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0–0 Energies Using Hybrid Schemes: Benchmarks of TD-DFT, CIS(D), ADC(2), CC2, and BSE/GW formalisms for 80 Real-Life Compounds
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0–0 Energies Using Hybrid Schemes: Benchmarks of TD-DFT, CIS(D), ADC(2), CC2, and BSE/GW formalisms for 80 Real-Life Compounds

Jacquemin, Denis ; Duchemin, Ivan ; Blase, Xavier

Journal of chemical theory and computation, 2015-11, Vol.11 (11), p.5340-5359 [Periódico revisado por pares]

United States: American Chemical Society

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Chionh, Eng-Wee

Journal of symbolic computation, 2008-06, Vol.43 (6), p.475-489 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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0.006 says it all
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Hancocks, S

British dental journal, 2002-07, Vol.193 (1), p.56-56 [Periódico revisado por pares]

England: Nature Publishing Group

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0.025% Capsaicin Gel for the Treatment of Painful Diabetic Neuropathy: A Randomized, Double-Blind, Crossover, Placebo-Controlled Trial
0.025% Capsaicin Gel for the Treatment of Painful Diabetic Neuropathy: A Randomized, Double-Blind, Crossover, Placebo-Controlled Trial
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0.025% Capsaicin Gel for the Treatment of Painful Diabetic Neuropathy: A Randomized, Double-Blind, Crossover, Placebo-Controlled Trial

Kulkantrakorn, Kongkiat ; Lorsuwansiri, Chakraphong ; Meesawatsom, Pongsatorn

Pain practice, 2013-07, Vol.13 (6), p.497-503 [Periódico revisado por pares]

United States: Blackwell Publishing Ltd

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5
0.05 MU-M (3-SIGMA) OVERLAY ACCURACY THROUGH-THE-LENS ALIGNMENT IN AN EXCIMER LASER LITHOGRAPHY SYSTEM
0.05 MU-M (3-SIGMA) OVERLAY ACCURACY THROUGH-THE-LENS ALIGNMENT IN AN EXCIMER LASER LITHOGRAPHY SYSTEM
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0.05 MU-M (3-SIGMA) OVERLAY ACCURACY THROUGH-THE-LENS ALIGNMENT IN AN EXCIMER LASER LITHOGRAPHY SYSTEM

HIGASHIKI, T ; TOJO, T ; TAKAHASHI, Y ; TABATA, M ; NISHIZAKA, T ; KUWABARA, O ; UCHIDA, N ; YOSHINO, H ; SAITO, S

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 1992, Vol.31 (12B), p.4161-4166 [Periódico revisado por pares]

MINATO-KU TOKYO: JAPAN J APPLIED PHYSICS

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0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments
0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments
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0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments

Cecchetto, Matteo ; Alia, Ruben Garcia ; Wrobel, Frederic ; Coronetti, Andrea ; Bilko, Kacper ; Lucsanyi, David ; Fiore, Salvatore ; Bazzano, Giulia ; Pirovano, Elisa ; Nolte, Ralf

IEEE transactions on nuclear science, 2021-05, Vol.68 (5), p.873-883 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm
A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm
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Zhang, Peiyong ; Su, Yuquan ; Yang, Yiwei

Circuits, systems, and signal processing, 2022-03, Vol.41 (3), p.1563-1576 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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A 0.0012 mm[sup.2] 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS
A 0.0012 mm[sup.2] 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS
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A 0.0012 mm[sup.2] 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS

An, Eun-Ji ; Oh, Dong-Ryeol

Electronics (Basel), 2022-06, Vol.11 (11) [Periódico revisado por pares]

MDPI AG

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A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
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A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor

Lee, Hokyu ; Kim, Kisoo ; Jung, Sangdon ; Song, Janghoon ; Kim, Jong-Kook ; Kim, Chulwoo

Analog integrated circuits and signal processing, 2010-08, Vol.64 (2), p.153-157 [Periódico revisado por pares]

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A 0.004% resolution & SAT<1.8 μson-chip adaptive anti-aging system using cuckoo intelligence-based algorithm in 65 nm CMOS
A 0.004% resolution & SAT<1.8 μson-chip adaptive anti-aging system using cuckoo intelligence-based algorithm in 65 nm CMOS
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Zhang, Yuejun ; Zhang, Haiming ; Wang, Pengjun ; Wu, Qiufeng ; Li, Gang

Integration (Amsterdam), 2021-05, Vol.78, p.135-143 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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Nome da Publicação 

  1. Ieee Access  (78.868)
  2. Plos One  (71.808)
  3. Science  (47.269)
  4. Analytical Chemistry  (39.109)
  5. Scientific Reports  (38.774)
  6. Sensors  (35.736)
  7. Nature  (30.998)
  8. Remote Sensing  (28.972)
  9. Applied Sciences  (26.911)
  10. International Journal Of Advanced Manufacturing Technology  (24.261)
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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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