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An introduction to the generalised theory of data scatter
An introduction to the generalised theory of data scatter
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

An introduction to the generalised theory of data scatter

Doyle, G ; McMillan, N. D ; Murtagh, F ; O'Neill, M ; Riedel, S

Proc. SPIE, 2005, Vol.5823, p.258-268

Bellingham, Wash: SPIE

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2
Phase coherence theory for data-mining and analysis: application studies in spectroscopy
Phase coherence theory for data-mining and analysis: application studies in spectroscopy
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Phase coherence theory for data-mining and analysis: application studies in spectroscopy

Doyle, G ; McMillan, N. D ; Murtagh, F ; O'Neill, M ; Riedel, S ; Perova, T. S ; Unnikrishnan, S ; Moore, R. A

Proc. SPIE, 2005, Vol.5823, p.70-81

Bellingham, Wash: SPIE

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3
Tensiograph drop volume method for characterization of alcohols and bifunctional liquids
Tensiograph drop volume method for characterization of alcohols and bifunctional liquids
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Tensiograph drop volume method for characterization of alcohols and bifunctional liquids

Morrin, D ; McMillan, N. D ; Beverley, K ; O'Neill, M ; O'Rourke, B ; Dunne, G ; Riedel, S ; Augousti, A ; Mason, J ; Murtagh, F ; Kokuer, M

Proc. SPIE, 2005, Vol.5826, p.670-678

Bellingham, Wash: SPIE

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4
High-quality still images from video frame sequences
High-quality still images from video frame sequences
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

High-quality still images from video frame sequences

Daubos, Thierry ; Murtagh, Fionn D

SPIE proceedings series, 2002, Vol.4709, p.49-59

Bellingham WA: SPIE

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5
Bayesian Segmentation and Clustering for Determining Cloud Mask Images
Bayesian Segmentation and Clustering for Determining Cloud Mask Images
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Bayesian Segmentation and Clustering for Determining Cloud Mask Images

Barreto, Dacil ; Murtagh, Fionn D ; Marcello, Javier

SPIE proceedings series, 2003, Vol.4877, p.144-155

Bellingham WA: SPIE

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6
Bayesian Model Selection for Spatial Clustering in 3D Surveys
Bayesian Model Selection for Spatial Clustering in 3D Surveys
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Bayesian Model Selection for Spatial Clustering in 3D Surveys

Murtagh, Fionn D ; Donalek, C ; Longo, Giuseppe ; Tagliaferri, Roberto

SPIE 2002

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7
Model-based methods for textile fault detection
Model-based methods for textile fault detection
Material Type:
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Model-based methods for textile fault detection

Campbell, J. G. ; Fraley, C. ; Stanford, D. ; Murtagh, F. ; Raftery, A. E.

International journal of imaging systems and technology, 1999, Vol.10 (4), p.339-346 [Periódico revisado por pares]

New York: John Wiley & Sons, Inc

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8
Multiresolution Filtering and Segmentation of Multispectral Images
Multiresolution Filtering and Segmentation of Multispectral Images
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Multiresolution Filtering and Segmentation of Multispectral Images

Murtagh, Fionn D ; Collet, Christophe ; Louys, Mireille ; Starck, Jean-Luc

SPIE 2002

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9
Bayesian inference for multiband image segmentation via model-based cluster trees
Bayesian inference for multiband image segmentation via model-based cluster trees
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Bayesian inference for multiband image segmentation via model-based cluster trees

Murtagh, Fionn ; Raftery, Adrian E. ; Starck, Jean-Luc

Image and vision computing, 2005-06, Vol.23 (6), p.587-596 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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10
Automated quantification of brain magnetic resonance image hyperintensities using hybrid clustering and knowledge-based methods
Automated quantification of brain magnetic resonance image hyperintensities using hybrid clustering and knowledge-based methods
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Automated quantification of brain magnetic resonance image hyperintensities using hybrid clustering and knowledge-based methods

Gosche, Karen M. ; Velthuizen, Robert P. ; Murtagh, F. Reed ; Arrington, John A. ; Gross, William W. ; Mortimer, James A. ; Clarke, Laurence P.

International journal of imaging systems and technology, 1999, Vol.10 (3), p.287-293 [Periódico revisado por pares]

New York: John Wiley & Sons, Inc

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