skip to main content
Você quis dizer: mira n?
previous page 1 Resultados 2 3 4 5 next page
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
11
Simultaneous immersion Mirau interferometry
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Simultaneous immersion Mirau interferometry

Lyulko, Oleksandra V ; Randers-Pehrson, Gerhard ; Brenner, David J

Review of scientific instruments, 2013-05, Vol.84 (5), p.053701-053701 [Periódico revisado por pares]

United States: AIP Publishing LLC

Texto completo disponível

12
Super-resolved microsphere-assisted Mirau digital holography by oblique illumination
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Super-resolved microsphere-assisted Mirau digital holography by oblique illumination

Abbasian, Vahid ; Ganjkhani, Yasaman ; Akhlaghi, Ehsan A ; Anand, Arun ; Javidi, Bahram ; Moradi, Ali-Reza

Journal of optics (2010), 2018-06, Vol.20 (6), p.65301 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

Texto completo disponível

13
Super-resolved Mirau digital holography by structured illumination
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Super-resolved Mirau digital holography by structured illumination

Ganjkhani, Yasaman ; Charsooghi, Mohammad A. ; Akhlaghi, Ehsan A. ; Moradi, Ali-Reza

Optics communications, 2017-12, Vol.404, p.110-117 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

14
Micromachined array-type Mirau interferometer for parallel inspection of MEMS
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Micromachined array-type Mirau interferometer for parallel inspection of MEMS

Albero, J ; Bargiel, S ; Passilly, N ; Dannberg, P ; Stumpf, M ; Zeitner, U D ; Rousselot, C ; Gastinger, K ; Gorecki, C

Journal of micromechanics and microengineering, 2011-06, Vol.21 (6), p.065005 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

Texto completo disponível

15
Mirau interferometry of fluid interfaces deformed by colloids under the influence of external fields
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Mirau interferometry of fluid interfaces deformed by colloids under the influence of external fields

Trevenen, S. ; Beltramo, P. J.

Review of scientific instruments, 2022-07, Vol.93 (7), p.073701-073701 [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

Texto completo disponível

16
Mirau-Based CSI with Oscillating Reference Mirror for Vibration Compensation in In-Process Applications
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Mirau-Based CSI with Oscillating Reference Mirror for Vibration Compensation in In-Process Applications

Serbes, Hüseyin ; Gollor, Pascal ; Hagemeier, Sebastian ; Lehmann, Peter

Applied sciences, 2021-10, Vol.11 (20), p.9642 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

Texto completo disponível

17
Accurate In Vivo Bowman's Thickness Measurement Using Mirau Ultrahigh Axial Resolution Line Field Optical Coherence Tomography
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Accurate In Vivo Bowman's Thickness Measurement Using Mirau Ultrahigh Axial Resolution Line Field Optical Coherence Tomography

Lawman, Samuel ; Mason, Sharon ; Kaye, Stephen B. ; Shen, Yao-Chun ; Zheng, Yalin

Translational vision science & technology, 2022-08, Vol.11 (8), p.6-6 [Periódico revisado por pares]

The Association for Research in Vision and Ophthalmology

Texto completo disponível

18
Thin-film thickness profile measurement using a Mirau-type low-coherence interferometer
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Thin-film thickness profile measurement using a Mirau-type low-coherence interferometer

Ghim, Young-Sik ; Rhee, Hyug-Gyo ; Yang, Ho-Soon ; Lee, Yun-Woo

Measurement science & technology, 2013-07, Vol.24 (7), p.75002 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

Texto completo disponível

19
An electrostatic vertical microscanner for phase modulating array-type Mirau microinterferometry
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

An electrostatic vertical microscanner for phase modulating array-type Mirau microinterferometry

Lullin, Justine ; Bargiel, Sylwester ; Lemoal, Patrice ; Perrin, Stéphane ; Albero, Jorge ; Passilly, Nicolas ; Froehly, Luc ; Lardet-Vieudrin, Franck ; Gorecki, Christophe

Journal of micromechanics and microengineering, 2015-11, Vol.25 (11), p.115013-12 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

Texto completo disponível

20
Actinic Mask Inspection Using an EUV Microscope –Preparation of a Mirau Interferometer for Phase-Defect Detection
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Actinic Mask Inspection Using an EUV Microscope –Preparation of a Mirau Interferometer for Phase-Defect Detection

Hamamoto, Kazuhiro ; Tanaka, Yuzuru ; Kawashima, Hirotake ; Lee, Seung Yoon ; Hosokawa, Nobuyuki ; Sakaya, Noriyuki ; Hosoya, Morio ; Shoki, Tsutomu ; Watanabe, Takeo ; Kinoshita, Hiroo

Japanese Journal of Applied Physics, 2005-07, Vol.44 (7S), p.5474 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

previous page 1 Resultados 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Artigos  (2.487)
  2. Book Chapters  (72)
  3. Newsletter Articles  (49)
  4. Anais de Congresso  (10)
  5. Livros  (8)
  6. Verbetes  (8)
  7. Resenhas  (5)
  8. Reports  (2)
  9. magazinearticle  (2)
  10. Archival Material / Manuscripts  (1)
  11. Dissertações  (1)
  12. Mais opções open sub menu

Autor/Criador 

  1. Gauley, S  (1)
  2. Mirau, P  (1)
  3. Mirau, N  (1)
  4. Aufrecht, W  (1)
  5. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
  1. Antes de1980  (17)
  2. 1980Até1990  (114)
  3. 1991Até2001  (339)
  4. 2002Até2013  (984)
  5. Após 2013  (1.214)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (2.592)
  2. Japonês  (360)
  3. Espanhol  (25)
  4. Francês  (13)
  5. Alemão  (13)
  6. Português  (9)
  7. Romeno  (6)
  8. Russo  (3)
  9. Persa  (1)
  10. Italiano  (1)
  11. Catalão  (1)
  12. Mais opções open sub menu

Novas Pesquisas Sugeridas

Ignorar minha busca e procurar por tudo

Deste Autor:

  1. Gauley, S
  2. Mirau, P
  3. Mirau, N
  4. Aufrecht, W

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.