skip to main content

Idioma:

Resultados de 1 a 10 de 576.380 para Busca Geral

Ordenado por: Ordenado por: RelevânciaOr hit Enter to replace sort method

Resultados 1 2 3 4 5

next page

Mostrar Somente

Recursos Online (494.562)
Revistas revisadas por pares (352.701)

Refinado por: assunto: Engineering, Electrical & Electronic

remover

assunto: Physical Sciences

remover

assunto: Technology

remover

Result Number	Material Type	Add to My Shelf Action	Record Details and Options
1	Material Type: Artigo		Surface Acoustic Wave (SAW) Sensors: Physics, Materials, and Applications Mandal, Debdyuti ; Banerjee, Sourav Sensors (Basel, Switzerland), 2022-01, Vol.22 (3), p.820 [Periódico revisado por pares] Switzerland: MDPI AG Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Livro		Semiconductor Power Devices: Physics, Characteristics, Reliability Lutz, Josef ; Schlangenotto, Heinrich ; Scheuermann, Uwe ; De Doncker, Rik Berlin, Heidelberg: Springer Berlin / Heidelberg 2011 Sem texto completo Serviços Detalhes Resenhas & Tags Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Physics-Constrained Deep Learning of Geomechanical Logs Chen, Yuntian ; Zhang, Dongxiao IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2020-08, Vol.58 (8), p.5932-5943 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Comphy — A compact-physics framework for unified modeling of BTI Rzepa, G. ; Franco, J. ; O’Sullivan, B. ; Subirats, A. ; Simicic, M. ; Hellings, G. ; Weckx, P. ; Jech, M. ; Knobloch, T. ; Waltl, M. ; Roussel, P.J. ; Linten, D. ; Kaczer, B. ; Grasser, T. Microelectronics and reliability, 2018-06, Vol.85, p.49-65 [Periódico revisado por pares] Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		A Physics-Based Model of Vertical TFET-Part I: Modeling of Electric Potential Cheng, Qi ; Khandelwal, Sourabh ; Zeng, Yuping IEEE transactions on electron devices, 2022-07, Vol.69 (7), p.3966-3973 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Wavefield Reconstruction Inversion via Physics-Informed Neural Networks Song, Chao ; Alkhalifah, Tariq A. IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2022, Vol.60, p.1-12 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Time dependent dielectric breakdown physics – Models revisited McPherson, J.W. Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.1753-1760 [Periódico revisado por pares] Kidlington: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	$Understanding \gamma -Ray Induced Instability in AlGaN/GaN HEMTs Using a Physics-Based Compact Model$ $Understanding \gamma -Ray Induced Instability in AlGaN/GaN HEMTs Using a Physics-Based Compact Model$ Material Type: Artigo		Understanding \gamma -Ray Induced Instability in AlGaN/GaN HEMTs Using a Physics-Based Compact Model Sharma, Chandan ; Modolo, Nicola ; Wu, Tian-Li ; Meneghini, Matteo ; Meneghesso, Gaudenzio ; Zanoni, Enrico ; Visvkarma, Ajay Kumar ; Vinayak, Seema ; Singh, Rajendra IEEE transactions on electron devices, 2020-03, Vol.67 (3), p.1126-1131 [Periódico revisado por pares] IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Programming Characteristics of Electrochemical Random Access Memory (ECRAM)-Part II: Physics-Based Modeling Porzani, M. ; Carletti, F. ; Ricci, S. ; Farronato, M. ; Ielmini, D. IEEE transactions on electron devices, 2024-05, Vol.71 (5), p.3246-3251 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		A Comparative Study of Different Physics-Based NBTI Models Mahapatra, S. ; Goel, N. ; Desai, S. ; Gupta, S. ; Jose, B. ; Mukhopadhyay, S. ; Joshi, K. ; Jain, A. ; Islam, A. E. ; Alam, M. A. IEEE transactions on electron devices, 2013-03, Vol.60 (3), p.901-916 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

Resultados de 1 a 10 de 576.380 para Busca Geral

Ordenado por: Ordenado por: RelevânciaOr hit Enter to replace sort method

Resultados 1 2 3 4 5

next page

Personalize Seus Resultados

Editar

RSS

Enviar página para o Meu Espaço

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

Expandir meus resultados

Mostrar Somente

Recursos Online (494.562)
Revistas revisadas por pares (352.701)

Neste Assunto:

Realização: Logos de Redes Sociais:

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.

Buscando por
emscope:(USP_VIDEOS),scope:("PRIMO"),scope:(USP_FISICO),scope:(USP_EREVISTAS),scope:(USP),scope:(USP_EBOOKS),scope:(USP_PRODUCAO),primo_central_multiple_fe
Mostrar o que foi encontrado até o momento