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1
Poly(Vinylidene Fluoride-Trifluorethylene)/barium titanate membrane promotes de novo bone formation and may modulate gene expression in osteoporotic rat model
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Poly(Vinylidene Fluoride-Trifluorethylene)/barium titanate membrane promotes de novo bone formation and may modulate gene expression in osteoporotic rat model

Scalize, Priscilla Hakime ; Bombonato-Prado, Karina F. ; de Sousa, Luiz Gustavo ; Rosa, Adalberto Luiz ; Beloti, Marcio Mateus ; Semprini, Marisa ; Gimenes, Rossano ; de Almeida, Adriana L. G. ; de Oliveira, Fabíola Singaretti ; Hallak Regalo, Simone Cecilio ; Siessere, Selma

Journal of materials science. Materials in medicine, 2016-12, Vol.27 (12), p.180-180, Article 180 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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2
Microstructural Investigation of the Magnetic Behavior of a Modified HP-NbTi Heat-Resistant Cast Austenitic Stainless Steel
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Microstructural Investigation of the Magnetic Behavior of a Modified HP-NbTi Heat-Resistant Cast Austenitic Stainless Steel

Dille, J. ; Pacheco, C. J. ; Malet, L. ; Mendes, M. C. ; Araujo, L. S. ; Gaudencio, M. ; Eckstein, C. B. ; Nogueira, L. ; Rebello, J. M. A. ; Pereira, G. R. ; De Almeida, L. H.

Metallurgical and materials transactions. A, Physical metallurgy and materials science, 2021-04, Vol.52 (4), p.1260-1268 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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3
Reduction of Dislocation Density by Producing Novel Structures
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Reduction of Dislocation Density by Producing Novel Structures

Stoltz, A. J. ; Benson, J. D. ; Jacobs, R. ; Smith, P. ; Almeida, L. A. ; Carmody, M. ; Farrell, S. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Brill, G. ; Chen, Y.

Journal of electronic materials, 2012-10, Vol.41 (10), p.2949-2956 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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4
Failure of a Bucket-Wheel Stacker Reclaimer: Metallographic and Structural Analyses
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Failure of a Bucket-Wheel Stacker Reclaimer: Metallographic and Structural Analyses

ARAUJO, L. S ; DE ALMEIDA, L. H ; BATISTA, E. M ; LANDESMANN, A

Journal of failure analysis and prevention, 2012-08, Vol.12 (4), p.402-407 [Periódico revisado por pares]

Materials Park, OH: ASM International

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5
The Distribution Tail of LWIR HgCdTe-on-Si FPAs: a Hypothetical Physical Mechanism
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The Distribution Tail of LWIR HgCdTe-on-Si FPAs: a Hypothetical Physical Mechanism

Bubulac, L. O. ; Benson, J.D. ; Jacobs, R.N. ; Stoltz, A.J. ; Jaime-Vasquez, M. ; Almeida, L. A. ; Wang, A. ; Wang, L. ; Hellmer, R. ; Golding, T. ; Dinan, J.H. ; Carmody, M. ; Wijewarnasuriya, P.S. ; Lee, M.F. ; Vilela, M.F. ; Peterson, J. ; Johnson, S.M. ; Lofgreen, D.F. ; Rhiger, D.

Journal of electronic materials, 2011-03, Vol.40 (3), p.280-288 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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6
Dislocation Analysis in (112)B HgCdTe/CdTe/Si
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Dislocation Analysis in (112)B HgCdTe/CdTe/Si

Benson, J. D. ; Farrell, S. ; Brill, G. ; Chen, Y. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Bubulac, L. O. ; Smith, P. J. ; Jacobs, R. N. ; Markunas, J. K. ; Jaime-Vasquez, M. ; Almeida, L. A. ; Stoltz, A. ; Lee, U. ; Vilela, M. F. ; Peterson, J. ; Johnson, S. M. ; Lofgreen, D. D. ; Rhiger, D. ; Patten, E. A. ; Goetz, P. M.

Journal of electronic materials, 2011-08, Vol.40 (8), p.1847-1853 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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7
The Effects of Microvoid Defects on MWIR HgCdTe-Based Diodes
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The Effects of Microvoid Defects on MWIR HgCdTe-Based Diodes

Billman, C. A. ; Almeida, L. A. ; Smith, P. ; Arias, J. M. ; Chen, A. ; Lee, D. ; Piquette, E. C.

Journal of electronic materials, 2011-08, Vol.40 (8), p.1693-1698 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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8
Growth and Analysis of HgCdTe on Alternate Substrates
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Growth and Analysis of HgCdTe on Alternate Substrates

Benson, J.D. ; Bubulac, L.O. ; Smith, P.J. ; Jacobs, R.N. ; Markunas, J.K. ; Jaime-Vasquez, M. ; Almeida, L.A. ; Stoltz, A. ; Arias, J.M. ; Brill, G. ; Chen, Y. ; Wijewarnasuriya, P.S. ; Farrell, S. ; Lee, U.

Journal of electronic materials, 2012-10, Vol.41 (10), p.2971-2974 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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9
Development of MBE II–VI Epilayers on GaAs(211)B
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Development of MBE II–VI Epilayers on GaAs(211)B

Jacobs, R.N. ; Nozaki, C. ; Almeida, L.A. ; Jaime-Vasquez, M. ; Lennon, C. ; Markunas, J.K. ; Benson, D. ; Smith, P. ; Zhao, W.F. ; Smith, D.J. ; Billman, C. ; Arias, J. ; Pellegrino, J.

Journal of electronic materials, 2012-10, Vol.41 (10), p.2707-2713 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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10
Failure Analysis of a Copper Tube for Pneumatic System
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Failure Analysis of a Copper Tube for Pneumatic System

ARAUJO, L. S ; DE ALMEIDA, L. H ; PEREIRA, D. A

Journal of failure analysis and prevention, 2013-04, Vol.13 (2), p.202-206 [Periódico revisado por pares]

Materials Park, OH: ASM International

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