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Impact of the backside potential on the current collapse of GaN SBDs and HEMTs
Impact of the backside potential on the current collapse of GaN SBDs and HEMTs
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Impact of the backside potential on the current collapse of GaN SBDs and HEMTs

Croon, J. A. ; Hurkx, G. A. M. ; Donkers, J. J. T. M. ; Sonsky, J.

2015 IEEE 27th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), 2015, p.365-368

IEEE

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2
Multi-lead organic air-cavity package for high power high frequency RFICs
Multi-lead organic air-cavity package for high power high frequency RFICs
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Multi-lead organic air-cavity package for high power high frequency RFICs

Dougherty, D. ; Mahalingam, M. ; Viswanathan, V. ; Zimmerman, M.

2009 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, 2009, p.473-476

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3
Wafer-level MEMS package and its reliability issues
Wafer-level MEMS package and its reliability issues
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Wafer-level MEMS package and its reliability issues

Tanaka, S. ; Esashi, M.

2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.6B.1.1-6B.1.5

IEEE

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4
Climbing Drum Peel (CDP) Test Method for Characterizing Adhesion in Flexible PV Modules
Climbing Drum Peel (CDP) Test Method for Characterizing Adhesion in Flexible PV Modules
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Climbing Drum Peel (CDP) Test Method for Characterizing Adhesion in Flexible PV Modules

Bheemreddy, Venkata ; Hardikar, Kedar

2017 IEEE 44th Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2017, p.2688-2691

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5
Large Area Nanostructure Integration for Broad-Spectrum, Omnidirectional Antireflection Improvements on Polymer Packaged, Mechanically Flexible, Epitaxial Lift-Off III-V Solar Cells
Large Area Nanostructure Integration for Broad-Spectrum, Omnidirectional Antireflection Improvements on Polymer Packaged, Mechanically Flexible, Epitaxial Lift-Off III-V Solar Cells
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Large Area Nanostructure Integration for Broad-Spectrum, Omnidirectional Antireflection Improvements on Polymer Packaged, Mechanically Flexible, Epitaxial Lift-Off III-V Solar Cells

Cossio, Gabriel ; Jihwan Lee ; Ragunathan, Gautham ; Wibowo, Andre ; Tatavarti, Sudersena Rao ; Sablon, Kimberly ; Yu, Edward T.

2017 IEEE 44th Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2017, p.1181-1183

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6
Reliability of SiC power devices and its influence on their commercialization - review, status, and remaining issues
Reliability of SiC power devices and its influence on their commercialization - review, status, and remaining issues
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Reliability of SiC power devices and its influence on their commercialization - review, status, and remaining issues

Treu, M ; Rupp, R ; Solkner, G

2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010, p.156-161

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7
Enhancement mode gallium nitride transistor reliability
Enhancement mode gallium nitride transistor reliability
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Enhancement mode gallium nitride transistor reliability

Lidow, Alex ; Strittmatter, Rob ; Chunhua Zhou ; Yanping Ma

2015 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2015, p.2E.1.1-2E.1.5

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8
Recent advances in harsh environment acoustic wave sensors for contemporary applications
Recent advances in harsh environment acoustic wave sensors for contemporary applications
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Recent advances in harsh environment acoustic wave sensors for contemporary applications

da Cunha, M. Pereira ; Lad, R. J. ; Moonlight, T. ; Moulzolf, S. ; Canabal, A. ; Behanan, R. ; Davulis, P. M. ; Frankel, D. ; Bernhardt, G. ; Pollard, T. ; McCann, D. F.

2011 IEEE SENSORS Proceedings, 2011, p.614-617

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9
Geant4 low energy electromagnetic physics
Geant4 low energy electromagnetic physics
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Geant4 low energy electromagnetic physics

Chauvie, S. ; Guatelli, S. ; Ivanchenko, V. ; Longo, F. ; Mantero, A. ; Mascialino, B. ; Nieminen, P. ; Pandola, L. ; Parlati, S. ; Peralta, L. ; Pia, M.G. ; Piergentili, M. ; Rodrigues, P. ; Saliceti, S. ; Tnndade, A.

IEEE Symposium Conference Record Nuclear Science 2004, 2004, Vol.3, p.1881-1885 Vol. 3

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10
Evaluation of large volume SrI2(Eu) scintillator detectors
Evaluation of large volume SrI2(Eu) scintillator detectors
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Evaluation of large volume SrI2(Eu) scintillator detectors

Sturm, B W ; Cherepy, N J ; Drury, O B ; Thelin, P A ; Fisher, S E ; Magyar, A F ; Payne, S A ; Burger, A ; Boatner, L A ; Ramey, J O ; Shah, K S ; Hawrami, R

IEEE Nuclear Science Symposuim & Medical Imaging Conference, 2010, p.1607-1611

IEEE

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