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11
LiteRed 1.4: a powerful tool for reduction of multiloop integrals
LiteRed 1.4: a powerful tool for reduction of multiloop integrals
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LiteRed 1.4: a powerful tool for reduction of multiloop integrals

Lee, Roman N

Journal of physics. Conference series, 2014-06, Vol.523 (1), p.12059-8 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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12
Status and prospects of the 60 GHz SEISM ion source
Status and prospects of the 60 GHz SEISM ion source
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Status and prospects of the 60 GHz SEISM ion source

Andre, Thomas ; Angot, Julien ; Baylac, Maud ; Dumont, Pierre Olivier ; Lamy, Thierry ; Sole, Patrick ; Thuillier, Thomas ; Debray, Francois ; Izotov, Ivan ; Skalyga, Vadim

J.Phys.Conf.Ser, 2022-04, Vol.2244 (1), p.12014 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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H- and D- production efficiency in a multi-dipole ECR-plasma source as a function of gas pressure
H- and D- production efficiency in a multi-dipole ECR-plasma source as a function of gas pressure
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H- and D- production efficiency in a multi-dipole ECR-plasma source as a function of gas pressure

Mitrou, M ; Svarnas, P ; Béchu, S

Journal of physics. Conference series, 2022-04, Vol.2244 (1), p.12007 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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Mass distributions of ions extracted from target cavity confined plasmas produced by nanosecond laser pulses
Mass distributions of ions extracted from target cavity confined plasmas produced by nanosecond laser pulses
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Mass distributions of ions extracted from target cavity confined plasmas produced by nanosecond laser pulses

Hernandez, J E ; Wada, M

Journal of physics. Conference series, 2022-04, Vol.2244 (1), p.12081 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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Development of Quantum Dot Lasers for Data-Com and Silicon Photonics Applications
Development of Quantum Dot Lasers for Data-Com and Silicon Photonics Applications
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Development of Quantum Dot Lasers for Data-Com and Silicon Photonics Applications

Nishi, Kenichi ; Takemasa, Keizo ; Sugawara, Mitsuru ; Arakawa, Yasuhiko

IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2017-11, Vol.23 (6), p.1-7 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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16
Increasing integration scale of superconductor electronics beyond one million Josephson junctions
Increasing integration scale of superconductor electronics beyond one million Josephson junctions
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Increasing integration scale of superconductor electronics beyond one million Josephson junctions

Tolpygo, Sergey K ; Semenov, Vasili K

Journal of physics. Conference series, 2020-06, Vol.1559 (1), p.12002 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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Switchable Dual-Wavelength Cylindrical Vector Beam Generation From a Passively Mode-Locked Fiber Laser Based on Carbon Nanotubes
Switchable Dual-Wavelength Cylindrical Vector Beam Generation From a Passively Mode-Locked Fiber Laser Based on Carbon Nanotubes
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Switchable Dual-Wavelength Cylindrical Vector Beam Generation From a Passively Mode-Locked Fiber Laser Based on Carbon Nanotubes

Zhang, Zuxing ; Cai, Yu ; Wang, Jie ; Wan, Hongdan ; Zhang, Lin

IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2018-05, Vol.24 (3), p.1-6 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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18
Heterogeneous Thin-Film Lithium Niobate Integrated Photonics for Electrooptics and Nonlinear Optics
Heterogeneous Thin-Film Lithium Niobate Integrated Photonics for Electrooptics and Nonlinear Optics
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Heterogeneous Thin-Film Lithium Niobate Integrated Photonics for Electrooptics and Nonlinear Optics

Rao, Ashutosh ; Fathpour, Sasan

IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2018-11, Vol.24 (6), p.1-12 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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19
Machine Learning Interpretability: A Survey on Methods and Metrics
Machine Learning Interpretability: A Survey on Methods and Metrics
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Machine Learning Interpretability: A Survey on Methods and Metrics

Carvalho, Diogo V. ; Pereira, Eduardo M. ; Cardoso, Jaime S.

Electronics (Basel), 2019-08, Vol.8 (8), p.832 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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20
Conduction Mechanism of Valence Change Resistive Switching Memory: A Survey
Conduction Mechanism of Valence Change Resistive Switching Memory: A Survey
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Conduction Mechanism of Valence Change Resistive Switching Memory: A Survey

Lim, Ee ; Ismail, Razali

Electronics, 2015-09, Vol.4 (3), p.586-613 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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