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1.55-μm resonant cavity enhanced photodiode based on MBE grown Ge quantum dots
1.55-μm resonant cavity enhanced photodiode based on MBE grown Ge quantum dots
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1.55-μm resonant cavity enhanced photodiode based on MBE grown Ge quantum dots

Yu, J. ; Kasper, E. ; Oehme, M.

Thin solid films, 2006-06, Vol.508 (1), p.396-398 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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172 nm excimer VUV-triggered photodegradation and micropatterning of aminosilane films
172 nm excimer VUV-triggered photodegradation and micropatterning of aminosilane films
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172 nm excimer VUV-triggered photodegradation and micropatterning of aminosilane films

Elsner, Christian ; Naumov, Sergej ; Zajadacz, Joachim ; Buchmeiser, Michael R.

Thin solid films, 2009-10, Vol.517 (24), p.6772-6776 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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[1]Benzothieno[3,2-b][1]benzothiophenes- and dinaphtho[2,3-b:2′,3′-f]thieno[3,2-b]thiophene-based organic semiconductors for stable, high-performance organic thin-film transistor materials
[1]Benzothieno[3,2-b][1]benzothiophenes- and dinaphtho[2,3-b:2′,3′-f]thieno[3,2-b]thiophene-based organic semiconductors for stable, high-performance organic thin-film transistor materials
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[1]Benzothieno[3,2-b][1]benzothiophenes- and dinaphtho[2,3-b:2′,3′-f]thieno[3,2-b]thiophene-based organic semiconductors for stable, high-performance organic thin-film transistor materials

Takimiya, Kazuo ; Yamamoto, Tatsuya ; Ebata, Hideaki ; Izawa, Takafumi

Thin solid films, 2014-03, Vol.554, p.13-18 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2-D hole gas with two-subband occupation in a strained Ge channel: Scattering mechanisms
2-D hole gas with two-subband occupation in a strained Ge channel: Scattering mechanisms
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2-D hole gas with two-subband occupation in a strained Ge channel: Scattering mechanisms

Rössner, Benjamin ; von Känel, Hans ; Chrastina, Daniel ; Isella, Giovanni ; Batlogg, Bertram

Thin solid films, 2006-06, Vol.508 (1), p.351-354 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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2-in-1 red-/green-/blue sensitive a-SiC:H/a-Si:H/a-SiGeC:H thin film photo detector with an integrated optical filter
2-in-1 red-/green-/blue sensitive a-SiC:H/a-Si:H/a-SiGeC:H thin film photo detector with an integrated optical filter
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2-in-1 red-/green-/blue sensitive a-SiC:H/a-Si:H/a-SiGeC:H thin film photo detector with an integrated optical filter

Bablich, A. ; Merfort, C. ; Schäfer-Eberwein, H. ; Haring-Bolivar, P. ; Boehm, M.

Thin solid films, 2014-02, Vol.552, p.212-217 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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16
2 MeV electron irradiation effects on bulk and interface of atomic layer deposited high-k gate dielectrics on silicon
2 MeV electron irradiation effects on bulk and interface of atomic layer deposited high-k gate dielectrics on silicon
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2 MeV electron irradiation effects on bulk and interface of atomic layer deposited high-k gate dielectrics on silicon

GARCIA, H ; CASTAN, H ; TSUNODA, I ; DUENAS, S ; BAILON, L ; CAMPABADAL, F ; RAFI, J. M ; ZABALA, M ; BELDARRAIN, O ; OHYAMA, H ; TAKAKURA, K

Thin solid films, 2013-05, Vol.534, p.482-487 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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2 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structures
2 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structures
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2 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structures

Osipowicz, T. ; Teo, E.J. ; Bettiol, A.A. ; Watt, F. ; Hao, M.S. ; Chua, S.J.

Thin solid films, 2003-01, Vol.424 (1), p.139-142 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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[2.2]Paracyclophane-based molecular systems for the development of organic solar cells
[2.2]Paracyclophane-based molecular systems for the development of organic solar cells
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[2.2]Paracyclophane-based molecular systems for the development of organic solar cells

Valentini, L. ; Marrocchi, A. ; Seri, M. ; Mengoni, F. ; Meloni, F. ; Taticchi, A. ; Kenny, J.M.

Thin solid films, 2008-08, Vol.516 (20), p.7193-7198 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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248 nm laser interaction studies on LaF3/MgF2 optical coatings by cross-sectional transmission electron microscopy
248 nm laser interaction studies on LaF3/MgF2 optical coatings by cross-sectional transmission electron microscopy
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248 nm laser interaction studies on LaF3/MgF2 optical coatings by cross-sectional transmission electron microscopy

Czigány, Zs ; Adamik, M. ; Kaiser, N.

Thin solid films, 1998-01, Vol.312 (1-2), p.176-181 [Periódico revisado por pares]

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3-D focused ion beam mapping of nanoindentation zones in a Cu–Ti multilayered coating
3-D focused ion beam mapping of nanoindentation zones in a Cu–Ti multilayered coating
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3-D focused ion beam mapping of nanoindentation zones in a Cu–Ti multilayered coating

Steer, T.J. ; Möbus, G. ; Kraft, O. ; Wagner, T. ; Inkson, B.J.

Thin solid films, 2002-06, Vol.413 (1), p.147-154 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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