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Direct Current Generation in Single-Phase Residential Systems DC Effects and Permissible Levels
Direct Current Generation in Single-Phase Residential Systems DC Effects and Permissible Levels
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Direct Current Generation in Single-Phase Residential Systems DC Effects and Permissible Levels

Emanuel, A. E. ; Pileggi, D. J. ; Levitsky, F. J.

IEEE transactions on power apparatus and systems, 1984-08, Vol.PAS-103 (8), p.2051-2057

New York, NY: IEEE

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2
The use of simulation in semiconductor technology development
The use of simulation in semiconductor technology development
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The use of simulation in semiconductor technology development

Cole, D.C. ; Buturla, E.M. ; Furkay, S.S. ; Varahramyan, K. ; Slinkman, J. ; Mandelman, J.A. ; Foty, D.P. ; Bula, O. ; Strong, A.W. ; Park, J.W. ; Linton, T.D. ; Johnson, J.B. ; Fischetti, M.V. ; Laux, S.E. ; Cottrell, P.E. ; Lustig, H.G. ; Pileggi, F. ; Katcoff, D.

Solid-state electronics, 1990-06, Vol.33 (6), p.591-623 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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3
Incessant Ectopic Atrial Tachycardia and Sudden Death
Incessant Ectopic Atrial Tachycardia and Sudden Death
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Incessant Ectopic Atrial Tachycardia and Sudden Death

SOSA, EDUARDO ; MARCIAL, MIGUEL BARBERO ; SCANAVACCA, MAURICIO ; BELLOTTI, GIOVANNI ; PILEGGI, FULVIO

Pacing and clinical electrophysiology, 1991-05, Vol.14 (5), p.764-767 [Periódico revisado por pares]

Oxford, UK: Blackwell Publishing Ltd

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4
A comparison of the electrochromic behavior and the mechanical properties of WO3 and NiOx thin film electrodes
A comparison of the electrochromic behavior and the mechanical properties of WO3 and NiOx thin film electrodes
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A comparison of the electrochromic behavior and the mechanical properties of WO3 and NiOx thin film electrodes

DECKER, F ; PILEGGI, R ; PASSERINI, S ; SCROSATI, B

Journal of the Electrochemical Society, 1991-11, Vol.138 (11), p.3182-3186 [Periódico revisado por pares]

Pennington, NJ: Electrochemical Society

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5
RC-interconnect macromodels for timing simulation
RC-interconnect macromodels for timing simulation
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

RC-interconnect macromodels for timing simulation

Dartu, F. ; Tutuianu, B. ; Pileggi, L.T.

33rd Design Automation Conference Proceedings, 1996, 1996, p.544-547

IEEE

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6
An explicit RC-circuit delay approximation based on the first three moments of the impulse response
An explicit RC-circuit delay approximation based on the first three moments of the impulse response
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

An explicit RC-circuit delay approximation based on the first three moments of the impulse response

Tutuianu, B. ; Dartu, F. ; Pileggi, L.

33rd Design Automation Conference Proceedings, 1996, 1996, p.611-616

IEEE

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7
Performance computation for precharacterized CMOS gates with RC loads
Performance computation for precharacterized CMOS gates with RC loads
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Performance computation for precharacterized CMOS gates with RC loads

Dartu, F. ; Menezes, N. ; Pileggi, L.T.

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1996-05, Vol.15 (5), p.544-553 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Clustering and load balancing for buffered clock tree synthesis
Clustering and load balancing for buffered clock tree synthesis
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Clustering and load balancing for buffered clock tree synthesis

Mehta, A.D. ; Yao-Ping Chen ; Menezes, N. ; Wong, D.F. ; Pilegg, L.T.

Proceedings International Conference on Computer Design VLSI in Computers and Processors, 1997, p.217-223

IEEE

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9
CMOS gate delay models for general RLC loading
CMOS gate delay models for general RLC loading
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

CMOS gate delay models for general RLC loading

Arunachalam, R. ; Dartu, F. ; Pileggi, L.T.

Proceedings International Conference on Computer Design VLSI in Computers and Processors, 1997, p.224-229

IEEE

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10
Calculating worst-case gate delays due to dominant capacitance coupling
Calculating worst-case gate delays due to dominant capacitance coupling
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Calculating worst-case gate delays due to dominant capacitance coupling

Dartu, Florentin ; Pileggi, Lawrence T.

Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 34th annual conference on Design automation; 09-13 June 1997, 1997, p.46-51

New York, NY, USA: ACM

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