skip to main content
Idioma:
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Refinado por: Base de dados/Biblioteca: Aerospace Database remover Nome da Publicação: Ieee Transactions On Nuclear Science remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments
0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments

Cecchetto, Matteo ; Alia, Ruben Garcia ; Wrobel, Frederic ; Coronetti, Andrea ; Bilko, Kacper ; Lucsanyi, David ; Fiore, Salvatore ; Bazzano, Giulia ; Pirovano, Elisa ; Nolte, Ralf

IEEE transactions on nuclear science, 2021-05, Vol.68 (5), p.873-883 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
A Hybrid Approach to FPGA Configuration Scrubbing
A Hybrid Approach to FPGA Configuration Scrubbing
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Hybrid Approach to FPGA Configuration Scrubbing

Stoddard, Aaron ; Gruwell, Ammon ; Zabriskie, Peter ; Wirthlin, Michael J.

IEEE transactions on nuclear science, 2017-01, Vol.64 (1), p.497-503 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices

Girones, Vincent ; Boch, Jerome ; Carapelle, Alain ; Chapon, Arnaud ; Maraine, Tadec ; Labau, Timothee ; Saigne, Frederic ; Alia, Ruben Garcia

IEEE transactions on nuclear science, 2023-01, Vol.70 (8), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon-Part II: Generation and Long-Time Relaxation of Damage Structure
Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon-Part II: Generation and Long-Time Relaxation of Damage Structure
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon-Part II: Generation and Long-Time Relaxation of Damage Structure

Jay, Antoine ; Raine, Melanie ; Richard, Nicolas ; Mousseau, Normand ; Goiffon, Vincent ; Hemeryck, Anne ; Magnan, Pierre

IEEE transactions on nuclear science, 2017-01, Vol.64 (1), p.141-148 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
A Simple Low-Dose X-Ray CT Simulation From High-Dose Scan
A Simple Low-Dose X-Ray CT Simulation From High-Dose Scan
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Simple Low-Dose X-Ray CT Simulation From High-Dose Scan

Zeng, Dong ; Huang, Jing ; Bian, Zhaoying ; Niu, Shanzhou ; Zhang, Hua ; Feng, Qianjin ; Liang, Zhengrong ; Ma, Jianhua

IEEE transactions on nuclear science, 2015-10, Vol.62 (5), p.2226-2233 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
A New RadMon Version for the LHC and its Injection Lines
A New RadMon Version for the LHC and its Injection Lines
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A New RadMon Version for the LHC and its Injection Lines

Spiezia, G. ; Peronnard, P. ; Masi, A. ; Brugger, M. ; Brucoli, M. ; Danzeca, S. ; Alia, R. Garcia ; Losito, R. ; Mekki, J. ; Oser, P. ; Gaillard, R. ; Dusseau, L.

IEEE transactions on nuclear science, 2014-12, Vol.61 (6), p.3424-3431 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
Total-Ionizing-Dose Effects in Modern CMOS Technologies
Total-Ionizing-Dose Effects in Modern CMOS Technologies
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Total-Ionizing-Dose Effects in Modern CMOS Technologies

Barnaby, H.J.

IEEE transactions on nuclear science, 2006-12, Vol.53 (6), p.3103-3121 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
A 3.9-ps RMS Precision Time-to-Digital Converter Using Ones-Counter Encoding Scheme in a Kintex-7 FPGA
A 3.9-ps RMS Precision Time-to-Digital Converter Using Ones-Counter Encoding Scheme in a Kintex-7 FPGA
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 3.9-ps RMS Precision Time-to-Digital Converter Using Ones-Counter Encoding Scheme in a Kintex-7 FPGA

Wang, Yonggang ; Kuang, Jie ; Liu, Chong ; Cao, Qiang

IEEE transactions on nuclear science, 2017-10, Vol.64 (10), p.2713-2718 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators
Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Neural Networks for Modeling and Control of Particle Accelerators

Edelen, A. L. ; Biedron, S. G. ; Chase, B. E. ; Edstrom, D. ; Milton, S. V. ; Stabile, P.

IEEE transactions on nuclear science, 2016-04, Vol.63 (2), p.878-897 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
CHARM: A Mixed Field Facility at CERN for Radiation Tests in Ground, Atmospheric, Space and Accelerator Representative Environments
CHARM: A Mixed Field Facility at CERN for Radiation Tests in Ground, Atmospheric, Space and Accelerator Representative Environments
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

CHARM: A Mixed Field Facility at CERN for Radiation Tests in Ground, Atmospheric, Space and Accelerator Representative Environments

Mekki, J. ; Brugger, M. ; Alia, R. G. ; Thornton, A. ; Dos Santos Mota, N. C. ; Danzeca, S.

IEEE transactions on nuclear science, 2016-08, Vol.63 (4), p.2106-2114 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de1981  (457)
  2. 1981Até1990  (827)
  3. 1991Até2000  (858)
  4. 2001Até2011  (4.931)
  5. Após 2011  (3.454)
  6. Mais opções open sub menu

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.