1
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Material Type: Artigo
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Estimation of optical parameters of very thin films
Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez; S. D Ventura
Applied Numerical Mathematics Amsterdam v. 47, n. 2, p. 109-119, 2003
Amsterdam 2003
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1345542 )(Acessar)
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2
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Material Type: Artigo
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Estimation of optical parameters of very thin films
Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez; S. D Ventura
Applied Numerical Mathematics Amsterdam v. 47, n. 2, p. 109-119, 2003
Amsterdam 2003
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1345542 )(Acessar)
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3
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Material Type: Artigo
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Estimation of the optical constants and the thickness of thin films using unconstrained optimization
Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez
Journal of Computational Physics Maryland Heights v. 151, n. 2, p. 862-880, 1999
Maryland Heights 1999
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1084764 )(Acessar)
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4
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Material Type: Artigo
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Estimation of the optical constants and the thickness of thin films using unconstrained optimization
Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez
Journal of Computational Physics Maryland Heights v. 151, n. 2, p. 862-880, 1999
Maryland Heights 1999
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1084764 )(Acessar)
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5
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Material Type: Artigo
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Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization
Ricardo Luiz de Andrade Abrantes Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura
Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008
Washington 2008
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1722632 )(Acessar)
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6
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Material Type: Artigo
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Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization
Ricardo Luiz de Andrade Abrantes Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura
Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008
Washington 2008
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1722632 )(Acessar)
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7
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Material Type: Artigo
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Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron
Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005
Melville 2005
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1436903 )(Acessar)
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8
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Material Type: Artigo
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Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron
Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005
Melville 2005
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1436903 )(Acessar)
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9
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Material Type: Artigo
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Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate
Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez
Journal of Computational and Applied Mathematics Amsterdam v. 152, n. 1/2, p. 35-50, 2003
Amsterdam 2003
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1310768 )(Acessar)
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10
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Material Type: Artigo
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Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate
Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez
Journal of Computational and Applied Mathematics Amsterdam v. 152, n. 1/2, p. 35-50, 2003
Amsterdam 2003
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-1310768 )(Acessar)
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