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InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors
InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors
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InAs/InGaAsSb/GaSb Nanowire Tunnel Field-Effect Transistors

Memisevic, Elvedin ; Svensson, Johannes ; Lind, Erik ; Wernersson, Lars-Erik

IEEE transactions on electron devices, 2017-11, Vol.64 (11), p.4746-4751 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity
Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity
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Fused silica microchannel fabrication with smooth surface and high etching selectivity

Morikawa, Kyojiro ; Chen, Po-yin ; Tran, Hai Linh ; Kazoe, Yutaka ; Chen, Chihchen ; Kitamori, Takehiko

Journal of micromechanics and microengineering, 2023-04, Vol.33 (4), p.47001 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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3
Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs
Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs
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Capacitance and Mobility Evaluation for Normally-Off Fully-Vertical GaN FinFETs

Gribisch, Philipp ; Carrascon, Rosalia Delgado ; Darakchieva, Vanya ; Lind, Erik

IEEE transactions on electron devices, 2023-08, Vol.70 (8), p.1-7 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates
Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates
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Tuning of Quasi-Vertical GaN FinFETs Fabricated on SiC Substrates

Gribisch, Philipp ; Carrascon, Rosalia Delgado ; Darakchieva, Vanya ; Lind, Erik

IEEE transactions on electron devices, 2023-05, Vol.70 (5), p.1-7 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Impact of Temperature-Induced Oxide Defects on HfxZr1−xO2 Ferroelectric Tunnel Junction Memristor Performance
Impact of Temperature-Induced Oxide Defects on HfxZr1−xO2 Ferroelectric Tunnel Junction Memristor Performance
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Impact of Temperature-Induced Oxide Defects on HfxZr1−xO2 Ferroelectric Tunnel Junction Memristor Performance

Athle, Robin ; Borg, Mattias

IEEE transactions on electron devices, 2023-03, Vol.70 (3), p.1412-1416 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
An Acceleration Sensing Method Based on the Mode Localization of Weakly Coupled Resonators
An Acceleration Sensing Method Based on the Mode Localization of Weakly Coupled Resonators
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An Acceleration Sensing Method Based on the Mode Localization of Weakly Coupled Resonators

Hemin Zhang ; Boyang Li ; Weizheng Yuan ; Kraft, Michael ; Honglong Chang

Journal of microelectromechanical systems, 2016-04, Vol.25 (2), p.286-296 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
HTS Pancake Coils Without Turn-to-Turn Insulation
HTS Pancake Coils Without Turn-to-Turn Insulation
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

HTS Pancake Coils Without Turn-to-Turn Insulation

Seungyong Hahn ; Dong Keun Park ; Bascunan, J ; Iwasa, Y

IEEE transactions on applied superconductivity, 2011-06, Vol.21 (3), p.1592-1595 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
III-Nitride Based Light Emitting Diodes and Applications
III-Nitride Based Light Emitting Diodes and Applications
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III-Nitride Based Light Emitting Diodes and Applications

Morkoc, Hadis ; Han, Jung ; Amano, Hiroshi ; Seong, Tae-Yeon

Dordrecht: Springer Netherlands 2017

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9
A review of MEMS oscillators for frequency reference and timing applications
A review of MEMS oscillators for frequency reference and timing applications
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A review of MEMS oscillators for frequency reference and timing applications

van Beek, J T M ; Puers, R

Journal of micromechanics and microengineering, 2012-01, Vol.22 (1), p.013001-35 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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10
A review of non-contact micro- and nano-printing technologies
A review of non-contact micro- and nano-printing technologies
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A review of non-contact micro- and nano-printing technologies

Ru, Changhai ; Luo, Jun ; Xie, Shaorong ; Sun, Yu

Journal of micromechanics and microengineering, 2014-05, Vol.24 (5), p.53001-11 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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