skip to main content

Sair
Identificação

Idioma:

Resultados de 1 a 10 de 110 para Busca Geral

Ordenado por: Ordenado por: RelevânciaOr hit Enter to replace sort method

Resultados 1 2 3 4 5

next page

Mostrar Somente

Revistas revisadas por pares (108)

Refinado por: Base de dados/Biblioteca: EZB Electronic Journals Library

remover

assunto: Engineering, Electrical & Electronic

remover

Elektroteknik Och Elektronik

remover

Result Number	Material Type	Add to My Shelf Action	Record Details and Options
1	Material Type: Artigo		gm/Id Analysis of vertical nanowire III–V TFETs Rangasamy, Gautham ; Zhu, Zhongyunshen ; Ohlsson Fhager, Lars ; Wernersson, Lars-Erik Electronics letters, 2023-09, Vol.59 (18) [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	$Demonstration of a Transportable Fabry-Pérot Refractometer by a Ring-Type Comparison of Dead-Weight Pressure Balances at Four European National Metrology Institutes$ $Demonstration of a Transportable Fabry-Pérot Refractometer by a Ring-Type Comparison of Dead-Weight Pressure Balances at Four European National Metrology Institutes$ Material Type: Artigo		Demonstration of a Transportable Fabry-Pérot Refractometer by a Ring-Type Comparison of Dead-Weight Pressure Balances at Four European National Metrology Institutes Forssén, Clayton ; Silander, Isak ; Zakrisson, Johan ; Amer, Eynas ; Szabo, David ; Bock, Thomas ; Kussike, André ; Rubin, Tom ; Mari, Domenico ; Pasqualin, Stefano ; Silvestri, Zaccaria ; Bentouati, Djilali ; Axner, Ove ; Zelan, Martin Sensors (Basel, Switzerland), 2024-01, Vol.24 (1), p.7 [Periódico revisado por pares] Switzerland: MDPI AG Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Energy Stored by Radiating Systems Schab, Kurt ; Jelinek, Lukas ; Capek, Miloslav ; Ehrenborg, Casimir ; Tayli, Doruk ; Vandenbosch, Guy A. E. ; Gustafsson, Mats IEEE access, 2018-01, Vol.6, p.10553-10568 [Periódico revisado por pares] Piscataway: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Optimal frequency combination estimation for accurate ultrasound non-destructive testing Kumar, A ; Shakya, S ; Goswami, M Electronics letters, 2020-09, Vol.56 (19), p.1022-1024 [Periódico revisado por pares] The Institution of Engineering and Technology Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Electrical Properties of Vertical InAs/InGaAs Heterostructure MOSFETs Kilpi, Olli-Pekka ; Svensson, Johannes ; Lind, Erik ; Wernersson, Lars-Erik IEEE journal of the Electron Devices Society, 2019, Vol.7, p.70-75 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		III-V Heterostructure Nanowire Tunnel FETs Lind, Erik ; Memisevic, Elvedin ; Dey, Anil W. ; Wernersson, Lars-Erik IEEE journal of the Electron Devices Society, 2015-05, Vol.3 (3), p.96-102 [Periódico revisado por pares] IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Ultra-Scaled AlOx Diffusion Barriers for Multibit HfOx RRAM Operation Persson, Karl-Magnus ; Ram, Mamidala Saketh ; Wernersson, Lars-Erik IEEE journal of the Electron Devices Society, 2021-01, Vol.9, p.564-569 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		A Method for Determining Trap Distributions of Specific Channel Surfaces in InGaAs Tri-Gate MOSFETs Netsu, Seiko ; Hellenbrand, Markus ; Zota, Cezar B. ; Miyamoto, Yasuyuki ; Lind, Erik IEEE journal of the Electron Devices Society, 2018-01, Vol.6, p.408-412 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		5G SLAM Using the Clustering and Assignment Approach with Diffuse Multipath Ge, Yu ; Wen, Fuxi ; Kim, Hyowon ; Zhu, Meifang ; Jiang, Fan ; Kim, Sunwoo ; Svensson, Lennart ; Wymeersch, Henk Sensors (Basel, Switzerland), 2020-08, Vol.20 (16), p.4656 [Periódico revisado por pares] Switzerland: MDPI AG Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		The World's First Real-Time Testbed for Massive MIMO: Design, Implementation, and Validation Malkowsky, Steffen ; Vieira, Joao ; Liang Liu ; Harris, Paul ; Nieman, Karl ; Kundargi, Nikhil ; Wong, Ian C. ; Tufvesson, Fredrik ; Owall, Viktor ; Edfors, Ove IEEE access, 2017-01, Vol.5, p.9073-9088 [Periódico revisado por pares] Piscataway: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

Resultados de 1 a 10 de 110 para Busca Geral

Ordenado por: Ordenado por: RelevânciaOr hit Enter to replace sort method

Resultados 1 2 3 4 5

next page

Personalize Seus Resultados

Editar

RSS

Enviar página para o Meu Espaço

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

Expandir meus resultados

Mostrar Somente

Revistas revisadas por pares (108)

Neste Assunto:

Realização: Logos de Redes Sociais:

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.

Buscando por
emscope:(USP_VIDEOS),scope:("PRIMO"),scope:(USP_FISICO),scope:(USP_EREVISTAS),scope:(USP),scope:(USP_EBOOKS),scope:(USP_PRODUCAO),primo_central_multiple_fe
Mostrar o que foi encontrado até o momento