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Reliability of SiC power devices and its influence on their commercialization - review, status, and remaining issues
Reliability of SiC power devices and its influence on their commercialization - review, status, and remaining issues
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Reliability of SiC power devices and its influence on their commercialization - review, status, and remaining issues

Treu, M ; Rupp, R ; Solkner, G

2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010, p.156-161

IEEE

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12
Enhancement mode gallium nitride transistor reliability
Enhancement mode gallium nitride transistor reliability
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Enhancement mode gallium nitride transistor reliability

Lidow, Alex ; Strittmatter, Rob ; Chunhua Zhou ; Yanping Ma

2015 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2015, p.2E.1.1-2E.1.5

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Recent advances in harsh environment acoustic wave sensors for contemporary applications
Recent advances in harsh environment acoustic wave sensors for contemporary applications
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Recent advances in harsh environment acoustic wave sensors for contemporary applications

da Cunha, M. Pereira ; Lad, R. J. ; Moonlight, T. ; Moulzolf, S. ; Canabal, A. ; Behanan, R. ; Davulis, P. M. ; Frankel, D. ; Bernhardt, G. ; Pollard, T. ; McCann, D. F.

2011 IEEE SENSORS Proceedings, 2011, p.614-617

IEEE

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14
Geant4 low energy electromagnetic physics
Geant4 low energy electromagnetic physics
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Geant4 low energy electromagnetic physics

Chauvie, S. ; Guatelli, S. ; Ivanchenko, V. ; Longo, F. ; Mantero, A. ; Mascialino, B. ; Nieminen, P. ; Pandola, L. ; Parlati, S. ; Peralta, L. ; Pia, M.G. ; Piergentili, M. ; Rodrigues, P. ; Saliceti, S. ; Tnndade, A.

IEEE Symposium Conference Record Nuclear Science 2004, 2004, Vol.3, p.1881-1885 Vol. 3

IEEE

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A case study of electromigration reliability: From design point to system operations
A case study of electromigration reliability: From design point to system operations
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A case study of electromigration reliability: From design point to system operations

Baozhen Li ; Muller, Paul ; Warnock, James ; Sigal, Leon ; Badami, Dinesh

2015 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2015, p.2D.1.1-2D.1.6

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Evaluation of large volume SrI2(Eu) scintillator detectors
Evaluation of large volume SrI2(Eu) scintillator detectors
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Evaluation of large volume SrI2(Eu) scintillator detectors

Sturm, B W ; Cherepy, N J ; Drury, O B ; Thelin, P A ; Fisher, S E ; Magyar, A F ; Payne, S A ; Burger, A ; Boatner, L A ; Ramey, J O ; Shah, K S ; Hawrami, R

IEEE Nuclear Science Symposuim & Medical Imaging Conference, 2010, p.1607-1611

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Numerical study of GaN-on-Si HEMT breakdown instability accounting for substrate and packaging interactions
Numerical study of GaN-on-Si HEMT breakdown instability accounting for substrate and packaging interactions
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Numerical study of GaN-on-Si HEMT breakdown instability accounting for substrate and packaging interactions

Monti, F. ; Imperiale, I. ; Reggiani, S. ; Gnani, E. ; Gnudi, A. ; Baccarani, G. ; Nguyen, L. ; Hernandez-Luna, A. ; Huckabee, J. ; Tipirneni, N. ; Denison, M.

2015 IEEE 27th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), 2015, p.381-384

IEEE

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A W-band low-noise amplifier with 22K noise temperature
A W-band low-noise amplifier with 22K noise temperature
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A W-band low-noise amplifier with 22K noise temperature

Bryerton, E.W. ; Xiaobing Mei ; Young-Min Kim ; Deal, W. ; Yoshida, W. ; Lange, M. ; Uyeda, J. ; Morgan, M. ; Lai, R.

2009 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, 2009, p.681-684

IEEE

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19
Compressed ISAR autofocusing: Experimental results
Compressed ISAR autofocusing: Experimental results
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Compressed ISAR autofocusing: Experimental results

Daiyin Zhu ; Yong Li ; Xiang Yu ; Wei Zhang ; Zhaoda Zhu

2012 IEEE Radar Conference, 2012, p.0425-0430

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Predictive simulation of CDM events to study effects of package, substrate resistivity and placement of ESD protection circuits on reliability of integrated circuits
Predictive simulation of CDM events to study effects of package, substrate resistivity and placement of ESD protection circuits on reliability of integrated circuits
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Predictive simulation of CDM events to study effects of package, substrate resistivity and placement of ESD protection circuits on reliability of integrated circuits

Shukla, Vrashank ; Jack, Nathan ; Rosenbaum, Elyse

2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010, p.485-493

IEEE

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