Low cost capacimeter, metrological analysis

Kramar, M G ; Souza, R U ; Machado, V

Bristol: IOP Publishing

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A wearable, highly stable, strain and bending sensor based on high aspect ratio graphite nanobelts

Alaferdov, A V ; Savu, R ; Rackauskas, T A ; Rackauskas, S ; Canesqui, M A ; de Lara, D S ; Setti, G O ; Joanni, E ; de Trindade, G M ; Lima, U B ; de Souza, A S ; Moshkalev, S A

England: IOP Publishing

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Tuning the photoluminescence by engineering surface states/size of S, N co-doped carbon dots for cellular imaging applications

Sonsin, Artur F ; Silva, Elaine C O ; Marques, Aldilane L X ; Silva, Lais V A T ; Nascimento, Sendy M S ; Souza, Samuel T ; Borbely, Alexandre U ; Barbosa, Cintya D’ Angeles E S ; Fonseca, Eduardo J S

England: IOP Publishing

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Sensitivity of the Cherenkov Telescope Array to a dark matter signal from the Galactic centre

Adam, R. ; Aguirre-Santaella, A. ; Aramo, C. ; Martins, V. Barbosa ; de Almeida, U. Barres ; Tjus, J. Becker ; Berge, D. ; Bernardini, E. ; Bertucci, B. ; Biasuzzi, B. ; Bottacini, E. ; Bregeon, J. ; Bringmann, T. ; Brun, P. ; Buscemi, M. ; Caraveo, P. ; Casanova, S. ; Cassol, F. ; Cauz, D. ; Chaty, S. ; Chernyakova, M. ; Çolak, M. ; Damone, L.A. ; Daniel, M.K. ; Depaoli, D. ; Girolamo, T. Di ; Pierro, F. Di ; Diebold, S. ; Eckner, C. ; Ferrara, G. ; Galaz, G. ; Garczarczyk, M. ; Giordano, F. ; Gourgouliatos, K. ; Granot, J. ; Grillo, A. ; Gunji, S. ; Hofmann, W. ; Hughes, G. ; Kazanas, D. ; Knödlseder, J. ; Kobayashi, Y. ; Kushida, J. ; Lindfors, E. ; Lopez, A. ; López-Coto, R. ; Mallamaci, M. ; de Almeida, R. Malta Nunes ; Marculewicz, M. ; Mbarubucyeye, J.D. ; Miranda, J.M. ; Montaruli, T. ; Morcuende-Parrilla, D. ; Morselli, A. ; Mundell, C. ; Niemiec, J. ; Nosek, D. ; Ohishi, M. ; Orienti, M. ; Orito, R. ; Orlandini, M. ; Orlando, E. ; Ostrowski, M. ; Pagano, I. ; Pagliaro, A. ; Palatiello, M. ; Pantaleo, F.R. ; Pareschi, G. ; Pietropaolo, E. ; Pillera, R. ; Pintore, F. ; Prandini, E. ; Principe, G. ; Queiroz, F. ; Razzaque, S. ; Reimer, O. ; Ribeiro, D. ; Richtler, T. ; Rinchiuso, L. ; Sánchez-Conde, M. ; Sangiorgi, P. ; Saturni, F.G. ; Servillat, M. ; Seweryn, K. ; Shalchi, A. ; Sliusar, V. ; Tibaldo, L. ; Tonev, D. ; Tothill, N. ; Truzzi, S. ; Vallania, P. ; Eldik, C. van ; Varner, G.S. ; Watson, J. ; Weniger, C. ; White, M. ; Williams, D.A. ; Yang, L. ; Zanin, R. ; Zaric, D.

Bristol: IOP Publishing

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Search for CP violation in D (s) + → K - K + K + decays

Aaij, R. ; Adlarson, Patrik ; Eklund, Lars ; Kupsc, Andrzej ; Zunica, G.

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Measurement of the ratio of branching fractions B ( B + c → B 0 s π + ) / B ( B + c →†’ J /ψπ + )

Aaij, R. ; Adlarson, Patrik ; Eklund, Lars ; Kupsc, Andrzej ; Zunica, G.

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Development of a geotextile coated with latex and used as a protection element on heated surfaces

souza, C S ; Mendes, J U L

Bristol: IOP Publishing

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Preliminary Overview of the Extreme Condition Beamline (EMA) at the new Brazilian Synchrotron Source (Sirius)

dos Reis, R D ; Kaneko, U F ; Francisco, B A ; Fonseca Jr, J ; Eleoterio, M A S ; Souza-Neto, N M

Bristol: IOP Publishing

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Sensitivity of the Cherenkov Telescope Array for probing cosmology and fundamental physics with gamma-ray propagation

Abe, H. ; Acero, F. ; Acharyya, A. ; Amato, E. ; Arrabito, L. ; Asano, K. ; Backes, M. ; Balmaverde, B. ; González, J. Becerra ; Boisson, C. ; Bonnoli, G. ; Bordas, P. ; Caproni, A. ; Carosi, R. ; Chiavassa, A. ; Conte, F. ; Coronado-Blazquez, J. ; Caprio, V. De ; Anjos, R. de Cássia dos ; de Naurois, M. ; Volpe, D. della ; Díaz, C. ; Dmytriiev, A. ; Fegan, S. ; Foffano, L. ; Franco, F.J. ; Garczarczyk, M. ; Gourgouliatos, K. ; Cadena, S. Hernández ; Hinton, J. ; Hörandel, J. ; Hovatta, T. ; Hrabovsky, M. ; Hütten, M. ; Janecek, P. ; Karas, V. ; Karkar, S. ; Khélifi, B. ; Kobayashi, Y. ; Lapington, J. ; Lloyd, S. ; Maggio, C. ; Majczyna, A. ; Marcowith, A. ; Martinez, O. ; Minev, M. ; Mitchell, A. ; Molina, E. ; Moralejo, A. ; Niemiec, J. ; Nieto, D. ; Nishijima, K. ; Nosek, D. ; Ohira, Y. ; Orito, R. ; Orlandini, M. ; Osborne, J.P. ; Pantaleo, F.R. ; Pe'er, A. ; Pfrang, K. ; Pietropaolo, E. ; Pillera, R. ; Pita, S. ; Principe, G. ; Pumo, M.L. ; Queiroz, F. ; Quirrenbach, A. ; Razzaque, S. ; Ribó, M. ; Ramirez, J.C. Rodriguez ; Romeo, G. ; Rowell, G. ; Rudak, B. ; Greus, F. Salesa ; Sanchez, D. ; Santos, E.M. ; Sarkar, S. ; Sawangwit, U. ; Schleicher, B. ; Schussler, F. ; Sciacca, E. ; Scuderi, S. ; Sergijenko, O. ; Servillat, M. ; Sinha, A. ; Slowikowska, A. ; Sol, H. ; Suda, Y. ; Tagliaferri, G. ; Testa, V. ; Vacula, M. ; Vallage, B. ; Acosta, M. Vázquez ; Vecchi, M. ; Vercellone, S. ; Walter, R. ; Wiemann, R. ; Zacharias, M. ; Zaharijas, G. ; Zaric, D.

Bristol: IOP Publishing

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Precision measurement of D meson mass differences

Affolder, A. ; Ali, S. ; Anderlini, L. ; Artamonov, A. ; Artuso, M. ; Baldini, W. ; Barsuk, S. ; Bauer, Th ; Benson, S. ; Berezhnoy, A. ; Bifani, S. ; Blusk, S. ; Brett, D. ; Brown, H. ; Burducea, I. ; Calvo Gomez, M. ; Camboni, A. ; Campora Perez, D. ; Cardinale, R. ; Charpentier, Ph ; Cook, A. ; Coquereau, S. ; Davis, A. ; De Bonis, I. ; De Miranda, J. M. ; Del Buono, L. ; Dettori, F. ; Dijkstra, H. ; Dupertuis, F. ; Easo, S. ; Elsasser, Ch ; Elsby, D. ; Gao, Y. ; Garofoli, J. ; Garosi, P. ; Garra Tico, J. ; Gauld, R. ; Gersabeck, M. ; Graugés, E. ; Haefeli, G. ; Hampson, T. ; Harnew, S. T. ; van Herwijnen, E. ; Hicks, E. ; Hill, D. ; Idzik, M. ; Ilten, P. ; Jing, F. ; Kaballo, M. ; Kenyon, I. R. ; Lafferty, G. ; Lai, A. ; van Leerdam, J. ; Leo, S. ; Lindner, R. ; Longstaff, I. ; Machefert, F. ; Maev, O. ; Mancinelli, G. ; Märki, R. ; Marks, J. ; Martellotti, G. ; Massafferri, A. ; McCarthy, J. ; McNab, A. ; Mountain, R. ; Muheim, F. ; Muster, B. ; Oggero, S. ; Palutan, M. ; Patel, G. D. ; Patel, M. ; Patrick, G. N. ; Pavel-Nicorescu, C. ; Popovici, B. ; Raniuk, I. ; Rauschmayr, N. ; Rinnert, K. ; Roa Romero, D. A. ; Sabatino, G. ; Santovetti, E. ; Schmelling, M. ; Schneider, O. ; Senderowska, K. ; Shatalov, P. ; Shcheglov, Y. ; Soler, F. J. P. ; Souza, D. ; Teodorescu, E. ; Thomas, C. ; Tonelli, D. ; Topp-Joergensen, S. ; Torr, N. ; Vollhardt, A. ; Websdale, D. ; Wyllie, K. ; Xie, Y. ; Yuan, X. ; Zhang, W. C. ; Zvyagin, A.

Berlin/Heidelberg: Springer-Verlag

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