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1	Material Type: Artigo		Mind the Microgap in Iridescent Cellulose Nanocrystal Films Fernandes, Susete N. ; Almeida, Pedro L. ; Monge, Nuno ; Aguirre, Luis E. ; Reis, Dennys ; de Oliveira, Cristiano L. P. ; Neto, António M. F. ; Pieranski, Pawel ; Godinho, Maria H. Advanced materials (Weinheim), 2017-01, Vol.29 (2), p.np-n/a [Periódico revisado por pares] Germany: Wiley Subscription Services, Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Characterization of n-Type and p-Type Long-Wave InAs/InAsSb Superlattices Brown, A. E. ; Baril, N. ; Zuo, D. ; Almeida, L. A. ; Arias, J. ; Bandara, S. Journal of electronic materials, 2017-09, Vol.46 (9), p.5367-5373 [Periódico revisado por pares] New York: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Electrical properties of a liquid crystal dispersed in an electrospun cellulose acetate network Maximean, Doina Manaila ; Danila, Octavian ; Almeida, Pedro L ; Ganea, Constantin Paul Beilstein journal of nanotechnology, 2018-01, Vol.9 (1), p.155-163 [Periódico revisado por pares] Germany: Beilstein-Institut zur Föerderung der Chemischen Wissenschaften Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Correlation of Etch Pits and Dislocations in As-grown and Thermal Cycle-Annealed HgCdTe(211) Films Vaghayenegar, M. ; Jacobs, R. N. ; Benson, J. D. ; Stoltz, A. J. ; Almeida, L. A. ; Smith, David J. Journal of electronic materials, 2017-08, Vol.46 (8), p.5007-5019 [Periódico revisado por pares] New York: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Defects and the Formation of Impurity ‘Hot Spots’ in HgCdTe/CdZnTe Benson, J. D. ; Bubulac, L. O. ; Jacobs, R. N. ; Wang, A. ; Arias, J. M. ; Almeida, L. A. ; Stoltz, A. ; Reddy, M. ; Peterson, J. M. ; Johnson, S. M. ; Bangs, J. W. ; Lofgreen, D. D. Journal of electronic materials, 2019-10, Vol.48 (10), p.6194-6202 [Periódico revisado por pares] New York: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		TEM Characterization of HgCdTe/CdTe Grown on GaAs(211)B Substrates Kim, Jae Jin ; Jacobs, R. N. ; Almeida, L. A. ; Jaime-Vasquez, M. ; Nozaki, C. ; Smith, David J. Journal of electronic materials, 2013-11, Vol.42 (11), p.3142-3147 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		A Review of the Characterization Techniques for the Analysis of Etch Processed Surfaces of HgCdTe and Related Compounds Stoltz, A. J. ; Benson, J. D. ; Jaime-Vasquez, M. ; Smith, P. J. ; Almeida, L. A. ; Jacobs, R. ; Markunas, J. ; Brogden, K. ; Brown, A. ; Lennon, C. ; Maloney, P. ; Supola, N. Journal of electronic materials, 2014-09, Vol.43 (9), p.3708-3717 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Improved retention times in UTBOX nMOSFETs for 1T-DRAM applications Sasaki, K.R.A. ; Nicoletti, T. ; Almeida, L.M. ; dos Santos, S.D. ; Nissimoff, A. ; Aoulaiche, M. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Martino, J.A. Solid-state electronics, 2014-07, Vol.97, p.30-37 [Periódico revisado por pares] Kidlington: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Impact of Tellurium Precipitates in CdZnTe Substrates on MBE HgCdTe Deposition Benson, J. D. ; Bubulac, L. O. ; Smith, P. J. ; Jacobs, R. N. ; Markunas, J. K. ; Jaime-Vasquez, M. ; Almeida, L. A. ; Stoltz, A. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Brill, G. ; Chen, Y. ; Peterson, J. ; Reddy, M. ; Vilela, M. F. ; Johnson, S. M. ; Lofgreen, D. D. ; Yulius, A. ; Bostrup, G. ; Carmody, M. ; Lee, D. ; Couture, S. Journal of electronic materials, 2014-11, Vol.43 (11), p.3993-3998 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Impact of CdZnTe Substrates on MBE HgCdTe Deposition Benson, J. D. ; Bubulac, L. O. ; Jaime-Vasquez, M. ; Arias, J. M. ; Smith, P. J. ; Jacobs, R. N. ; Markunas, J. K. ; Almeida, L. A. ; Stoltz, A. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Peterson, J. ; Reddy, M. ; Jones, K. ; Johnson, S. M. ; Lofgreen, D. D. Journal of electronic materials, 2017-09, Vol.46 (9), p.5418-5423 [Periódico revisado por pares] New York: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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