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A Tutorial on Ultrareliable and Low-Latency Communications in 6G: Integrating Domain Knowledge Into Deep Learning
A Tutorial on Ultrareliable and Low-Latency Communications in 6G: Integrating Domain Knowledge Into Deep Learning
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A Tutorial on Ultrareliable and Low-Latency Communications in 6G: Integrating Domain Knowledge Into Deep Learning

She, Changyang ; Sun, Chengjian ; Gu, Zhouyou ; Li, Yonghui ; Yang, Chenyang ; Poor, H. Vincent ; Vucetic, Branka

Proceedings of the IEEE, 2021-03, Vol.109 (3), p.204-246 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
UNPU: An Energy-Efficient Deep Neural Network Accelerator With Fully Variable Weight Bit Precision
UNPU: An Energy-Efficient Deep Neural Network Accelerator With Fully Variable Weight Bit Precision
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UNPU: An Energy-Efficient Deep Neural Network Accelerator With Fully Variable Weight Bit Precision

Lee, Jinmook ; Kim, Changhyeon ; Kang, Sanghoon ; Shin, Dongjoo ; Kim, Sangyeob ; Yoo, Hoi-Jun

IEEE journal of solid-state circuits, 2019-01, Vol.54 (1), p.173-185 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Generative Adversarial Attack on Ensemble Clustering
Generative Adversarial Attack on Ensemble Clustering
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Generative Adversarial Attack on Ensemble Clustering

Kumar, Chetan ; Kumar, Deepak ; Shao, Ming

2022 IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV), 2022, p.3839-3848

IEEE

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4
Deep Reinforcement Learning: A Survey
Deep Reinforcement Learning: A Survey
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Deep Reinforcement Learning: A Survey

Wang, Xu ; Wang, Sen ; Liang, Xingxing ; Zhao, Dawei ; Huang, Jincai ; Xu, Xin ; Dai, Bin ; Miao, Qiguang

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2024-04, Vol.35 (4), p.5064-5078

United States: IEEE

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5
Explainable deep learning for efficient and robust pattern recognition: A survey of recent developments
Explainable deep learning for efficient and robust pattern recognition: A survey of recent developments
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Explainable deep learning for efficient and robust pattern recognition: A survey of recent developments

Bai, Xiao ; Wang, Xiang ; Liu, Xianglong ; Liu, Qiang ; Song, Jingkuan ; Sebe, Nicu ; Kim, Been

Pattern recognition, 2021-12, Vol.120, p.108102, Article 108102 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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6
System Design for Epidemics Using Machine Learning and Deep Learning
System Design for Epidemics Using Machine Learning and Deep Learning
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

System Design for Epidemics Using Machine Learning and Deep Learning

Kanagachidambaresan, G. R ; Bhatia, Dinesh ; Kumar, Dhilip ; Mishra, Animesh Kanagachidambaresan, G. R. ; Bhatia, Dinesh ; Kumar, Dhilip ; Mishra, Animesh

Cham: Springer International Publishing AG 2023

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Applications of Deep Learning and Reinforcement Learning to Biological Data
Applications of Deep Learning and Reinforcement Learning to Biological Data
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Applications of Deep Learning and Reinforcement Learning to Biological Data

Mahmud, Mufti ; Kaiser, Mohammed Shamim ; Hussain, Amir ; Vassanelli, Stefano

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2018-06, Vol.29 (6), p.2063-2079

United States: IEEE

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8
The Emerging Trends of Multi-Label Learning
The Emerging Trends of Multi-Label Learning
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The Emerging Trends of Multi-Label Learning

Liu, Weiwei ; Wang, Haobo ; Shen, Xiaobo ; Tsang, Ivor W.

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2022-11, Vol.44 (11), p.7955-7974 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Adversarial Examples: Attacks and Defenses for Deep Learning
Adversarial Examples: Attacks and Defenses for Deep Learning
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Adversarial Examples: Attacks and Defenses for Deep Learning

Yuan, Xiaoyong ; He, Pan ; Zhu, Qile ; Li, Xiaolin

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2019-09, Vol.30 (9), p.2805-2824

United States: IEEE

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10
Learning From Noisy Labels With Deep Neural Networks: A Survey
Learning From Noisy Labels With Deep Neural Networks: A Survey
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Learning From Noisy Labels With Deep Neural Networks: A Survey

Song, Hwanjun ; Kim, Minseok ; Park, Dongmin ; Shin, Yooju ; Lee, Jae-Gil

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2023-11, Vol.34 (11), p.8135-8153

United States: IEEE

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