Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Ata de Congresso
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0/1 Knapsack on Hardware: A Complete SolutionNibbelink, K. ; Rajopadhye, S. ; McConnell, R.2007 IEEE International Conf. on Application-specific Systems, Architectures and Processors (ASAP), 2007, p.160-167IEEETexto completo disponível |
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Material Type: magazinearticle
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0:1-0:59! Here they are: the 59 hottest cars, trucks, and concepts headed your way in 2006 and beyond. And if you can't find anything you want to beg, borrow, or steal the keys for on the next 50 pages, check if you still have a pulse.(Buyers Guide)Motor trend, 2006-03, Vol.58 (3), p.80Motor Trend GroupTexto completo disponível |
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Material Type: magazinearticle
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0:1-0:59! Here they are: the 59 hottest cars, trucks, and concepts headed your way in 2006 and beyond. And if you can't find anything you want to beg, borrow, or steal the keys for on the next 50 pages, check if you still have a pulse.(Buyers Guide)Motor trend, 2006-03, Vol.58 (3), p.39Motor Trend GroupTexto completo disponível |
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Material Type: Ata de Congresso
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0.1 μm RFCMOS on high resistivity substrates for system on chip (SOC) applicationsYANG, J.-Y ; BENAISSA, K ; ASHBURN, S ; MADHANI, P ; BLYTHE, T ; SHICHIJO, H ; CRENSHAW, D ; WILLIAMS, B ; SRIDHAR, S ; AI, J ; BOSELLI, G ; ZHAO, S ; TANG, S.-P ; MAHALINGAM, NPiscataway NJ: IEEE 2002Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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0.13-[micro]m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficient redundancy and enhanced testabilityKikukawa, H ; Tomishima, S ; Tsuji, T ; Kawasaki, T ; Sakamoto, S ; Ishikawa, M ; Abe, W ; Tanizaki, H ; Kato, H ; Uchikoba, T ; Inokuchi, T ; Senoh, M ; Fukushima, Y ; Nirro, M ; Maruta, M ; Shibayama, A ; Ooishi, T ; Takahashi, K ; Hidaka, HIEEE journal of solid-state circuits, 2002-07, Vol.37 (7), p.932 [Periódico revisado por pares]New York: The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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0.13-mu m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficientredundancy and enhanced testabilityKikukawa, H ; Tomishima, S ; Tsuji, T ; Kawasaki, T ; Sakamoto, S ; Ishikawa, M ; Abe, W ; Tanizaki, H ; Kato, H ; Uchikoba, T ; Inokuchi, T ; Senoh, M ; Fukushima, Y ; Nirro, M ; Maruta, M ; Shibayama, A ; Ooishi, T ; Takahashi, K ; Hidaka, HIEEE journal of solid-state circuits, 2002-07, Vol.37 (7), p.932-940 [Periódico revisado por pares]Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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0.13-/spl mu/m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficient redundancy and enhanced testabilityKikukawa, H. ; Tomishima, S. ; Tsuji, T. ; Kawasaki, T. ; Sakamoto, S. ; Ishikawa, M. ; Abe, W. ; Tanizaki, H. ; Kato, H. ; Uchikoba, T. ; Inokuchi, T. ; Senoh, M. ; Fukushima, Y. ; Nirro, M. ; Maruta, M. ; Shibayama, A. ; Ooishi, T. ; Takahashi, K. ; Hidaka, H.IEEE journal of solid-state circuits, 2002-07, Vol.37 (7), p.932-940 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Livro
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1/1, Architektur und Design neue Synergien = Architecture and design : new synergiesRobert Wilson 1941-; Ingenhoven Overdiek und Partner; KMS TeamBasel Birkhäuser Boston c2001Localização: IAU - Inst. Arquitetura e Urbanismo (720 O58 e.2 )(Acessar) |
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Material Type: Livro
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10 x 10Vivian Constantinopoulos; Iona BairdLondon Phaidon 2000Localização: FAU - Fac. Arquitetura e Urbanismo (724.9 T25 e.2 )(Acessar) |
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Material Type: Produção Artística
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100 anos de ensino de arquitetura e urbanismo em São Paulo catálogo da exposição, realizada no Museu da Casa Brasileira, Secretaria de Estado da Cultura, setembro de 1996Nestor Goulart Reis Filho; Universidade de São Paulo Faculdade de Arquitetura e Urbanismo; Museu da Casa BrasileiraSão Paulo, Brazil Comissão de Cultura e Extensão Universitária, Faculdade de Arquitetura e Urbanismo, Universidade de São Paulo 1996Localização: IEB - Inst. Estudos Brasileiros (MES 707.4 MCBS986c ex.2 )(Acessar) |