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Comparison of the methods of seismis analysis applicable to fast reactors in the EEC countries
Comparison of the methods of seismis analysis applicable to fast reactors in the EEC countries
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Comparison of the methods of seismis analysis applicable to fast reactors in the EEC countries

Defalque, M ; Kunsch, P ; Preumont, A

Luxembourg: OPOCE 1986

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2
Memorial
Memorial
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Memorial

Margarida Maria Krohling Kunsch

São Paulo M. M. K. Kunsch 2005

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3
Memorial
Memorial
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Memorial 		Adicionar ao Meu Espaço

Memorial

Margarida Maria Krohling Kunsch

São Paulo M. M. K. Kunsch 1991

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

4
Memorial
Memorial
Material Type:
Memorial 		Adicionar ao Meu Espaço

Memorial

Margarida Maria Krohling Kunsch

São Paulo M. M. K. Kunsch 1996

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

5
Comparaison des méthodes d'analyse sismique applicables aux réacteurs rapides dans les pays de la CEE
Comparaison des méthodes d'analyse sismique applicables aux réacteurs rapides dans les pays de la CEE
Material Type:
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Comparaison des méthodes d'analyse sismique applicables aux réacteurs rapides dans les pays de la CEE

Defalque, M ; Kunsch, P ; Preumont, A

Luxembourg: OPOCE 1986

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6
Sequential Monte Carlo: Particle Filters and Beyond
Sequential Monte Carlo: Particle Filters and Beyond
Material Type:
Recurso Textual 		Adicionar ao Meu Espaço

Sequential Monte Carlo: Particle Filters and Beyond

Johansen, Adam M. Balakrishnan, N. ; Everitt, Brian ; Piegorsch, Walter ; Ruggeri, Fabrizio ; Colton, Theodore ; Teugels, Jozef L.

Wiley StatsRef: Statistics Reference Online, 2020, p.1-16

Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd

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7
Wavelet‐Based Image Deconvolution and Reconstruction
Wavelet‐Based Image Deconvolution and Reconstruction
Material Type:
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Wavelet‐Based Image Deconvolution and Reconstruction

Pustelnik, Nelly ; Benazza-Benhayia, Amel ; Zheng, Yuling ; Pesquet, Jean‐Christophe

Wiley Encyclopedia of Electrical and Electronics Engineering, 2016, p.1-34

Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc

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Deste Autor:

  1. Kunsch, M

Neste Assunto:

  1. Professores De Ensino Superior (Memorial)
  2. Image Processing
  3. Methods And Theory
  4. Computational

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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