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Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Estimation of optical parameters of very thin films

Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez; S. D Ventura

Applied Numerical Mathematics Amsterdam v. 47, n. 2, p. 109-119, 2003

Amsterdam 2003

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1345542 )(Acessar)

2
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Artigo
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Estimation of optical parameters of very thin films

Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez; S. D Ventura

Applied Numerical Mathematics Amsterdam v. 47, n. 2, p. 109-119, 2003

Amsterdam 2003

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1345542 )(Acessar)

3
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Artigo
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Estimation of the optical constants and the thickness of thin films using unconstrained optimization

Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez

Journal of Computational Physics Maryland Heights v. 151, n. 2, p. 862-880, 1999

Maryland Heights 1999

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1084764 )(Acessar)

4
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Artigo
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Estimation of the optical constants and the thickness of thin films using unconstrained optimization

Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez

Journal of Computational Physics Maryland Heights v. 151, n. 2, p. 862-880, 1999

Maryland Heights 1999

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5
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Artigo
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Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization

Ricardo Luiz de Andrade Abrantes Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura

Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008

Washington 2008

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1722632 )(Acessar)

6
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Artigo
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Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization

Ricardo Luiz de Andrade Abrantes Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura

Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008

Washington 2008

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1722632 )(Acessar)

7
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Artigo
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Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data

S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron

Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005

Melville 2005

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1436903 )(Acessar)

8
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Artigo
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Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data

S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron

Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005

Melville 2005

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1436903 )(Acessar)

9
Material Type:
Artigo
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Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate

Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez

Journal of Computational and Applied Mathematics Amsterdam v. 152, n. 1/2, p. 35-50, 2003

Amsterdam 2003

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1310768 )(Acessar)

10
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Artigo
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Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate

Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez

Journal of Computational and Applied Mathematics Amsterdam v. 152, n. 1/2, p. 35-50, 2003

Amsterdam 2003

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1310768 )(Acessar)

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