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Integration of Ferroelectric HfxZr1-xO2 on Vertical III-V Nanowire Gate-All-Around FETs on Silicon
Integration of Ferroelectric HfxZr1-xO2 on Vertical III-V Nanowire Gate-All-Around FETs on Silicon
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Integration of Ferroelectric HfxZr1-xO2 on Vertical III-V Nanowire Gate-All-Around FETs on Silicon

Persson, Anton E. O. ; Zhu, Zhongyunshen ; Athle, Robin ; Wernersson, Lars-Erik

IEEE electron device letters, 2022-06, Vol.43 (6), p.854-857 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs
Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs
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Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs

Gribisch, Philipp ; Carrascon, Rosalia Delgado ; Darakchieva, Vanya ; Lind, Erik

IEEE transactions on electron devices, 2023-08, Vol.70 (8), p.4101-4107 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Nondestructive Testing Using mm-Wave Sparse Imaging Verified for Singly Curved Composite Panels
Nondestructive Testing Using mm-Wave Sparse Imaging Verified for Singly Curved Composite Panels
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Nondestructive Testing Using mm-Wave Sparse Imaging Verified for Singly Curved Composite Panels

Wingren, Niklas ; Sjoberg, Daniel

IEEE transactions on antennas and propagation, 2023-01, Vol.71 (1), p.1185-1189 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates
Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates
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Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates

Gribisch, Philipp ; Carrascon, Rosalia Delgado ; Darakchieva, Vanya ; Lind, Erik

IEEE transactions on electron devices, 2023-05, Vol.70 (5), p.1-7 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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15
Efficient Synthesis of Angular Selective Surfaces Based on Accurate Equivalent Circuit Analysis
Efficient Synthesis of Angular Selective Surfaces Based on Accurate Equivalent Circuit Analysis
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Efficient Synthesis of Angular Selective Surfaces Based on Accurate Equivalent Circuit Analysis

Qin, Tao ; Lin, Xian Qi ; Yao, Yao ; Liu, Yong ; Liu, Hao ; Hao, Peng ; Mei, Peng

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2023-06, Vol.71 (6), p.2625-2638 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Characteristic Modes of Frequency-Selective Surfaces and Metasurfaces From S-Parameter Data
Characteristic Modes of Frequency-Selective Surfaces and Metasurfaces From S-Parameter Data
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Characteristic Modes of Frequency-Selective Surfaces and Metasurfaces From S-Parameter Data

Schab, Kurt ; Chen, Frederick W. ; Jelinek, Lukas ; Capek, Miloslav ; Lundgren, Johan ; Gustafsson, Mats

IEEE transactions on antennas and propagation, 2023-12, Vol.71 (12), p.9696-9706 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Shape Synthesis Based on Topology Sensitivity
Shape Synthesis Based on Topology Sensitivity
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Shape Synthesis Based on Topology Sensitivity

Capek, Miloslav ; Jelinek, Lukas ; Gustafsson, Mats

IEEE transactions on antennas and propagation, 2019-06, Vol.67 (6), p.3889-3901 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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18
Demonstration of a Transportable Fabry-Pérot Refractometer by a Ring-Type Comparison of Dead-Weight Pressure Balances at Four European National Metrology Institutes
Demonstration of a Transportable Fabry-Pérot Refractometer by a Ring-Type Comparison of Dead-Weight Pressure Balances at Four European National Metrology Institutes
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Demonstration of a Transportable Fabry-Pérot Refractometer by a Ring-Type Comparison of Dead-Weight Pressure Balances at Four European National Metrology Institutes

Forssén, Clayton ; Silander, Isak ; Zakrisson, Johan ; Amer, Eynas ; Szabo, David ; Bock, Thomas ; Kussike, André ; Rubin, Tom ; Mari, Domenico ; Pasqualin, Stefano ; Silvestri, Zaccaria ; Bentouati, Djilali ; Axner, Ove ; Zelan, Martin

Sensors (Basel, Switzerland), 2024-01, Vol.24 (1), p.7 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

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Accurate and Efficient Evaluation of Characteristic Modes
Accurate and Efficient Evaluation of Characteristic Modes
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Accurate and Efficient Evaluation of Characteristic Modes

Tayli, Doruk ; Capek, Miloslav ; Akrou, Lamyae ; Losenicky, Vit ; Jelinek, Lukas ; Gustafsson, Mats

IEEE transactions on antennas and propagation, 2018-12, Vol.66 (12), p.7066-7075 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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20
Energy Stored by Radiating Systems
Energy Stored by Radiating Systems
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Energy Stored by Radiating Systems

Schab, Kurt ; Jelinek, Lukas ; Capek, Miloslav ; Ehrenborg, Casimir ; Tayli, Doruk ; Vandenbosch, Guy A. E. ; Gustafsson, Mats

IEEE access, 2018-01, Vol.6, p.10553-10568 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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