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(0 0 2)-oriented growth and morphologies of ZnO thin films prepared by sol-gel method
(0 0 2)-oriented growth and morphologies of ZnO thin films prepared by sol-gel method
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(0 0 2)-oriented growth and morphologies of ZnO thin films prepared by sol-gel method

Guo, Dongyun ; Ju, Yang ; Fu, Chengju ; Huang, Zhixiong ; Zhang, Lianmeng

Materials science--Poland, 2016-09, Vol.34 (3), p.555-563 [Periódico revisado por pares]

De Gruyter

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2
(0, ±1) ideal matrices
(0, ±1) ideal matrices
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(0, ±1) ideal matrices

NOBILI, P ; SASSANO, A

Mathematical programming, 1998-02, Vol.80 (3), p.265-281 [Periódico revisado por pares]

Heidelberg: Springer

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3
A 0–1 integer linear programming approach to schedule outages of nuclear power plants
A 0–1 integer linear programming approach to schedule outages of nuclear power plants
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A 0–1 integer linear programming approach to schedule outages of nuclear power plants

Jost, V. ; Savourey, D.

Journal of scheduling, 2013-12, Vol.16 (6), p.551-566 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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4
A 0–1 knapsack problem-based approach for solving open-pit mining problem with type-2 fuzzy parameters
A 0–1 knapsack problem-based approach for solving open-pit mining problem with type-2 fuzzy parameters
Material Type:
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A 0–1 knapsack problem-based approach for solving open-pit mining problem with type-2 fuzzy parameters

Pramanik, Aparna ; Changdar, Chiranjit ; Khan, Abhinandan ; Chatterjee, Snehamoy ; Pal, Rajat Kumar ; Sahana, Sudip Kumar

Innovations in systems and software engineering, 2022-11 [Periódico revisado por pares]

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5
A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm
A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm

Zhang, Peiyong ; Su, Yuquan ; Yang, Yiwei

Circuits, systems, and signal processing, 2022-03, Vol.41 (3), p.1563-1576 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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6
A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
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A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor

Lee, Hokyu ; Kim, Kisoo ; Jung, Sangdon ; Song, Janghoon ; Kim, Jong-Kook ; Kim, Chulwoo

Analog integrated circuits and signal processing, 2010-08, Vol.64 (2), p.153-157 [Periódico revisado por pares]

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7
A 0.003-mm2, 0.35-V, 82-pJ/conversion ultra-low power CMOS all digital temperature sensor for on-die thermal management
A 0.003-mm2, 0.35-V, 82-pJ/conversion ultra-low power CMOS all digital temperature sensor for on-die thermal management
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A 0.003-mm2, 0.35-V, 82-pJ/conversion ultra-low power CMOS all digital temperature sensor for on-die thermal management

Kim, Yongtae ; Li, Peng

Analog integrated circuits and signal processing, 2013-04, Vol.75 (1), p.147-156 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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8
A 0.012 mm super(2) and 2.5 mW bang-bang digital PLL using pseudo random number generator
A 0.012 mm super(2) and 2.5 mW bang-bang digital PLL using pseudo random number generator
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A 0.012 mm super(2) and 2.5 mW bang-bang digital PLL using pseudo random number generator

Hong, Jong-Phil

Analog integrated circuits and signal processing, 2016-01, Vol.86 (1), p.39-50 [Periódico revisado por pares]

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9
A 0.03 mm super(2) delta-sigma modulator with cascaded-inverter amplifier
A 0.03 mm super(2) delta-sigma modulator with cascaded-inverter amplifier
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A 0.03 mm super(2) delta-sigma modulator with cascaded-inverter amplifier

Wang, Zhidong ; Duan, Quanzhen ; Roh, Jeongjin

Analog integrated circuits and signal processing, 2014-11, Vol.81 (2), p.495-501 [Periódico revisado por pares]

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10
A 0.058 mm 2 24 μ W Temperature Sensor in 40 nm CMOS Process with ± 0.5 ∘ C Inaccuracy from − 55 to 175 ∘ C
A 0.058 mm 2 24 μ W Temperature Sensor in 40 nm CMOS Process with ± 0.5 ∘ C Inaccuracy from − 55 to 175 ∘ C
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A 0.058 mm 2 24 μ W Temperature Sensor in 40 nm CMOS Process with ± 0.5 ∘ C Inaccuracy from − 55 to 175 ∘ C

Zhu, Di ; Siek, Liter

Circuits, systems, and signal processing, 2018-06, Vol.37 (6), p.2278-2298 [Periódico revisado por pares]

Cambridge: Springer Nature B.V

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