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Statistical Tolerance Limits for Censored Log-Normal Data
Statistical Tolerance Limits for Censored Log-Normal Data
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Statistical Tolerance Limits for Censored Log-Normal Data

Little, RE

Journal of testing and evaluation, 1980-01, Vol.8 (2), p.80-84 [Periódico revisado por pares]

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Hybrid Integrated Circuit Manufacturing Process as Controlled by Shop Information Systems
Hybrid Integrated Circuit Manufacturing Process as Controlled by Shop Information Systems
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Hybrid Integrated Circuit Manufacturing Process as Controlled by Shop Information Systems

Krause, D. ; Locy, D.

IEEE transactions on components, hybrids, and manufacturing technology, 1980-09, Vol.3 (3), p.345-353

IEEE

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Computer Data Acquisition Monitoring of the Stress Corrosion Cracking of Depleted Uranium Cantilever Beam Specimens
Computer Data Acquisition Monitoring of the Stress Corrosion Cracking of Depleted Uranium Cantilever Beam Specimens
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Computer Data Acquisition Monitoring of the Stress Corrosion Cracking of Depleted Uranium Cantilever Beam Specimens

Joyce, JA ; Hasson, DF ; Crowe, CR

Journal of testing and evaluation, 1980-11, Vol.8 (6), p.293-300 [Periódico revisado por pares]

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Progress in and Technology of Low-Cost Silver Containing Thick-Film Conductors
Progress in and Technology of Low-Cost Silver Containing Thick-Film Conductors
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Progress in and Technology of Low-Cost Silver Containing Thick-Film Conductors

Taylor, B. ; Felten, J. ; Larry, J.

IEEE transactions on components, hybrids, and manufacturing technology, 1980-12, Vol.3 (4), p.504-517

IEEE

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Computers in Materials Technology: Proceedings of the International Conference Held at the Institute of Technology, Linköping University, Sweden, June 4-5 1980
Computers in Materials Technology: Proceedings of the International Conference Held at the Institute of Technology, Linköping University, Sweden, June 4-5 1980
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Computers in Materials Technology: Proceedings of the International Conference Held at the Institute of Technology, Linköping University, Sweden, June 4-5 1980

Ericsson, T

Kent: Elsevier Science & Technology 1981

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Packaging Trade-Offs for an LSI-oriented Very High-Speed Computer, the HITAC M-200H
Packaging Trade-Offs for an LSI-oriented Very High-Speed Computer, the HITAC M-200H
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Packaging Trade-Offs for an LSI-oriented Very High-Speed Computer, the HITAC M-200H

Chiba, T. ; Masaki, A. ; Furumaya, K. ; Hososaka, S.

IEEE transactions on components, hybrids, and manufacturing technology, 1981-06, Vol.4 (2), p.166-172

IEEE

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Rate Sensitive Tensile Impact Properties of Fully and Partially Loaded Unidirectional Composites
Rate Sensitive Tensile Impact Properties of Fully and Partially Loaded Unidirectional Composites
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Rate Sensitive Tensile Impact Properties of Fully and Partially Loaded Unidirectional Composites

Hayes, SV ; Adams, DF

Journal of testing and evaluation, 1982-01, Vol.10 (2), p.61-68 [Periódico revisado por pares]

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18
VHSIC's Industry Impact
VHSIC's Industry Impact
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VHSIC's Industry Impact

Moore, D. ; Towle, W.

IEEE transactions on components, hybrids, and manufacturing technology, 1982-06, Vol.5 (2), p.241-248

IEEE

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Controlled release rate of a lipophilic drug (BCNU) from a refillable silicone rubber device
Controlled release rate of a lipophilic drug (BCNU) from a refillable silicone rubber device
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Controlled release rate of a lipophilic drug (BCNU) from a refillable silicone rubber device

Ueno, Norio ; Refojo, Miguel F. ; Liu, Luke H. S.

Journal of biomedical materials research, 1982-09, Vol.16 (5), p.669-677

New York: John Wiley & Sons, Inc

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Application of Computer Techniques to Charpy Impact Testing of Irradiated Pressure Vessel Steels
Application of Computer Techniques to Charpy Impact Testing of Irradiated Pressure Vessel Steels
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Application of Computer Techniques to Charpy Impact Testing of Irradiated Pressure Vessel Steels

Landow, MP ; Fromm, EO ; Perrin, JS

Journal of testing and evaluation, 1982-09, Vol.10 (5), p.189-191 [Periódico revisado por pares]

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