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Refinado por: autor: International Conference on Future Internet of Things and Cloud - FiCloud remover Nome da Publicação: Proceedings remover
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Improving IoT module testability with test-driven development and machine learning
Improving IoT module testability with test-driven development and machine learning
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Improving IoT module testability with test-driven development and machine learning

Victor Takashi Hayashi Cairo Mateus Neves Ribeiro; Artino Quintino Filho; Matheus Ancelmo Bonfim Pita; Bruno Manias Trazzi; Júlio Cezar Estrella; Wilson Vicente Ruggiero; International Conference on Future Internet of Things and Cloud - FiCloud (8. 2021 Roma)

Proceedings Piscataway : IEEE, 2021

Piscataway IEEE 2021

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-3052061 )(Acessar)

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