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A Digital Twin Based Industrial Automation and Control System Security Architecture
A Digital Twin Based Industrial Automation and Control System Security Architecture
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A Digital Twin Based Industrial Automation and Control System Security Architecture

Gehrmann, Christian ; Gunnarsson, Martin

IEEE transactions on industrial informatics, 2020-01, Vol.16 (1), p.669-680

Piscataway: IEEE

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Spatially Coupled Turbo-Like Codes
Spatially Coupled Turbo-Like Codes
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Spatially Coupled Turbo-Like Codes

Moloudi, Saeedeh ; Lentmaier, Michael ; Graell i Amat, Alexandre

IEEE transactions on information theory, 2017-10, Vol.63 (10), p.6199-6215 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Energy Stored by Radiating Systems
Energy Stored by Radiating Systems
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Energy Stored by Radiating Systems

Schab, Kurt ; Jelinek, Lukas ; Capek, Miloslav ; Ehrenborg, Casimir ; Tayli, Doruk ; Vandenbosch, Guy A. E. ; Gustafsson, Mats

IEEE access, 2018-01, Vol.6, p.10553-10568 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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4
Spatially Coupled Generalized LDPC Codes: Asymptotic Analysis and Finite Length Scaling
Spatially Coupled Generalized LDPC Codes: Asymptotic Analysis and Finite Length Scaling
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Spatially Coupled Generalized LDPC Codes: Asymptotic Analysis and Finite Length Scaling

Mitchell, David G. M. ; Olmos, Pablo M. ; Lentmaier, Michael ; Costello, Daniel J.

IEEE transactions on information theory, 2021-06, Vol.67 (6), p.3708-3723 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Further improvements of the estimation of key enumeration with applications to solving LWE
Further improvements of the estimation of key enumeration with applications to solving LWE
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Further improvements of the estimation of key enumeration with applications to solving LWE

Budroni, Alessandro ; Mårtensson, Erik

Cryptography and communications, 2024-06 [Periódico revisado por pares]

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Dynamic influent pollutant disturbance scenario generation using a phenomenological modelling approach
Dynamic influent pollutant disturbance scenario generation using a phenomenological modelling approach
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Dynamic influent pollutant disturbance scenario generation using a phenomenological modelling approach

Gernaey, Krist V. ; Flores-Alsina, Xavier ; Rosen, Christian ; Benedetti, Lorenzo ; Jeppsson, Ulf

Environmental modelling & software : with environment data news, 2011-11, Vol.26 (11), p.1255-1267 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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7
An explicit kernel-split panel-based Nyström scheme for integral equations on axially symmetric surfaces
An explicit kernel-split panel-based Nyström scheme for integral equations on axially symmetric surfaces
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An explicit kernel-split panel-based Nyström scheme for integral equations on axially symmetric surfaces

Helsing, Johan ; Karlsson, Anders

Journal of computational physics, 2014-09, Vol.272, p.686-703 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Inc

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Graceful Degradation of Reconfigurable Scan Networks
Graceful Degradation of Reconfigurable Scan Networks
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Graceful Degradation of Reconfigurable Scan Networks

Larsson, Erik ; Xiang, Zehang ; Murali, Prathamesh

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2021-07, Vol.29 (7), p.1475-1479 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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An LO phase shifter with frequency tripling and phase detection in 28 nm FD-SOI CMOS for mm-wave 5G transceivers
An LO phase shifter with frequency tripling and phase detection in 28 nm FD-SOI CMOS for mm-wave 5G transceivers
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An LO phase shifter with frequency tripling and phase detection in 28 nm FD-SOI CMOS for mm-wave 5G transceivers

Gannedahl, Rikard ; Sjöland, Henrik

Analog integrated circuits and signal processing, 2023, Vol.114 (1), p.1-11 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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10
A New Algorithm for Solving Ring-LPN With a Reducible Polynomial
A New Algorithm for Solving Ring-LPN With a Reducible Polynomial
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A New Algorithm for Solving Ring-LPN With a Reducible Polynomial

Guo, Qian ; Johansson, Thomas ; Londahl, Carl

IEEE transactions on information theory, 2015-11, Vol.61 (11), p.6204-6212 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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