosion of concrete reinforcement studied with industrial and laboratory castings

Mesquita, T.J. ; Chauveau, E. ; Mantel, M. ; Kinsman, N. ; Roche, V. ; Nogueira, R.P.

Materials chemistry and physics, 2012-02, Vol.132 (2-3), p.967-972 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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5
Structure of zinc-nickel alloyelectrodeposits
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Structure of zinc-nickel alloyelectrodeposits

BRUET-HOTELLAZ ; BONINO, J. P ; ROUSSET, A ; MAROLLEAU ; CHAUVEAU, E

Journal of materials science, 1999-02, Vol.34 (4), p.881-886 [Periódico revisado por pares]

Heidelberg: Springer

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6
Composition Metrology of Ternary Semiconductor Alloys Analyzed by Atom Probe Tomography
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Composition Metrology of Ternary Semiconductor Alloys Analyzed by Atom Probe Tomography

Di Russo, E ; Moyon, F ; Gogneau, N ; Largeau, L ; Giraud, E ; Carlin, J.-F ; Grandjean, N ; Chauveau, J. M ; Hugues, M ; Blum, I ; Lefebvre, W ; Vurpillot, F ; Blavette, D ; Rigutti, L

Journal of physical chemistry. C, 2018-07, Vol.122 (29), p.16704-16714 [Periódico revisado por pares]

American Chemical Society

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7
Microstructure of a near-equimolar refractory high-entropy alloy
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Microstructure of a near-equimolar refractory high-entropy alloy

Couzinié, J.P. ; Dirras, G. ; Perrière, L. ; Chauveau, T. ; Leroy, E. ; Champion, Y. ; Guillot, I.

Materials letters, 2014-07, Vol.126, p.285-287 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
The influence of various MOCVD parameters on the growth of Al1-xInxN ternary alloy on GaN templates
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The influence of various MOCVD parameters on the growth of Al1-xInxN ternary alloy on GaN templates

KIM-CHAUVEAU, H ; DE MIERRY, P ; CHAUVEAU, J.-M ; DUBOZ, J.-Y

Journal of crystal growth, 2011-02, Vol.316 (1), p.30-36 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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9
Use of interface phonon-polaritons for the alloy determination in ZnO/(Zn,Mg)O multiple quantum wells
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Use of interface phonon-polaritons for the alloy determination in ZnO/(Zn,Mg)O multiple quantum wells

Montes Bajo, M. ; Tamayo-Arriola, J. ; Le Biavan, N. ; Martínez Castellano, E. ; Lefebvre, D. ; Hugues, M. ; Chauveau, J.-M. ; Hierro, A.

Applied surface science, 2021-11, Vol.567, p.150816, Article 150816 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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10
Growth of GaN based structures on Si(1 1 0) by molecular beam epitaxy
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Growth of GaN based structures on Si(1 1 0) by molecular beam epitaxy

Cordier, Y. ; Moreno, J.-C. ; Baron, N. ; Frayssinet, E. ; Chauveau, J.-M. ; Nemoz, M. ; Chenot, S. ; Damilano, B. ; Semond, F.

Journal of crystal growth, 2010-09, Vol.312 (19), p.2683-2688 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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