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Refinado por: Nome da Publicação: APPLIED PHYSICS B remover assunto: Fotônica remover assunto: Laser remover
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Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples
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Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples

M. L. Miguez E. C Barbano; J. A Coura; Sérgio Carlos Zílio; Lino Misoguti

Applied Physics B Heildelberg : Springer v. 120, n. 4, p. 653-658, Sept. 2015

Heidelberg 2015

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD023798 )(Acessar)

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  1. Barbano, E
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Neste Assunto:

  1. Laser
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  4. Laser
  5. Fotônica

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