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Resultados de 11 a 20 de 3.103  para Produção Intelectual da USP

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11
Identificação e quantificação de fases cristalinas do sulfato de cálcio , por difração de raios x
Identificação e quantificação de fases cristalinas do sulfato de cálcio , por difração de raios x
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Identificação e quantificação de fases cristalinas do sulfato de cálcio , por difração de raios x

G Fronzaglia Sílvia Maria de Souza Selmo 1958-; Vahan Agopyan 1951-; Henrique Kahn 1955-; Gypsum Fair'97: Feira Internacional de Tecnologias, Produtos, Servicos, Aplicacoes e Usos do Gesso (1997 Olinda); Encontro Nacional da Gipsita (4. 1997 Olinda); Encontro Nacional do Gesso na Construcao Civil (1. 1997 Olinda)

Olinda : Finep/Sectma/Itep, 1997 Gypsum Fair'97: Anais

Olinda Finep/Sectma/Itep 1997

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12
Análise estrutural das cerâmicas ferroelétricas/relaxoras 'Sr IND.0,73''Pb IND.0,27'Ti'O IND.3' e Pb'Nb IND.2''O IND.6' por meio da técnica de difração de raios X
Análise estrutural das cerâmicas ferroelétricas/relaxoras 'Sr IND.0,73''Pb IND.0,27'Ti'O IND.3' e Pb'Nb IND.2''O IND.6' por meio da técnica de difração de raios X
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Análise estrutural das cerâmicas ferroelétricas/relaxoras 'Sr IND.0,73''Pb IND.0,27'Ti'O IND.3' e Pb'Nb IND.2''O IND.6' por meio da técnica de difração de raios X

P. P. Neves Antonio Carlos Doriguetto; Valmor Roberto Mastelaro; M Mir; J. A Eiras; F. T Martins; D Garcia; Yvonne Primerano Mascarenhas; Reunião Anual de Usuários do Laboratório Nacional de Luz Síncroton - RAU (18. 2008 Campinas)

Resumos Campinas : Laboratório Nacional de Luz Síncrotron - LNLS, 2008

Campinas Laboratório Nacional de Luz Síncrotron 2008

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD014522 ) e outros locais(Acessar)

13
Estudo das cerâmicas ferroelétricas/relaxadoras 'Sr IND.0,73''Pb IND.0,27'Ti'O IND.3' e Pb'Nb IND.2''O IND.6' por difração de raios X utilizando radiação síncrotron
Estudo das cerâmicas ferroelétricas/relaxadoras 'Sr IND.0,73''Pb IND.0,27'Ti'O IND.3' e Pb'Nb IND.2''O IND.6' por difração de raios X utilizando radiação síncrotron
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo das cerâmicas ferroelétricas/relaxadoras 'Sr IND.0,73''Pb IND.0,27'Ti'O IND.3' e Pb'Nb IND.2''O IND.6' por difração de raios X utilizando radiação síncrotron

P. P. Neves M Mir; A. C Doriguetto; F. T Martins; Valmor Roberto Mastelaro; Yvonne Primerano Mascarenhas; J. A Eiras; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (31. 2008 Águas de Lindóia)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2008

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 2008

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

14
Estudo das formas cristalinas de insumos farmacêuticos por meio da técnica de difração de raios X por pó e análise térmica fluconazol, nifedipino, propanolol e mebendazol
Estudo das formas cristalinas de insumos farmacêuticos por meio da técnica de difração de raios X por pó e análise térmica fluconazol, nifedipino, propanolol e mebendazol
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo das formas cristalinas de insumos farmacêuticos por meio da técnica de difração de raios X por pó e análise térmica fluconazol, nifedipino, propanolol e mebendazol

Pérson P. Neves Antonio Carlos Doriguetto; Simone V Pereira; Magali B. de Araújo; Márcia P Veloso; Felipe T Martins; Javier Ellena; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (31. 2008 Águas de Lindóia)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2008

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 2008

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

15
Avaliação de cimento portland a partir da difração de raios x associada à análise por agrupamento
Avaliação de cimento portland a partir da difração de raios x associada à análise por agrupamento
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Avaliação de cimento portland a partir da difração de raios x associada à análise por agrupamento

Luciano de Andrade Gobbo Tarcisio Jose Montanheiro; Filipe Montanheiro; Lília Mascarenhas Sant'Agostino 1948-

Revista do Instituto Geológico São Paulo v. 34, n. 2, p. 41-49, 2013

São Paulo 2013

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16
Caracterização por difração de raios X e dielétrica de cerâmicas ferroelétricas 'Pb IND.1-x'Rx'Zr IND.0,40''Ti IND.0,60''O IND.3' (R= La, Ba)
Caracterização por difração de raios X e dielétrica de cerâmicas ferroelétricas 'Pb IND.1-x'Rx'Zr IND.0,40''Ti IND.0,60''O IND.3' (R= La, Ba)
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterização por difração de raios X e dielétrica de cerâmicas ferroelétricas 'Pb IND.1-x'Rx'Zr IND.0,40''Ti IND.0,60''O IND.3' (R= La, Ba)

A. Mesquita Valmor Roberto Mastelaro; Congresso Brasileiro de Cerâmica (52. 2008 Florianópolis)

Resumo São Paulo : Associação Brasileira de Cerâmica, 2008

São Paulo Associação Brasileira de Cerâmica 2008

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD015033 ) e outros locais(Acessar)

17
Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x
Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x

Carlos Alberto Martins de Carvalho Pimentel, Cecilia de Alvarenga Freire

1985

Localização: IF - Instituto de Física    (548.83 C331d M Ex.2 )(Acessar)

18
Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos
Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos

Manuel Alfredo Espinoza Sanchez Márcia Carvalho de Abreu Fantini

2000

Localização: IF - Instituto de Física    (548.83 E77m M Ex.2 )(Acessar)

19
Estudo da evolução estrutural em semicondutores 'Zn IND. 1-x''Mn IND.x''In IND. 2''Se IND. 4', por técnicas dee difração de raios x
Estudo da evolução estrutural em semicondutores 'Zn IND. 1-x''Mn IND.x''In IND. 2''Se IND. 4', por técnicas dee difração de raios x
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo da evolução estrutural em semicondutores 'Zn IND. 1-x''Mn IND.x''In IND. 2''Se IND. 4', por técnicas dee difração de raios x

J C Mantilla Ochoa Giancarlo Esposito de Souza Brito; Ewout Ter Haar; V Bindilatti (Valdir); Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada 26 (2003 Caxambu)

Resumos São Paulo : SBF, 2003

São Paulo SBF 2003

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20
Análise pelo método de Rietveld com dados de difração de raios X do aço 1045 nitretado por plasma
Análise pelo método de Rietveld com dados de difração de raios X do aço 1045 nitretado por plasma
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Análise pelo método de Rietveld com dados de difração de raios X do aço 1045 nitretado por plasma

Paulo Roberto de Souza Netto Dirceu Spinelli; Simpósio em Ciência e Engenharia de Materiais (4. 2001 São Carlos)

Resumos estendidos São Carlos : IFSC-EESC-IQSC, 2001

São Carlos IFSC-EESC-IQSC 2001

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Deste Autor:

  1. Ellena, J
  2. Mastelaro, V
  3. Craievich, A
  4. Longo, E
  5. Mascarenhas, Y

Neste Assunto:

  1. DIFRAÇÃO POR RAIOS X
  2. Cristalografia
  3. Filmes Finos
  4. Nanopartículas
  5. Fotoluminescência

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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