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Cross-Platform Implementation of an SSVEP-Based BCI for the Control of a 6-DOF Robotic Arm
Cross-Platform Implementation of an SSVEP-Based BCI for the Control of a 6-DOF Robotic Arm
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Cross-Platform Implementation of an SSVEP-Based BCI for the Control of a 6-DOF Robotic Arm

Quiles, Eduardo ; Dadone, Javier ; Chio, Nayibe ; García, Emilio

Sensors (Basel, Switzerland), 2022-07, Vol.22 (13), p.5000 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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A Two-Stage Parameter Optimization Method for Capacitive Power Transfer Systems
A Two-Stage Parameter Optimization Method for Capacitive Power Transfer Systems
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A Two-Stage Parameter Optimization Method for Capacitive Power Transfer Systems

Xia, Jinglin ; Yuan, Xinmei ; Lu, Sizhao ; Li, Jun ; Luo, Shuling ; Li, Siqi

IEEE transactions on power electronics, 2022-01, Vol.37 (1), p.1102-1117 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Taskflow: A Lightweight Parallel and Heterogeneous Task Graph Computing System
Taskflow: A Lightweight Parallel and Heterogeneous Task Graph Computing System
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Taskflow: A Lightweight Parallel and Heterogeneous Task Graph Computing System

Huang, Tsung-Wei ; Lin, Dian-Lun ; Lin, Chun-Xun ; Lin, Yibo

IEEE transactions on parallel and distributed systems, 2022-06, Vol.33 (6), p.1303-1320 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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The GosipGUI Framework for Control and Benchmarking of Readout Electronics Front-Ends
The GosipGUI Framework for Control and Benchmarking of Readout Electronics Front-Ends
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The GosipGUI Framework for Control and Benchmarking of Readout Electronics Front-Ends

Adamczewski-Musch, Jorn ; Kurz, Nikolaus

IEEE transactions on nuclear science, 2021-08, Vol.68 (8), p.2074-2080 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Design Verification Methodology of Pipelined RISC-V Processor Using C2RTL Framework
Design Verification Methodology of Pipelined RISC-V Processor Using C2RTL Framework
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Design Verification Methodology of Pipelined RISC-V Processor Using C2RTL Framework

YOSHIYA, Eiji ; NAKANISHI, Tomoya ; ISSHIKI, Tsuyoshi

IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, 2022/07/01, Vol.E105.A(7), pp.1061-1069 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

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ViBe: A Universal Background Subtraction Algorithm for Video Sequences
ViBe: A Universal Background Subtraction Algorithm for Video Sequences
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ViBe: A Universal Background Subtraction Algorithm for Video Sequences

Barnich, O ; Van Droogenbroeck, M

IEEE transactions on image processing, 2011-06, Vol.20 (6), p.1709-1724 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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A motivating approach to introduce object-oriented programming to engineering students
A motivating approach to introduce object-oriented programming to engineering students
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A motivating approach to introduce object-oriented programming to engineering students

Brito, Agostinho de Medeiros ; Medeiros, Adelardo Adelino Dantas de

International journal of electrical engineering & education, 2022-10, Vol.59 (4), p.366-386 [Periódico revisado por pares]

London, England: SAGE Publications

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RefactorScore: Evaluating Refactor Prone Code
RefactorScore: Evaluating Refactor Prone Code
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RefactorScore: Evaluating Refactor Prone Code

Jesse, Kevin ; Kuhmuench, Christoph ; Sawant, Anand

IEEE transactions on software engineering, 2023-11, Vol.49 (11), p.1-19 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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RefDetect: A Multi-Language Refactoring Detection Tool Based on String Alignment
RefDetect: A Multi-Language Refactoring Detection Tool Based on String Alignment
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RefDetect: A Multi-Language Refactoring Detection Tool Based on String Alignment

Moghadam, Iman Hemati ; Cinneide, Mel O ; Zarepour, Faezeh ; Jahanmir, Mohamad Aref

IEEE access, 2021, Vol.9, p.86698-86727 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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10
Code Manipulation for Virtual Platform Integration
Code Manipulation for Virtual Platform Integration
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Code Manipulation for Virtual Platform Integration

Vinco, Sara ; Guarnieri, Valerio ; Fummi, Franco

IEEE transactions on computers, 2016-09, Vol.65 (9), p.2694-2708 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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