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1 Adaptive Systems in Floating-Gate CMOS Technology
1 Adaptive Systems in Floating-Gate CMOS Technology
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1 Adaptive Systems in Floating-Gate CMOS Technology

Figueroa Toro, Dr. Miguel

2006 3rd International Conference on Electrical and Electronics Engineering, 2006, p.25-25

IEEE

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2
1-D compact neural networks for wireless communication and mobile computing
1-D compact neural networks for wireless communication and mobile computing
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1-D compact neural networks for wireless communication and mobile computing

Sheu, B.J. ; Chen, D.C.

1996 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 1996, Vol.3, p.551-554 vol.3

IEEE

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3
1-D Convolutional Neural Networks for Touch Modalities Classification
1-D Convolutional Neural Networks for Touch Modalities Classification
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1-D Convolutional Neural Networks for Touch Modalities Classification

Gianoglio, Christian ; Ragusa, Edoardo ; Zunino, Rodolfo ; Valle, Maurizio

2021 28th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (ICECS), 2021, p.1-6

IEEE

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4
1-D multiplierless phase retrieval using recurrent neural networks
1-D multiplierless phase retrieval using recurrent neural networks
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1-D multiplierless phase retrieval using recurrent neural networks

Burian, A. ; Takala, J. ; Cirlugea, M.

2003 46th Midwest Symposium on Circuits and Systems, 2003, Vol.2, p.982-985 Vol. 2

IEEE

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5
1/f Noise Modeling in a-Si TFTs by BSIM Software
1/f Noise Modeling in a-Si TFTs by BSIM Software
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1/f Noise Modeling in a-Si TFTs by BSIM Software

Rhayem, J. ; Rigaud, D. ; Contaret, T. ; Valenza, M. ; Szydlo, N. ; Lebrun, H.

30th European Solid-State Device Research Conference, 2000, p.152-155

Editions Frontieres

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6
10 Shades of Severity: A CNN-Random Forest Fusion for Kiwi Black Spot Disease Detection
10 Shades of Severity: A CNN-Random Forest Fusion for Kiwi Black Spot Disease Detection
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10 Shades of Severity: A CNN-Random Forest Fusion for Kiwi Black Spot Disease Detection

Sharma, Harsh ; Kumar, Ankit ; Singh, Jaspreet ; Kukreja, Vinay

2024 International Conference on Automation and Computation (AUTOCOM), 2024, p.47-51

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7
100% defect inspection with neural network integrated system of in-situ particle monitor and surfscan
100% defect inspection with neural network integrated system of in-situ particle monitor and surfscan
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

100% defect inspection with neural network integrated system of in-situ particle monitor and surfscan

Chen, V.M.C. ; Chow, A.W. ; Yung-Tao Lin ; Yeng-Kaung Peng

1997 2nd International Workshop on Statistical Metrology, 1997, p.48-51

IEEE

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8
100 laser beam array phase-locked in a neural network loop
100 laser beam array phase-locked in a neural network loop
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

100 laser beam array phase-locked in a neural network loop

Boju, Alexandre ; Shpakovych, Maksym ; Maulion, Geoffrey ; Kermene, Vincent ; Armand, Paul ; Desfarges-Berthelemot, Agnes ; Barthelemy, Alain

2021 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC), 2021, p.1-1

IEEE

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9
10000 cell placement optimization using a self-organizing map
10000 cell placement optimization using a self-organizing map
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

10000 cell placement optimization using a self-organizing map

Takahashi, M. ; Kyuma, K. ; Funada, E.

International Joint Conference on Neural Networks, Nagoya, 1993, 1993, Vol.3, p.2417-2420 vol.3

IEEE

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10
A 0.23mW Heterogeneous Deep-Learning Processor Supporting Dynamic Execution of Conditional Neural Networks
A 0.23mW Heterogeneous Deep-Learning Processor Supporting Dynamic Execution of Conditional Neural Networks
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A 0.23mW Heterogeneous Deep-Learning Processor Supporting Dynamic Execution of Conditional Neural Networks

Wu, Hsi-Shou ; Zhang, Zhengya ; Papaefthymiou, Marios

ESSCIRC 2018 - IEEE 44th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC), 2018, p.162-165

IEEE

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