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The effect of (CeO2: PVC) thin interfacial film on the electrical features in Au/n-Si Schottky barrier diodes (SBDs) by using current–voltage measurements
The effect of (CeO2: PVC) thin interfacial film on the electrical features in Au/n-Si Schottky barrier diodes (SBDs) by using current–voltage measurements
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The effect of (CeO2: PVC) thin interfacial film on the electrical features in Au/n-Si Schottky barrier diodes (SBDs) by using current–voltage measurements

Ganj, Tohid ; Rozati, Seyed Mohammad ; Azizian-Kalandaragh, Yashar ; Pirgholi-Givi, Golamreza ; Altındal, Şemsettin

Journal of materials science. Materials in electronics, 2023-03, Vol.34 (8), p.752, Article 752 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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Analyzing the fractal feature of nickel thin films surfaces modified by low energy nitrogen ion: Determination of micro‐morphologies by atomic force microscopy (AFM)
Analyzing the fractal feature of nickel thin films surfaces modified by low energy nitrogen ion: Determination of micro‐morphologies by atomic force microscopy (AFM)
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Analyzing the fractal feature of nickel thin films surfaces modified by low energy nitrogen ion: Determination of micro‐morphologies by atomic force microscopy (AFM)

Ţălu, Ştefan ; Yadav, Ram Pratap ; Ali, Arman ; Alireza Grayeli Korpi ; Sobola, Dinara ; Ţălu, Mihai ; Rezaee, Sahare ; Achour, Amine ; Jurečka, Stanislav ; Mardani, Mohsen

Vakuum in Forschung und Praxis : Zeitschrift für Vakuumtechnologie, Oberflèachen und Dünne Schichten, 2019-02, Vol.31 (1), p.30-35

Weinheim: Wiley Subscription Services, Inc

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On the use of computable features for film classification
On the use of computable features for film classification
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On the use of computable features for film classification

Rasheed, Z. ; Sheikh, Y. ; Shah, M.

IEEE transactions on circuits and systems for video technology, 2005-01, Vol.15 (1), p.52-64 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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14
Confocal sputtering of conformal α-β phase W films on etched Al features
Confocal sputtering of conformal α-β phase W films on etched Al features
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Confocal sputtering of conformal α-β phase W films on etched Al features

Kreikebaum, John Mark ; Cabrera, Blas ; Yen, Jeffrey J. ; Brink, Paul L. ; Cherry, Matt ; Tomada, Astrid ; Young, Betty A.

Journal of vacuum science and technology. B, Nanotechnology & microelectronics, 2015-01, Vol.33 (1) [Periódico revisado por pares]

United States: American Vacuum Society

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15
Assessment of thermal annealing on structural, electrical, optical and surface topographical features of titania films for solar cells
Assessment of thermal annealing on structural, electrical, optical and surface topographical features of titania films for solar cells
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Assessment of thermal annealing on structural, electrical, optical and surface topographical features of titania films for solar cells

Agarwal, Reema ; Himanshu ; Ameta, C. ; Dhaka, M. S.

Journal of materials science. Materials in electronics, 2023-10, Vol.34 (28), p.1974, Article 1974 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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16
Fast classification of meat spoilage markers using nanostructured ZnO thin films and unsupervised feature learning
Fast classification of meat spoilage markers using nanostructured ZnO thin films and unsupervised feature learning
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Fast classification of meat spoilage markers using nanostructured ZnO thin films and unsupervised feature learning

Längkvist, Martin ; Coradeschi, Silvia ; Loutfi, Amy ; Rayappan, John Bosco Balaguru

Sensors (Basel, Switzerland), 2013-01, Vol.13 (2), p.1578-1592 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

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17
Influence of heat treatment on H2S gas sensing features of NiO thin films deposited via thermal evaporation technique
Influence of heat treatment on H2S gas sensing features of NiO thin films deposited via thermal evaporation technique
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Influence of heat treatment on H2S gas sensing features of NiO thin films deposited via thermal evaporation technique

Dastan, Davoud ; shan, Ke ; Jafari, Azadeh ; Marszalek, Tomasz ; Mohammed, Mustafa K.A. ; Tao, Lin ; Shi, Zhicheng ; Chen, Yingxin ; Yin, Xi-Tao ; Alharbi, Najlaa D. ; Gity, Farzan ; Asgary, Somayeh ; Hatamvand, Mohammad ; Ansari, Lida

Materials science in semiconductor processing, 2023-02, Vol.154, p.107232, Article 107232 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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18
Pulsed laser ablation of electrically insulated features in thin NiCr films
Pulsed laser ablation of electrically insulated features in thin NiCr films
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Pulsed laser ablation of electrically insulated features in thin NiCr films

Mao, Ningyue ; Enrique, Pablo D. ; Peng, Peng

International journal of advanced manufacturing technology, 2023-10, Vol.128 (11-12), p.5167-5177 [Periódico revisado por pares]

London: Springer London

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Some dynamic features of ferroelectric thin films
Some dynamic features of ferroelectric thin films
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Some dynamic features of ferroelectric thin films

Levi, M O ; Kalinchuk, V V ; Shirokov, V B

Journal of physics. Conference series, 2019-08, Vol.1260 (9), p.92004 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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Feature Film
Feature Film
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Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Feature Film

Vanzi, Pio Francesco Casetti ; Silvio Alovisio ; Luca Mazzei ; Casetti, Francesco ; Mazzei, Luca ; Alovisio, Silvio

Early Film Theories in Italy 1896-1922, 2017, p.411-420

Amsterdam: Amsterdam University Press

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