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Membrane bioreactor: Applications and limitations in treating high strength industrial wastewater
Membrane bioreactor: Applications and limitations in treating high strength industrial wastewater
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Membrane bioreactor: Applications and limitations in treating high strength industrial wastewater

Mutamim, Noor Sabrina Ahmad ; Noor, Zainura Zainon ; Hassan, Mohd Ariffin Abu ; Yuniarto, Adhi ; Olsson, Gustaf

Chemical engineering journal (Lausanne, Switzerland : 1996), 2013-06, Vol.225, p.109-119 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors
InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors
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InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors

Memisevic, Elvedin ; Svensson, Johannes ; Lind, Erik ; Wernersson, Lars-Erik

IEEE transactions on electron devices, 2017-11, Vol.64 (11), p.4746-4751 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Thermal Modeling of Directly Cooled Electric Machines Using Lumped Parameter and Limited CFD Analysis
Thermal Modeling of Directly Cooled Electric Machines Using Lumped Parameter and Limited CFD Analysis
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Thermal Modeling of Directly Cooled Electric Machines Using Lumped Parameter and Limited CFD Analysis

Nategh, Shafigh ; Zhe Huang ; Krings, Andreas ; Wallmark, Oskar ; Leksell, Mats

IEEE transactions on energy conversion, 2013-12, Vol.28 (4), p.979-990 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Characteristic Mode Decomposition Using the Scattering Dyadic in Arbitrary Full-Wave Solvers
Characteristic Mode Decomposition Using the Scattering Dyadic in Arbitrary Full-Wave Solvers
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Characteristic Mode Decomposition Using the Scattering Dyadic in Arbitrary Full-Wave Solvers

Capek, Miloslav ; Lundgren, Johan ; Gustafsson, Mats ; Schab, Kurt ; Jelinek, Lukas

IEEE transactions on antennas and propagation, 2023-01, Vol.71 (1), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Reliability and vulnerability analyses of critical infrastructures: Comparing two approaches in the context of power systems
Reliability and vulnerability analyses of critical infrastructures: Comparing two approaches in the context of power systems
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Reliability and vulnerability analyses of critical infrastructures: Comparing two approaches in the context of power systems

Johansson, Jonas ; Hassel, Henrik ; Zio, Enrico

Reliability engineering & system safety, 2013-12, Vol.120, p.27-38 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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Hybrid modelling of water resource recovery facilities: status and opportunities
Hybrid modelling of water resource recovery facilities: status and opportunities
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Hybrid modelling of water resource recovery facilities: status and opportunities

Schneider, Mariane Yvonne ; Quaghebeur, Ward ; Borzooei, Sina ; Froemelt, Andreas ; Li, Feiyi ; Saagi, Ramesh ; Wade, Matthew J ; Zhu, Jun-Jie ; Torfs, Elena

Water science and technology, 2022-05, Vol.85 (9), p.2503-2524 [Periódico revisado por pares]

England: IWA Publishing

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Low-Temperature Characteristics of Nanowire Network Demultiplexer for Qubit Biasing
Low-Temperature Characteristics of Nanowire Network Demultiplexer for Qubit Biasing
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Low-Temperature Characteristics of Nanowire Network Demultiplexer for Qubit Biasing

Södergren, Lasse ; Olausson, Patrik ; Lind, Erik

Nano letters, 2022-05, Vol.22 (10), p.3884-3888 [Periódico revisado por pares]

United States: American Chemical Society

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ICA and me – A subjective review
ICA and me – A subjective review
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ICA and me – A subjective review

Olsson, Gustaf

Water research (Oxford), 2012-04, Vol.46 (6), p.1585-1624 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity
Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity
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Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity

Morikawa, Kyojiro ; Chen, Po-yin ; Tran, Hai Linh ; Kazoe, Yutaka ; Chen, Chihchen ; Kitamori, Takehiko

Journal of micromechanics and microengineering, 2023-04, Vol.33 (4), p.47001 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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Integration of Ferroelectric HfxZr1-xO2 on Vertical III-V Nanowire Gate-All-Around FETs on Silicon
Integration of Ferroelectric HfxZr1-xO2 on Vertical III-V Nanowire Gate-All-Around FETs on Silicon
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Integration of Ferroelectric HfxZr1-xO2 on Vertical III-V Nanowire Gate-All-Around FETs on Silicon

Persson, Anton E. O. ; Zhu, Zhongyunshen ; Athle, Robin ; Wernersson, Lars-Erik

IEEE electron device letters, 2022-06, Vol.43 (6), p.854-857 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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